Устройство для определения смещений исследуемых точек
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
ьвтооскомь свиднельствм Зависимое от авт. свидетельстваЗаявлено 22.Ч.1968 ( 1236221/18-10)с присоедицецием заявкиПриоритетОпубликовано 12.Ч,1970. Б 1 оллетець17Дата опубликования опцсацпя 27 Х 111.1970 Кл, 42 с, 11/03 1 с 15 12 митет МП обретений и открытийри Совете МинистровСССР ДК 528.52(088.81 вторызобретепия В. Е. Новак, П, С, Закатов, В. А, Величко, В. Е. Демецтьев,А, Н, Соловьев и В, В. Шторм ковский инженерно-строительный институт им. В. В. КуйбышевЗаявитель УСТРОЙСГВО ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ СМЕЩЕНИГ 1 ИССЛЕДУЕМЬ 1 Х ТОЧЕКИзобретение относится к области геодезического приборостроения.Известны устройства для определения смещения исследуемых точек оптическим илп дпфракционным методов относительно цацравлеция, задаццого световым лучом,Устройства содержат источник света ц регистрирующие узлы, устацавливаемые последовательцо ца исследуемых точках и фиксирующие отклоцецие точек относительно створа, задаваемого световым лучом.Однако этими устройствами нельзя цроизводигь определения смещений произвольно стоящих точек, например точек, расположеццых но окружцости.В описываемом устройстве ца каждой цз исследуемых точек жестко укреплены оптические отражающие илц преломляющце элемецты, например лццзы, передающие изображецие светового луча па последующие точки и служащие датчиками смещения.На чертеже приведена принципиальная схема предлагаемого устройства.Оцо содержит источник света, например лазер (ца чертеже це показан) и формирующие устройства - датчики смещения, выполненные в виде оптических отражающих или преломляющих элементов, например линз или призм 1, жестко соедицеццых с исследуемыми точками. Луч света, проходящин через формирующиеустройства (лицзы), может быть описан математическим уравцсццем геометрической оцтцкц, в котором по цзхереццо)1) пол)жецц 1 О вхо.да светового луча Отцосцтелы 0 цецтра форм 11- рующего устроцства прсдвычцслястся положсцце входа светового л) 1 а относительно ц.итра последующего формирующего; стройства.Измерение отклонения луча производится 10 с помощью фотоэлементов 2, устацовлеццыхца осях,) ц соединенных с иотснцпомстрамц .Положецце лч 1 может 0 ь 1 ть цс 11)в;1 сцдк 01)Рек)иРУк)1 ц 1 ки 1 г)1 с 10 со 1 С 11 и 51)111 д.Выйд 51 цз цсточццк 1 света, ст 1011 льОсть ко.15 торого коцтролирстс 51, луч цоиадасг ца первое формирующее усгройство, отцосцтсльцо цептра которого црц помощи фотоэлсмецтов определяются цсходцые координаты светового луча. Тех жс образом определяются цсходцыс 20 координаты светового луча относительно центров всех последующих формирующих устройств. Этц измерения считаются нулевыми и определяют собой ломаную линию отсчега, проходящую через центры всех формцру 1 ощцх 25 устроцств.Прц смещешц 1 первого формцру 1 ощего устройства коордицаты входа светового луча цзмецятся. Величина цзмсцсцця коордццат определяет смещение первого формирующего уст ройства. Затем измеряются коордццаты входа271028 едактор М, Афанасьева Корректор Н. А. Митрохина олюбаки ставитель Тираж 480 зобретений и открь К, Раушская на Заказ 276/4Ц 1 ЛПИ Коьпггста делам Москв пография, пп. Сапунова,светового луча во второе формирующее устройство, причем смещение первого устройстга или исправляется корректирующими приспособлениями, или учитывается в вычислении смещений второго устройства. Если второе устройство также сместилось, то положение центра устройства, вычисленное относительно линии отсчета по измеренным координатам светового пятна, также изменится. Величина смещения центра формирующего устройства относительно линии отсчета составляет смещение исследуемой точки, Аналогичные измерения производятся во всех последующих точках. Измерение координат светового луча производится при помощи чувствительных фотоэлементов. Устройство дает возможность получать смещение произвольно стоящих точек без присутствия человека непосредственно на месте измерений.5 Предмет изобретенияУстройство для определения смещений исследуемых точек, содеркащее источник света,например лазер, и регистрирующие узлы, оп 10 ределяющие полокение светового луча в исследуемых точках, отличающееся. тем, что, сцелью определения смешения точек, расположенных произвольно, на каждой из них жестко укреплены оптические отражающие или15 преломляющие элементы, например линзы,передающие изображение светового луча папоследующие точки и служащие датчикамисмещения,Подписноепй прп Совеге Министров СССР
СмотретьЗаявка
1236221
В. Е. Новак, П. С. Закатов, В. А. личко, В. Е. Дементьев, А. Н. Соловьев, В.В. Шторм Московский инженерно строительный институтВ. В. Куйбышева
МПК / Метки
МПК: G01C 15/12
Метки: исследуемых, смещений, точек
Опубликовано: 01.01.1970
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-271028-ustrojjstvo-dlya-opredeleniya-smeshhenijj-issleduemykh-tochek.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для определения смещений исследуемых точек</a>
Предыдущий патент: Нивелир с самоустанавливающейся линией
Следующий патент: Устройство для определения магнитного курса
Случайный патент: Способ модификации бутадиенового каучука