Способ исследования дисперсных систем фазовоконтрастным микроскопированием
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 280917
Авторы: Грлдо, Каменска, Новосибирский, Старикин
Текст
280917 ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социглистичесиих РеспублииЗависимое от авт. свидетельстваКл. 421 т, 15/О Заявлено 02 Х.1969 ( 1339836/31-16) соединением заявкиКомитет по деламизобретений и атирыти и 27/00 МПК П т 16-073,175 (О О Бюччетень28 Опубликовано 03.1 Х. и Совете Министра СССРАвторытзобретепня аменская, В, П. Казначеев, Ю. А. Старикин и А, Новосибирский государственный медицинский инс Заявите ПЕРСНЫХ СИСТЕМ ОСКОПИРОВАНИЕМ СПОСОБ ИССА ЕДОВАНИЯ ФАЗОВОКОНТРАСТНЫМ М ло 20,чвт, что обеспечивает повышение температуры в районе конца электрода на 3 - 4 С.Г 1 ри включении тока в системе возникают микроконвекциопные потоки, и в исследуемой 5 области возрасгает концентрация взвешенныхчастиц. Процесс движения частиц сопровождается измерением их пространственной ориентации, чго позволяет рассматривать частицы при различной плотности. Регулируя сте пень нагрева можно менять концентрацию частиц в наб.подаемой области и регулировать скоросгь их движения. Перемещая электрод, можно исследовать различные микрорайоны,Способ исследования дпсперсшгх систем фазовоконтрастным мпкроскопированпем, отлачаюшипся тем, что, с целью исследования подвижности часгиц в среде путем концентрации их в поле зрения микроскопа и наблюдения при различной ориентации, в исследуемую систему вводят микроэлектрод и, подавая на пего ток, производят наблюдение. Изобретение относится к биофизике.Известные способы исследования дисперсных сисгем фазовоконтрастным микроскопированием позволяк т наблюдать частицы, находящиеся в весьма тонком слое жидкости, при этом глубина резкости просматриваемой области среды невелика.Для исследования подвижности частиц в среде путем концентрации их в поле зрения микроскопа и наблюдения при различной ориентации предлагается в исследуемую сисгему вводить микроэлектрод и, подавая на него ток, производить наблюдение.Для исследования в соответствии с предлагаемым способом в плоскую кювету заливают 0,1 - 0,2 лтл исследуемой среды и устанавливают ее на на предметном столике микроскопа. В кювету вводят микроэлектрод, например микросопротивление типа МТ, и фокусируют его конец в псле зрения микроскопа. После настройки фазового контраста подключают микроэлектрод к источнику питания, например к батарее КБС, и подаюг ток мощностью око 1 редмет изобретенг
СмотретьЗаявка
1339836
В. В. КаменскаВ. П. Казначеев, Ю. А. Старикин, А. С. Грлдо, Новосибирский государственный медицинский институт
МПК / Метки
МПК: G01N 27/60
Метки: дисперсных, исследования, микроскопированием, систем, фазовоконтрастным
Опубликовано: 01.01.1970
Код ссылки
<a href="https://patents.su/1-280917-sposob-issledovaniya-dispersnykh-sistem-fazovokontrastnym-mikroskopirovaniem.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ исследования дисперсных систем фазовоконтрастным микроскопированием</a>
Предыдущий патент: Компенсационный окуляр
Следующий патент: Фотометрическая решетка
Случайный патент: Система холостого хода карбюратора для двигателя внутреннего сгорания