156977
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 156977
Текст
Класс б 01 г; 21 а 4, 71 Юв 1569(7 СССР ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ,цСЬ 1 цф " ВГ-(ьн;1 Г 1 одписная группа Лв 89 В,С,Па СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ КОМПЛ ПРОНИЦАченкоКСНОЙ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКОМОСТИ Заявлено 18 мая 1962интет по делаги изобретений и отк. за Лв 779217/26-9ытпй при Совете Министров СССРи товарных знаков Лз 17 за 1963 г. пуоликовано в Бюллетене изобретении Известен способ измерения комплексной диэлектрической проницаемости веществ, основанный на измерении параметров отраженного пучка электромагнитных волн, падающих под некоторым углом на исследуемый образец.Однако известньй способ сложен и не обеспечивает высокой точиост Предлагаемый способ измерения комплексной диэлектрической проницаемости отличастся от известных тем, что параметры диэлектриков определяют при псевдобрюстеровском угле падения, а это дает возможность упростить процесс пзмеоенпй и повысить их точность.Изменяя угол падения пучка электромагнитных волн на поверхность образца, определяют значение псевдобрюстеровского угла и находят коэффициент отражения при этом угле, по величине которого вычисляют модуль диэлектрической проницаемости и тол потерь.На чертеже приведена блок-схема установки для осуществления предлагаемого способа.Основными элементами ее являотся: передатчик, приемник и механическое устройство.Передатчик состоит из клистронного генератора 1 и рупорно-линзовой антенны 2. Приемник содержит а 11 тев 1 н 3, аттенюатОр 4, детектор 5, усилитель б и индикатор 7.Механическое устройство предназначено для одновременного изменения угла наклона осей рупоров антенн относительно поверхности образца 8 исследуемого вещества с помощью рукоятки 9. Оно состоит из четырех реек 10, соединенных шарнирно между собой, ходового винта 11, ползуна 12 и отсчетной линейки 13.156977Процесс измерений, согласно предлагаемому способу, заключается в следующем. Вращением рукоятки 9 изменяют угол падения пучк электромагнитнь 1 х волн на поверхность образца 8, определяют значение угла а, прн котором отраженная от образца волна имеет минимальную напряженность поля. Затем вместо образца устанавливают металлический лист и находят коэффициент отражения при этом угле и.Для устранения погрешчосги отчета из-за нелинейности характеристик детектора 5 и усилителя определяют коэффициент отражения при помощи аттещоатора 4,По величине угла а и значению коэффициента отражения вычисляют модуль диэлекгрической проницаемости и угол потерь исследуемого образца.Предмет изобретенияСособ изменения комплексной диэлектрической миллиметровом диапазоне волн, основанный на измерении параметров отражаенного пучка электромагнитных волн, направленных под некоторым углом к поверхности исследуемого образца, о т л и ч а ющ и й с я тем, что, с целью упрощения процесса измерений и повышения их точности, изменяют угол па-ения пучка электромагнитных волн на поверхность образца, огределяют значение псевдобр 1 остеровского угла, находят коэффициент отражения при этом угле и вычисляют модуль диэлектрической проницаемости и угол потерь.Составитель Л. 3. Рубинчик Редактор С. Л. Богатырсеа Техрсд А. А. Камышникова Коррсктор Н, В. Гераськина Поди. к печ, 19/1 Х - 63 г. Формат бум. 70,;108/ш Объем 0,18 изд. Заказ 2357/5 Т рак 980 Цена 4 коп. ЦНИИГ 1 И Государственного комитета по делам изобретений и открытий СССР Москва, Центр, пр. Серова, д. 4 Типография. пр, Сапунова, 2
СмотретьЗаявка
779217
МПК / Метки
МПК: G01R 31/11
Метки: 156977
Опубликовано: 01.01.1963
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-156977-156977.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">156977</a>
Способ рентгенографического определения угла отражения
Номер патента: 1702266
Опубликовано: 30.12.1991
Авторы: Ауэрсвальд, Ефанов, Кемфе, Кертель, Михель, Роч, Семенов, Ценкер
МПК: G01N 23/20
Метки: отражения, рентгенографического, угла
...производят интегральное измерение угла отражения ч при всех углах поворота р и огределяют среднюю величину чо угла отражения во время непрерывного поворота образца на 360 вокруг оси, проходя.цей перпендикулярно(2) поверхности образца в месте падения пучкарентгеновского излучения,В дру-ом варианте углы отражения чизмеряют при углах поворота р, получен 5 ных путем деления полной окружности углов поворота на равные части, а уголотражения чл для недеформированногомежплоскостного расстояния определяютпутем формирования средней арифметиче 10 ской величины измеренных углов отражения.При этом выполняют несколько цикловизмерений с различными исходными угламиповорота /о,15 Способ осуществляют следующим образом.Исследованию подвергали...
Резонансный способ измерения диэлектрической проницаемости, тангенса угла потерь и направлений осей эллипсоида диэлектрической проницаемости анизотропных диэлектриков
Номер патента: 779919
Опубликовано: 15.11.1980
Авторы: Коробкин, Макеев, Пивен, Пятак
МПК: G01R 27/26
Метки: анизотропных, диэлектриков, диэлектрической, направлений, осей, потерь, проницаемости, резонансный, тангенса, угла, эллипсоида
...ППП Патентф, г . Ужго ул . Проект Резонансный способ измерения реализуется следующим образом. . .Образец из .исследуемого диэлектрика помещается в круглый волновод, полностью заполняя его поперечное сече 5 йнхееа ЭлементаМи свнзи возбУжДаютсЯ колебания Й 5 в образце из исследуемого диэлектрика .Для этого типа колебаний характерно существование двух вэаимноортого нальных поляризаций, .вырожденных для иэотропного диэлектрика . В случае 0 анизотропного диэлектрика снимается " вырождение, и на экране электроопти-., ческого индикатора наблюдаются две полосы пропускания, соответствующие прохождению двух взаимноортогональных поляризаций . Вращая образец относительно неподвижных элементов связи (либо наоборот), подавляют одну из полос. Это...
Способ измерения комплексной диэлектрической проницаемости на свч в свободном пространстве
Номер патента: 281569
Опубликовано: 01.01.1970
МПК: G01R 27/26
Метки: диэлектрической, комплексной, проницаемости, пространстве, свободном, свч
...наклона большой оси эллипса поляризации поля отраженной волны.На фиг.показано усгройство, реализующее предлагаемый способ; на фиг, 2 приведены параметры эллипса,Процесс измерения заключается в следующем.Приемную антенну 1 (см. фиг. 1) устанавливают на одной линии с передающей антенной 2. Генератор 3 подключают к передающей антенне 2 и измерительный прибор 4 - к приемной антенне 1, Затем ориентируют передающую антенну 2 под углом 45 к плоскости пя.,сния, Вращая приемную антенну 1 вокруг своей оси, фиксируют по шкале 5 те углы, при которых будет равенство ортогональных составляющих линейно поляризованного под углом 45 сигнала, тем самым выбирают направление системы координат и делят по ес осям линейно поляризованный сигнал на две...
Устройство для измерения толщины и диэлектрической проницаемости диэлектрических пленок
Номер патента: 1149187
Опубликовано: 07.04.1985
Авторы: Конев, Любецкий, Михнев
МПК: G01R 27/26
Метки: диэлектрических, диэлектрической, пленок, проницаемости, толщины
...антенну, делитель луча, к первому плечу которого обращен вход резонатора с зеркалами, в .котором при измерениях исследуемая диэлектрическая пленка расположена под углом 45 к оси резонатора, перпендикулярной первому плечу делителя луча, первый приемный блок, подсоединенный через первую приемную антенну к второму плечу делителя луча и регистрирующий блок, введены первая и вторая поляриэационные проволочные решетки, причем проволочки обеих поляризационных проволочных решеток параллельны, вторая и третья приемные антенны, второй приемный блок н корректор, первый приемный блок выполнен в виде блока измерения диэлектрической проницаемости, выход резонатора расположен со стороны, противоположной его входу, причем первая поляризационная...
Способ определения диэлектрической проницаемости веществ
Номер патента: 1244602
Опубликовано: 15.07.1986
МПК: G01R 27/26
Метки: веществ, диэлектрической, проницаемости
...чего обеспечивается возможность изменения угла приема при фиксированном угле падения40 зуется в волну Цщ прямоугольногов-вода и детектируется СВЧ-детектором8, сигнал с к-рого поступает на цифровой индикатор 9. Для достиженияцели измеряют величину угла отражения, и по разности углов падения иотражения пс градуировочным зависимостям определяют значение диэл,проницаемости исследуемого вещества.1 ил. Устройство работает следующим образом. При подаче питающего напряжения от блока 2 на СВЧ источник 1 излучения посггедний излучает амплитуцно-модулированные колебания СВЧ диапазона, которые преобразуются в волноводнолучевом переходе 3 из волны Непрямоугольного волновода в волну Сд круглого диэлектрического лучевода., Преобразованная волна...