Способ измерения комплексной диэлектрической проницаемости на свч в свободном пространстве
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ ависимое от авт. свидетельства .Й Заявлено 23 Х 1.1969 ( 1339734/2с присоединением заявки-хл. 21 а,Коынтет по делаю аобретений и открыти ори Совете Министров СССР.ЧПК 6 01 г 27,/26х;1,К 621.317,374 (088.8) оритет -тубликовано 14.1 Х.197 Бюллетень2 Дата опубликования описания 21 Л.1971 Авторыизобретения П асечник и В, Д. Ку Заявптел СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ КОМПЛЕКСНОЙ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКОЙ ПРОНИЦАЕМОСТИ НА СВЧ В СВОБОДНОМ ПРОСТРАНСТВЕ 2 20(см, фиг. 2). мп эллипса. липся по отИзобретение относится к радиоэлектронной промышленности и может быть использовано в измерительных лабораториях научно-,исследовательских институтов, на производстве для контроля параметров изготовляемых диэлектрических материалов и устройств из них (диэлектрических покрытий, антенных обтекателей и д,р.).Известные способы измерения комплекгной диэлектрической проницаемости на СВЧ в свободном пространстве обладают тем недостатком, что не позволяют точно определить угол Брюстера из-за наличия потерь в реальных диэлектрических материалах, а поэтому рассчитанная величина диэлектрической проницаемости является приближенной, или не позволяют определить угловое положение максимумов отраженных от двух поверхностей образца сигналов и, следовательно, не позволяют определить расстояние между ними. С целью повышения точности и быстрого измерения комплексной диэлектрической проницаемости, в предлагаемом устройстве образец диэлектрика облучают при угле падения 45 волной, поляризованной под углом 45 к плоскости падения, и определяют эллиптич- ность и угол наклона большой оси эллипса поляризации поля отраженной волны.На фиг.показано усгройство, реализующее предлагаемый способ; на фиг, 2 приведены параметры эллипса,Процесс измерения заключается в следующем.Приемную антенну 1 (см. фиг. 1) устанавливают на одной линии с передающей антенной 2. Генератор 3 подключают к передающей антенне 2 и измерительный прибор 4 - к приемной антенне 1, Затем ориентируют передающую антенну 2 под углом 45 к плоскости пя.,сния, Вращая приемную антенну 1 вокруг своей оси, фиксируют по шкале 5 те углы, при которых будет равенство ортогональных составляющих линейно поляризованного под углом 45 сигнала, тем самым выбирают направление системы координат и делят по ес осям линейно поляризованный сигнал на две ортогональные и,равные составляющие. Зятем поворачивают приемную антенну 1 вокруг общей оси О на угол, удобный для вычислений (няпример 45), вставляют образец 6 диэлектрика в,держатель, помещенный на общей оси, и измеряют, вращая вокруг, своей оси приемную антенну 1, максимальную а и минимальнуо Ь амплитуды отраженного сигналааи берут их отношение гб Эти амплитуды и являются о30 Для определения ориентации281569 Тираж 480 Попиисно елам изобретений и открытий при Совете Министров СССР 1 осква, М(-35. Раугпская иаб., и. 4/5 Заказ 7560ЦНИИПИ комитета Областная типография Костромского управления по печат ношению к выбранной системе координат измеряют угол Д, заключенный между большой осью эллипса х и осью координат у. Результаты измерения подставляют в формулы и вычисляют диэлектрическую проницаемость:(1 г 2) 2 соз 2 2 4 г 2 з 1 п 2 с. 124 г (1 - г) соэя 2 р з 1 п 2 тр 1 дягр1+гав - (1 - г) з 1 п Предлагаемый метод позволяет точно и относительно быстро определить комплексную диэлектрическую проницаемость материалов, а также может найти широкое применение в пнтроскопии и во всех тех случаях исследования диэлектриков, где возможен только односторонний доступ к ним. Предмет изобретения Способ измерения ком,плексной диэлектрической проницаемости на СВЧ в свободном пространстве, отличающийся тем, что, с целью 10 повышения точности измерений, образец диэлектрика облучают при угле падвния 45 волной, поляризованной под углом 45 к плоскости падения, и определяют эллиптичность и угол наклона большой оси эллипса поляриза ции поля отраженной волны.
СмотретьЗаявка
1339734
В. Ф. Пасечник, В. Д. Кукуш
МПК / Метки
МПК: G01R 27/26
Метки: диэлектрической, комплексной, проницаемости, пространстве, свободном, свч
Опубликовано: 01.01.1970
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-281569-sposob-izmereniya-kompleksnojj-diehlektricheskojj-pronicaemosti-na-svch-v-svobodnom-prostranstve.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения комплексной диэлектрической проницаемости на свч в свободном пространстве</a>
Устройство для измерения толщины и диэлектрической проницаемости диэлектрических пленок
Номер патента: 1149187
Опубликовано: 07.04.1985
Авторы: Конев, Любецкий, Михнев
МПК: G01R 27/26
Метки: диэлектрических, диэлектрической, пленок, проницаемости, толщины
...антенну, делитель луча, к первому плечу которого обращен вход резонатора с зеркалами, в .котором при измерениях исследуемая диэлектрическая пленка расположена под углом 45 к оси резонатора, перпендикулярной первому плечу делителя луча, первый приемный блок, подсоединенный через первую приемную антенну к второму плечу делителя луча и регистрирующий блок, введены первая и вторая поляриэационные проволочные решетки, причем проволочки обеих поляризационных проволочных решеток параллельны, вторая и третья приемные антенны, второй приемный блок н корректор, первый приемный блок выполнен в виде блока измерения диэлектрической проницаемости, выход резонатора расположен со стороны, противоположной его входу, причем первая поляризационная...
Измеритель диэлектрической проницаемости диэлектрических покрытий на металлической поверхности
Номер патента: 1059515
Опубликовано: 07.12.1983
Авторы: Косогоров, Сташкевич, Тарасюк
МПК: G01R 27/26
Метки: диэлектрических, диэлектрической, измеритель, металлической, поверхности, покрытий, проницаемости
...относится к техникерадиоизмерений и может использоваться для измерения диэлектрическихпостоянных веществ.Известен интерферометр СВЧ дляизмерения эффективной толщины диэлектрических пластин, в которомиспользован принцип действия отражающего интерферометра Майкельсона,при этом испытуемая диэлектрическая .пластина, покрытая с одной стороны 10металлом, помещается вблизи рупор"ной антенны 1 .Однако такое устройство имеетнизкую пространственную разрешающуюспособность 15Наиболее близким .к предлагаемому является устройство для измерениядиэлектрической проницаемости диэлектрических покрытий, содержащее СВЧ-генератор, излучающую антенну для возбуждения поверхностныхволн в системе металл-диэлектрик,приемную антенну с измерительнымустройством...
Резонансный способ измерения диэлектрической проницаемости, тангенса угла потерь и направлений осей эллипсоида диэлектрической проницаемости анизотропных диэлектриков
Номер патента: 779919
Опубликовано: 15.11.1980
Авторы: Коробкин, Макеев, Пивен, Пятак
МПК: G01R 27/26
Метки: анизотропных, диэлектриков, диэлектрической, направлений, осей, потерь, проницаемости, резонансный, тангенса, угла, эллипсоида
...ППП Патентф, г . Ужго ул . Проект Резонансный способ измерения реализуется следующим образом. . .Образец из .исследуемого диэлектрика помещается в круглый волновод, полностью заполняя его поперечное сече 5 йнхееа ЭлементаМи свнзи возбУжДаютсЯ колебания Й 5 в образце из исследуемого диэлектрика .Для этого типа колебаний характерно существование двух вэаимноортого нальных поляризаций, .вырожденных для иэотропного диэлектрика . В случае 0 анизотропного диэлектрика снимается " вырождение, и на экране электроопти-., ческого индикатора наблюдаются две полосы пропускания, соответствующие прохождению двух взаимноортогональных поляризаций . Вращая образец относительно неподвижных элементов связи (либо наоборот), подавляют одну из полос. Это...
Способ определения диэлектрической проницаемости материалов
Номер патента: 1661674
Опубликовано: 07.07.1991
Авторы: Глазков, Скрипник, Таран
МПК: G01R 27/06
Метки: диэлектрической, проницаемости
...-+ 3 (9)Ф,с з, 2 при котором погрешности уравнива" ются: зи 8,=8 (10)В силу соотношений (9), (10) имеет место равенствоЯ+1 2 ис 1 Г 1 агс г. в -- с К ( -- )Я фо6+1 27 Е 55 = агссд -- С 8в ( .2 Я ЪсоБо Если выбрать длину волныСВЧоизлучения из соотношения(16) 10 50 2,л, Я 2 л ЯЛоЕ+1 2 и Д 4 Е 1д(Е+1)агсс 8с(у) -- .2 Я - О (13) Выразив в уравнении (11) длину 1 вфлны Яо через частоту Г СВЧ-колебаний и скорость С распространения колебаний в свободном пространстве Й=с/Г ), с учетом соотношений (12) и13) получают Фа Г (6+1)с 1 К,(6+1)с созОСоИз уравнения (14) диэлектрическая п 1 оницаемость с Чд соз ОСоЕ= -( - )--- 1 (15) с 1 Г к 1-сиз С,Иэ уравнения (15) следует, что по вводимому фазовому сдвигу Ц и углу поворота пластины Оо, дополнительно с 4...
Способ определения диэлектрической проницаемости и устройство для его осуществления
Номер патента: 1800333
Опубликовано: 07.03.1993
МПК: G01N 22/00
Метки: диэлектрической, проницаемости
...в свободном пространстве;Л ь - длина волны в волноводе;е - диэлектрическая проницаемость, Сигнал, наблюдаемый под углом О, может быть представлен в виде произведения двух функций, одна из которых нормированная диаграмма направленности излучателя, а другая - функция, пропорциональная мощности, излучаемой в диэлектрик, Изменяя б от 0 до величины в несколько длин волн, получим квазипериодическую функцию по б, положения нулей которой Лп при условии 35 ( -у -- 1 )-- Й Яп О( - +1 ) 40 где бк - предельный размер плеча излучателя, определяется выражением Лп =Л 0( - + и )( - + Й Ягп О) 1 Л 0 2 ь 45где и = О, 1, 2 откуда легко получается выражение для е, приводимое в формуле изобретения,Условие, налагаемое на диапазон углов О,50 при которых...
Предыдущий патент: Устройство для измерения коэффициента
Следующий патент: Измеритель частоты
Случайный патент: Устройство для правки стержней с переменными размерами поперечного сечения