Патенты с меткой «слабопоглощающих»

Номер патента: 1081494

Опубликовано: 23.03.1984

Авторы: Неумержицкий, Прокопенко

МПК: G01N 23/207

Метки: образца, порошкового, приготовления, рентгенографического, сильно, слабопоглощающих, текстурующихся

...тем, что согласно способу приготовления порошкового образца для рентгенографического контроля сильнотекстурующихсяслабопоглощающих материалов, включаВ щему нанесение моночастичного слояматериала на плоскую клеевую подложку, производят обработку нанесенного слоя легколетучим разбавителемклея. Ь 5 Сущность предложенного способа сосостоит в том, что нанесенные на плоскую подложку, покрытую клеем, частицы материала занимают кристаллографически производные положения, однако в результате обработки легколетучих разбавитетем верхний клеевой слой кратковременно раэжижается, и под действием сил тяжести анизотропные частицы образца длинными осями выстраиваются параллельно поверхности подложки. Хотя текстура при этом не только не снимается, а...

Номер патента: 1286966

Опубликовано: 30.01.1987

Авторы: Моисеев, Петров, Степанов

МПК: G01N 21/59

Метки: диффузной, коэффициента, малой, отражения, поглощения, слабопоглощающих, слаборассеивающих, составляющей, твердых

...сферы5, с приемником 12 излучения служит 35для определения пропускательной способности образца. Узкополосный усилитель 13 и цифровой прибор 14 служат для измерения и регистрации сигналов с приемников 8 и 12.40Способ осуществляют следующим образом,Через входное отверстие первой интегрирующей сферы 5 на установлен ный в ее центре эталон 7 с коэффициентом отражения К , направляют излучение так, чтобы отраженный луч попадал на стенку сферы; Измеряют сигнал А 4, пропорпиональный энергии, отраженной от эталона. Эталон выводят из зоны действия луча. На место эталона под малым углом к лучу вводят образец 6 так, чтобы зеркально отраженное излучение попадало на стен 55 ку сферы. Измеряют сигнал А, пропорциональный освещенности в первой сфере...

Номер патента: 1408240

Опубликовано: 07.07.1988

Автор: Химунин

МПК: G01H 5/00

Метки: скорости, слабопоглощающих, средах, ультразвука

...параметров технологичес-ких процессов и в ультразвуковой ме-дицинской диагностике.Целью изобретения является повышение , точности измерений путем использованиявспомогательного радиоимпульса..На фиг, 1 изображено устройство, реа лизующее способ измерения скорости ультразвука в слабо поглощающих средах; на фиг. 2 - временные диаграммы, поясняющие осуществление способа. Устройство, реализующее способ измерения скорости ультразвука в слабо поглощающих средах, содержит последовательно соединенные первый генератор 1 и излучатель 2 акустического импульса, приемник 3 акустического импульса, расположенный на 2 О расстоянии с 1 от излучателя 2, последовательно соединенные широкополосный усилитель 4, соединенный с выходом приемника 3...

Номер патента: 1367677

Опубликовано: 15.10.1989

Авторы: Бреховских, Соколовская, Чернега

МПК: G01N 21/41

Метки: визуализации, объектов, слабопоглощающих, фазовых

...изображение с положительнымфазовым контрастом.Энергетический порог наведенногопоглощения (например, двухфотонного)в большинстве известных сред на двапорядка ниже порога вынужденногокомбинационного рассеяния (ВКР) света.Множество различных сред обнаруживает способность к нелинейному поглощению коротких (- 10 в . 10с )световых импульсов, Среди них такиешироко доступные среды, как водопроводная вода, стекло, ацетон и др,Использование, в качестве нелинейно-го элемента для фильтрации простран 40ственных частот в спектре фазовогоили слабопоглощающего объекта средыс зависящим от интенсивности светанелинейным поглощением, ослабляющейинтенсивность нулевого порядка ди 45фракции и меняющей его фазу, позволяет получить увеличение...

Номер патента: 1567936

Опубликовано: 30.05.1990

Авторы: Моисеев, Петров, Степанов

МПК: G01N 21/47, G01N 21/59

Метки: диффузии, излучения, коэффициента, материалах, поглощения, сильнорассеивающих, слабопоглощающих, твердых

...5 лазерным пучком часть торцовой поверхнос-ти образца (область засветки) при различных углах падения излучения должна быть олной и той же, Это достигается как за сцет сканирования пучка вдоль выбранной площадки (при малыхуглах падения), так и 0 за счет фокусировки пучка до нужных размеров с помощью линзы (при больших углах падения). Госле указанных угловых измерений определяют угловую зависимость 1/= 1/1, где 1 - сигнал, пропорциональный нормально-полусферической пропускательной способности Р лля данного образца.Рассчитывают двуполусферическую пропускдтельнук способность Р(1,) для всех образцов по соотношению Р(1,) =2 Р(1.,) 30 н (Р)11, 1=1, , В, после чего рассчитыфвают значения К и Р в результате минимизации функционалаГ(К, Р)=Х...

Номер патента: 1567937

Опубликовано: 30.05.1990

Авторы: Моисеев, Петров, Степанов

МПК: G01N 21/59

Метки: коэффициента, поглощения, сильнорассеивающих, слабопоглощающих, твердых

...нормально-полусферической пропуска- тельной способности нового образца, открыв его боковую поверхность на расстояние Й= Н - Н. , при этом вся выступающая из оправки часть образца находится внутри интегрирующей сферы. Рассчитывают окончательную величину К, решая приведенное в формуле изобретения уравнение.Пример осуществления способа. Способ может быть использован для слабопоглощающих сильнорассеивающих материалов пи выполнении условий -К Р и К/Р Н 1.Пусть на длине волны 0,63 мкм необходимо провести исследование оптических свойств сильнорассеиваюшей слабопоглг.- щающей керамики, полученной спеканием из порошка чистого оксида алюминии. Пористость керамики 88 Я, показатель преломления оксида алюминия на этой длине волны п=1,765....

Номер патента: 1095783

Опубликовано: 30.10.1993

Авторы: Винокуров, Панкратов

МПК: G01N 21/35

Метки: коэффициентов, объемного, поверхностного, поглощения, слабопоглощающих

...камеру 3 с образцом 4, микрофон 5,пару светодиод-фотодиод б, широкополосныйпредусилитель 7, два узкополосных усилителя .8, фазометр 9 и цифровой вольтметр 10.Источником излучения 1 служит лампанакаливания. например ОП 12-100, мощностью 100 Бт.Излучение фокусируют на механический модулятор 2, представляющий собойдиск с прорезями, и после прохождения модулятора повторно фокусируют на образец4 в оптико-акустической камере 3, Камера 3соединена с микрофоном 5, преобразующим колебания давления воздуха в камере3 в электрический сигнал. Опорный сигналсоздает пара светодиод-фотодиод 6, размещенная в модуляторе 2. Сигнал с микрофона5 усиливается широкополосным предусилителем 7 и узкополосным усилителем 8.Для измерения фазового...