Объектив

Номер патента: 977942

Опубликовано: 30.11.1982

Авторы: Горшков, Лавритов, Пуряев, Фомин

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: выпуклых, интерферометр, крупногабаритных, линз, поверхностей, сферических, формы

...объектив 6, компенсатор 7, основную иммерсионную линзу 8, образованнуюжндкоетью,заполняющей простран Иство между контролируемой линзой 9 н ком-пенсатором 7,и эталонное сферическое зер. кало 10, дополнительную иммерсионную линзу 11, установленную между светоотделительным элементом 4 и компенсатором з . 7 и образованную жидкостью с показателем преломления; отличным от показателя преломления основной иммерсионной линзы 8,линзу 12 и иммерсионную камеру 13, Контролируемая линза 9 устанавливается ) 55 в верхней части иммерсионной камеры 13 таким образом, что ее контролируемая поверхность К концентрична эталонной поверхности Э эталонного сферического, зеркала 10, Линза 3.2 установлена в нижней час 40 ти имерсионной камеры 13 и в месте с...

Номер патента: 448347

Опубликовано: 30.10.1974

Авторы: Дикань, Лазарева, Либер, Пуряев

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: большого, выпуклых, диаметра, интерферометр, линз, поверхностей, поверхности, сферических, формы

...или фотографирования интерференционной каю ртины и экран 8 или фотопленку для осковское ордена Ленина и ордена Трудового Краснонамени высшее техническое училище им. Н.Э.Бауманарасногорскиф механический Завод448347 31.егистрации интерференционной картины.Линзу 9 с контролируемой поверхностью К устанавливают между компенсатором и эталонным сферическим зеркалом.lНа фиг.2 показано: У -изображение точки Р , .построенное толькоИкомпенсатором 5; У -изображение точки Р ,построенное компенсатоом и первой поверхностью линзы 9;и С-центры кривизны соответственно контролируемой поверхности линзы 9 и эталонного сферического зеркала б .Точки У,Си С должны быть с овмещены.Интерферометр работает следующим образом.Лучи, выходящие из объектива...

Номер патента: 1150634

Опубликовано: 15.04.1985

Автор: Берковская

МПК: G06K 9/58

Метки: объектов, поверхности, цилиндрических, чистоты

...Т/4, внутренняя рас сеивающая поверхность 10 осветителя 6 - угол й/4. Причем эти две поверхности между собой должны составлять угол л/2, При соблюдении этих условий угол падения подсвечивающего из О лучения будет равен углу отражения излучения, несущего информацию об анализируемой поверхности, реализуется квазифокусировка беэ использования специальной оптики. Точность установки поверхности достаточна 3 Ч 100. Сканистор 1 расположен параллельно осветителю 6 в плоскости, составляющей с продольной осью контролируемого объекта угол о. Величина угла д выбирается иэ следующих соображений. Чтобы обеспечить максимальную скорость контроля поверхности, ее необходимо непрерывно перемещать со скоростью Ч мимо апертуры фото- преобразователя, роль...

Номер патента: 60130

Опубликовано: 01.01.1941

Автор: Коломийцов

МПК: G01B 9/02, G03B 43/00

Метки: качества, линз, микрообъективов, поверхности, формы, фронтальных

...возможность наклонов относительно падающего пучка, благодаря чему испытанию может быть подвергнут любой участок испытуемой линзы 8.Описываемый интерферометр возможно оформить так, что его можно бу.дет навинтить на тубус обыкновенного микроскопа.Свет источника 1 собирается лин зой 2 на отверстии диафрагмы 3,находящейся на расстоянии нормальной длины тубуса от объективов 5 и 6.Плас гинка 4 разделяет на два1 ка расход, циеся лучи, падающие на:ь, Пучки эти затем собираются обге,тином 5 и 6 в точках 9 и 10, С этм точками совмещаются центры кривизны поверхностей 7 и 8. Вследствие этого после отра;кекия от последних поверхностей пучки возврашактся к пластинке 4 теми путями, какими шли от нее, и этой п.тастинкой соединяются в один пучок 11.При...

Номер патента: 1820723

Опубликовано: 27.03.1995

Авторы: Скибин, Цыкунов

МПК: G01N 27/90

Метки: вихретокового, объектов, периодической, поверхности, формой

...(фиг.1), У кромок лопаток, установленных на роторе, на расстоянии Ь от них размещают, например, четыре вихретоко вых преобразователя, включенных попарно последовательно встречно, Вихретоковые преобразователи устанавливают друг за другом вдоль выступа сканируемой поверхности и .со смещением на 15 расстояние, кратное периоду измененияформы сканируемой поверхности, Расстояние Л выбирается минимально возможным при условии исключения касания лопатками преобразователей, Вращая ротор, произво дят анализ сигналов, поступающих на вихретоковый прибор 1 (фиг.1), и в случае необходимости документируют получаемую информацию регистратором 2. Исходная для анализа информация представляется в 25 координатах комплексной плоскости ХУ. Формула...