203287

Номер патента: 1057257

Опубликовано: 30.11.1983

Авторы: Горшков, Гузман, Лозбенев, Савельев, Фомин

МПК: B24B 37/00

Метки: детали, инструмента, корректирующей, оптической, поверхности, рабочей

...полосе. На фиг. 1 показана интерферограмма сферического зеркала из стекла марки К 8, диаметром 500 мм, имеющего радиус сферы 1000 мм; на фиг. 2 - конфигурация рабочей поверхности инструмента, соответствующая интерферограмме на фиг. 1 (рабочая часть поверхности заштрихована); на фиг.3 - интерферограмма, полученная после 5 10 15 20 25 ЗО 35 40 45 50 обработки детали инструментом, конфигурация рабочей поверхности которого приведена на фиг. 2.Предлагаемый способ предусматривает поэтапйую обработку детали с контролем ее поверхности после каждого этапа обработки и последующую доработку поверхности инструмента. Так как рабочая поверхность инструмента состоит из полировочной смолы, та ее доработка может производиться одним из известных...

Номер патента: 70554

Опубликовано: 01.01.1948

Автор: Веннер

МПК: B24B 1/00, B24B 19/08

Метки: архимедовой, криволинейных, круга, поверхностей, поверхностью, спирали, способу, торцевой, шлифования, этому

...круга и проходящей (на фиг. 1) через точку В.Предлагаемое приспособление для шлифования собрано на основной плите 4 (фиг. 3), снабженной цапфой 1 (точка В на фиг, 1) и имеющей направляющий паз 5 (фиг. 3 и 4) (ось А,А, на фиг. 1), по которой перемещается палец 3 (точка С на фиг, 1). Цапфа 1 расположена по оснаправляющего паза б в плоскости торца шлифовального круга 2. На цапфу 1 насажена поворотная плита б, несущая на себе салазки 7. Эги салазки во время работы двигаются вдоль направляющих поворотной плиты б (по оси А-А на фиг. 1). На салазках 7 смонтирован шпиндель 8 (полюс О на фиг. 1), несущий обрабатываемое изделие 9. Вращением винта 10 (фиг. б) осуществляется перемещение ползуна 1 (фиг, 5) поперек салазок 7, Движение ползуна...

Номер патента: 529362

Опубликовано: 25.09.1976

Авторы: Астахова, Духопел, Федина

МПК: G01B 11/24, G01B 11/30, G01B 9/02, G01N 21/45

Метки: аберраций, интеферометр, исследования, качества, крупногабаритных, неоднород, ностей, оптических, поверхностей, прозрачных, элементов

...в в-.оо,л 1 г, апионпой схеме сов. 1 стн с исслецус п зеркалом 7 н устанавливается, в .;а: и:сстот контролируемого объекта,;,.цоо; цг",та.-.кривизны сферического зеркала, либо в фо -кусе исследуемого объектива,Работает интерферометр слецуюшим образом.25Параллельный световой пучок монохроматического света направляется на объектив 1, фокус которого совмещен с отражающей поверхностью зеркала 5. После выхода из объектива пучок света светопелителем 2 део ЭО лится на два пучка - рабочии и опорныи. Рабочий пучок, пройдя светопелитель 2, с помощью зеркала 3 и светоделителя 4 направляется на исследуемое сферическое зеркало 7. Опорный пучок после отражения от светоделителя 2 попадает на линзу 6, а,затемЗВ зеркалом 5 направляется на зеркало...

Номер патента: 872973

Опубликовано: 15.10.1981

Авторы: Антропов, Карпухин, Кондратьев, Конев, Кочетов

МПК: G01J 1/04

Метки: коэффициента, оптической, отражения, поверхности, фотометр

..., 1 - коэффициенты отражения соответственносветоделителя 3,полупрозрачного оп 35тического элемента9 и контролируемоиповерхности 5;р р р - коэффициенты пропускания фокусирующей40линзы б, светоделителя 3 и полупрозрачного оптическогоэлемента 9;10 - интенсивность светового потока от источ 45ника;К - коэффициент передачиприбора,Из (1) и 2) получают:(фф" ф,1 ф) К. (З) Коэффициент К, равный 1/Я., определяют градуировкой прибора с помощьюэталонных оптических поверхностей сизвестным коэффициентом отражения.Отсчет Ф может быть выражен соотношением5 8729 где Й - суммарный коэффициент.отраже"ния полупрозрачного оптического элемента 9 и контролируемой поверхности 5, откоторого зависит чувствительность измерений.Если со стороны светоделителя 3 падает...

Номер патента: 1176169

Опубликовано: 30.08.1985

Автор: Дитрих

МПК: G01B 21/08

Метки: оптических, поверхности, сигналов, сканируемых

...клин не имеет дополнительногокоэффициента поглощения, или плоскопараллельная плата с возрастающимкоэффициентом поглощения.,Поглощающий элемент с возрастающим коэффициентом поглощения можетбить выполнен как поглощающий элемент со ступенчатым изменением коэффициента поглощения.В плоскости изображения разделенного луча с последующей фокусирующей оптикой, а также фотоэлектронном приемном устройстве в качествефотоэлектронного приемного устройства применяют элемент компенсации.Элемент компенсации - это эквивалент поглощающего элемента, размеры, качество материала и положениекоторого идентичны элементу погло 11761 б 9щения, но не имеет дополнительного,коэффициента поглощения.В качестве оптической системы применяются первая собирательная...