Энергоанализатор атомных частиц

Номер патента: 1068855

Опубликовано: 07.07.1986

Авторы: Кузнецов, Перельштейн, Ширков

МПК: G01T 1/34

Метки: ионизации, ионов, положительных, релятивистскими, сечений, электронами

...процессов, Расчетным путемпоказано, что в ионизации положительных ионов электронным ударомрелятивистскими электронами домини -рующими являются два механизма - прямая ионизация с удалением электронов из атома или иона в континууМ ивозбуждение или ионизация внутреннихатомных оболочек с последующим испусканием Оже-электронов, т.е.Ожеионизация, причем зависимости сечений этих ионизационных процессов отзарядности ионов сильно различаются,55 К недостаткам известного способа относятся разрушение электронно- ионного пучка при анализе, необходимость проведения многократных . измерений с целью получения полной картины эволюции спектра зарядностей ионов и ограниченный энергетиТаким образом, сечение иониэации положительных ионов электронным...

Номер патента: 1713385

Опубликовано: 28.02.1994

Авторы: Дубенский, Кудрявцев, Никоненков, Шмикк

МПК: H01J 49/40

Метки: атомный, времяпролетный, зонд, ионов, кинетических, компенсацией, разброса, энергий

ВРЕМЯПРОЛЕТНЫЙ АТОМНЫЙ ЗОНД С КОМПЕНСАЦИЕЙ РАЗБРОСА КИНЕТИЧЕСКИХ ЭНЕРГИЙ ИОНОВ, содержащий камеру дрейфа, в которой размещены держатель образца и детектор ионов, источник регулируемого постоянного напряжения и генератор испаряющих импульсов регулируемой амплитуды, подключенные к держателю образца, отличающийся тем, что, с целью улучщения массогабаритных характеристик, упрощения процесса юстировки ионного пучка и расширения класса исследуемых материалов, в него введен отражатель ионов, отражающий электрод которого соединен с выходом источника регулируемого постоянного напряжения, а держатель образца подключен к средней точке дополнительно введенного делителя напряжения, состоящего из двух резисторов, один из выводов которого подключен к...

Номер патента: 243251

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Галль, Леднев

МПК: H01J 37/08

Метки: ионизацией, ионов, источник, поверхностной

...от ионизатора.Парьв анализируемого вещества из иапарителя вводятся в ионизатор через его боковую ,поверхность вблизи закрытого конца трубки.На чертеже изображена схема ионизато 1 ра с испарителем пробы. Ионизатор содержит устройство 1 для иони,- зации, испаритель 2, соединительную трубку3 и систему формирования пучка ионов 4.,При нагреванни испарителя 2 с пробой па 5 ры вещества пробы через соединительнуютрубку 3:попадают на внутреннюю поверхность ионизатора 1.Часть атомов при этом ионизуется и вытягивается,полем ионизатора в сторону систе 10 мы формирования пучка ионов 4, т. е. в сторону открытого конца трубки-ионизатора,Атомы, не ионизировавшиеся при переомстолкновении с вну тренней поверхностьюионизатора претерпевают...

Номер патента: 397984

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Калыгин, Прокопьев

МПК: H01J 3/04

Метки: ионизацией, ионов, источник, поверхностной

...к источникам ионов и может быть использовано в масс-спектрометрии, а также в технологии электромагнитного разделения изотопов.Известен ,источник ионов с поверхностной 5 ионизацией, содержащий испаритель и ионизатор, выполненный в виде закрытой с одного конца трубки из материала с большой работой выхода. Закрытый конец трубки соединен с выводом источника питания той же полярности, что и полярность ионов, эмиттируемых источником.В этом устройстве протекающий по корпусу ионизатора ток нагревает его до рабочей температуры и создает внутри трубки однородное осевое электрическое поле, служащее для вывода ионов из источника.Наиболее существенными нелсстатками известного источника ионов являются низкий коэффициент использования пробы и большой...

Номер патента: 1473724

Опубликовано: 15.04.1989

Авторы: Бернар, Жорж, Франсуа

МПК: H01J 27/24

Метки: ионизацией, ионов, источник, поверхностной

...в твердом состоянии в системе 1 подачи. Выполнение ионизатора описанным способом обеспечивает высокую вероятность столкновения атомов со стенками канала и их ионизацию. Особенно эффективно использование эмиттера ионов, выполненного в виде центральной части элемента 9. Форма поверхности эмиттера должна выбираться с учетом действия извлекающего электрического поля и поля простран" ственного заряда ионов. Выполнение центральной части 11 элемента 9 выпуклой (фиг.5) повьппает эффективность.Пространственный заряд ионов может быть вызван электронами, эмиттируемыми специально установленным эле- . ментом 17 из гексаборида лантана,Это позволяет повысить интенсивность ионного пучка и яркость источника. При высоких энергиях ионов (порядка .10...