Образец для оценки прочности
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
Союз Советских Социалистических Республикетельстваависимое от авт. аявлено 05, 11,196 Кл. 421 с, 38/031059745/25-2 присоединением аявки МПК С 011)иорите Комитет оо делам изобретений и открыти ори Совете Министров СССРУДК 620.115.83:669 .419,4 (088.8) бликовано 29 т 11,1967. Бюллетень1 а опубликования описания 22.1 Х.19 Г, Лозинский и А обретения анан Заявител ОБРАЗЕЦ ДЛЯ ОЦЕНКИ И другого - часть металла плакирующего слоя. На концах пластина имеет две головки, которые повернуты на 90 вокруг продольной оси образца.Наблюдение за микроструктурой в переходной зоне плакированных образцов производится на полированной поверхности 3, приготовленной в виде металлографического шлифа, Отдельные этапы процессов деформации и разрушения можно наблюдать визуально при различных увеличения, а также заснять фото- или кинокамерой. Образец для оценки прочности наблюдением за кинетикой деформации на испытательной установке при различных режимах испытания в широком диапазоне температур и скоростей нагружения, выполненный из листа в виде пластины с головками на концах и со шлифом на испытуемой поверхности, отличающийся тем, что, с целью испытания биметаллического материала, его головки повернуты на 90" вокруг продольной оси образца, что позволяет наблюдать за кинетикой деформации в зоне сопряжения слоев биметалла. е по Известны образцы для оценки прочностинаблюдением за кинетикой деформации на испытательной установке при различных режимах испытания в широком диапазоне температур и скоростей нагружения, выполненныйиз листа в виде пластины с головками на концах и со шлифами на испытуемой поверхности.Однако при исследовании биметаллического образца существующая форма образца непригодна, так как возникает необходимостьнаблюдения за кинетикой деформации в зонесопряжения слоев и неудобна при приготовлении шлифа испытуемой поверхности,Предлагаемый образец отличается от известных тем, что его головки повернуты на 90вокруг продольной оси образца, что позволяет наблюдать за кинетикой деформации в зоне сопряжения слоев биметалла.Это позволяет испытывать биметаллическийматериал,На чертеж казан предлагаемый образец,общий вид.Он состоит из слоя 1 плакирующего материала и слоя 2 материала основы. Он выполнен в виде пластины, с одного края которойудалена часть металла основного слоя, а с Предмет изобретен200272 Редактор А. Шиллер Заказ 2983/8 Тираж 535 ПодписноеЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР Мссква, Центр, пр, Серова, д. 4 Типография, пр. Сапунова, 2 Составитель Г. КорчагинаТехред Т. П. Курилко Корректоры: Н, И, Быстроваи Л. В, Наделяева
СмотретьЗаявка
1059745
М. Лозинский, А. И. Тананов
МПК / Метки
МПК: G01N 1/28, G01N 19/04
Метки: образец, оценки, прочности
Опубликовано: 01.01.1967
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-200272-obrazec-dlya-ocenki-prochnosti.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Образец для оценки прочности</a>
Прибор для измерения деформаций прогиба плоского образца при поперечном изгибе, с целью определения остаточных напряжений
Номер патента: 144312
Опубликовано: 01.01.1962
Автор: Ласло
МПК: G01B 11/16
Метки: деформаций, изгибе, напряжений, образца, остаточных, плоского, поперечном, прибор, прогиба, целью
...в зависимости от знака напряжений в удаленном слое подъем или опускание конца 22 рычага 4, которому прогиб образца 14 передается через шарик 15 и винт 23. Поворот рычага 4 на осях 5 и б сообщается посредством нити 24 зеркалу 10, которое также поворачивается на осях 25 и 26. При этом луч 27 света, падающий на зеркало 10 от осветителя 8, получает угловое перемещение, а на фотобумаге 28, протягиваемой механизмом 29 записывающего устройства 18 мимо щели 30, получается кривая линия, соответствующая деформации образца 14, В случае необходимости визуального наблюдения деформации при помощи ручки 31 изменяется положение поворотного зеркала 11, которое отбрасывает отраженный от зеркала 10 световой луч 32 на экран 7.Регулировка прибора...
Устройство для измерения деформаций поперечного сечения образца по его длине во внутриреакторных условиях
Номер патента: 1057784
Опубликовано: 30.11.1983
МПК: G01H 1/00
Метки: внутриреакторных, деформаций, длине, образца, поперечного, сечения, условиях
...сечений образца 9 придеформации его в процессе попэучести вовнутриреакторных усповияхеУстройство работает следующим образом,При измерении исследуемый образец 9сканируют относи тельно акустическогодатчика, Звуковая энергия от излучателя 553 по.воановоду 1, кольцевой проточке 8и вопноводу 2 проходит к приемнику 4,Прн поперечной деформации образца 9 в сечении, распопоженном в плоскости даччика, на нескопько микрометров меняетсявеличина звуковой энергии, рассеиваемойво внешнюю среду через зазор между поверхностями исследуемого образца 9 икалиброванного отверстия 7 акустического датчика, а следовательно, и уровеньзвуковой энергии на приемнике 4, Сканирование иссспедуемого образца 9 относительно акустического датчика не влияетна рассеивание...
Способ удаления выступающих дефектов с поверхности эпитаксиальных слоев
Номер патента: 433570
Опубликовано: 25.06.1974
Авторы: Митрофанов, Смирнов, Чеховской
МПК: H01L 21/304
Метки: выступающих, дефектов, поверхности, слоев, удаления, эпитаксиальных
...удаляя выступающие дефекты, могутповредить эпптаксиальный слой.Цель изоорстения - создание способа, позволяющего повысить качество поверхностиэпитаксиальных слоев, т. е. удалить острые10 выступающие дефекты без влияния на остальную поверхность эпитаксиального слоя,Это достигается тем, что предварительновсю поверхность эпитаксиального слоя окисляют, а шлифование осуществляют с по 15 мощью плоского полировальника с канавкаНа чертеже схематически представлена полупроводниковая пластина с эпитаксиальнымслоем на операции обработки с помощью20 плоского полировальника,По предлагаемому способу после эпитаксиального выращивания слоя 1 на полупроводниковой пластине 2 всю поверхность эпитаксиального слоя 1 окисляют. Окисел выполня 25 ет функцию...
Образец для измерения температурных деформаций
Номер патента: 1744449
Опубликовано: 30.06.1992
МПК: G01B 11/16
Метки: деформаций, образец, температурных
...свойства отражения, что приводит как к изменению контрастности изображения метки, так и к изменению формы и размеров метки. Это естественно снижает достоверность результатов измерения при определении ТКЛР деструктирующих конструкционных материалов, Поэтому известный образец не может быть использован при исследовании деструктирующих композиционных материалов.Цель изобретения - расширение класса исследуемых материалов за счет деструктирующих материалов.Цель достигается тем, что, в известном образце для измерения температурных деформаций, содержащем стержень с отверстиями, перпендикулярными его оси, в которых установлены параллел ьно друг другу изготовленные из жаропрочного материала стержневые элементы с метками базы, имеющие диффузно...
Способ оценки антифрикционных свойствсмазок
Номер патента: 338823
Опубликовано: 01.01.1972
МПК: G01N 11/00
Метки: антифрикционных, оценки, свойствсмазок
...деформации,На образец 1 в виде валика и образец 2 в виде планки воздействуют с силой Р через нагружающее устройство 3 (между образцамп находится слой смазки). Затем иглой 4 регистрирующего устройства 5 наносят на планке дугу АВ (фиг. 2). После этого иглу стопорят, образец 1 сдвигают, При этом поверхностный слой образца смещается и его смещение фиксируется иглой в виде царапины ВС на поверхности планки. Затем регистрирующее устройство освобождают, и иглу отводят по дуге СО. Длина царапины СВ=о характеризуют величину смещения поверхностного слоя.В процессе опытов и щи тензометров 6, наклеенных на ди р 7, регистрируется сила трения Р,р.Каждая серия опытов (со смазкой и без смазки) для данной пары материалов производится при нескольких...
Предыдущий патент: Стенд для исследования параметров аэростатической подушки
Следующий патент: Способ определения допустимого режима шлифования твердого сплава
Случайный патент: Система управления