Способ измерения микроскопических объектов

Номер патента: 146999

Автор: Гуревич

ZIP архив

Текст

Класс 42 Ь, 14 оз146999 СССР АНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯОМУ АВТОРСКОМУ ЛВИДЕТЕ 1 ЯТВУ. ЗАВИСИ паодписка Гуревич ИЧЕСКИХ ОБЪЕКТОВ СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ О 1959 г. за647261/26ткрытий при Совете Министров ССС влено 14 декаб м изобретений митет по де публиковано в Бюллетене изобретений9 за 1962 г. Основное авт. с85114 от 2иН,С 49 г. на имя С. Г. Гуревнвовой июля 1 Трукм Известный по авт. св.85114 способ измерения микроскопических объектов и микроскопицеских липсйпых смсп 1 сний, заклюцакпцийся в том, цто шкалу со сравнительно большой ценой деления проециру 1 от с уменыпением в плоскость наблюдаемого объекта, не обеспечивает высокой точности измерения.Предлагаемый способ отличается тем, цто неподвижное оптическое изображение шкалы совмещают с увеличенным в заданиями число рас оптическим изображением наблюдаемого объекта. Указанное отличие позволило значительно повысить точность измеренияПрактически предлагаемый способ осуществляется следующим образом. Вместо наблюдаемого объекта, взятого в натуре, используют его оптическое изображение, увеличенное в некоторое число раз, которое проецируют на жесткий экран с тонким рассеивающим слоем На этот же экран проецируют неподвижное оптическое изображение шкалы.Если предположить, что действительнаяцена одного деления шкалы равна 0,1,илс, то после ее проецирования с уменьшением в пятьдесят раз в плоскости оптического изображения цена деления шкалы станет в пятьдесят раз меньше, т. е. 0,002 л и Теперь, если микроскопический объект величиной в 0,01 м,и увеличить в двадцать раз, то в плоскости своего оптического изображения эта величина станет размером 0,2 и,и,Так как оба оптических изображения (шкалы и объекта) совмещаются в одной плоскости жесткого экрана, то в поле зрения микроскопа одному делению объекта будет соответствовать в данном случае сто делений шкалы. Это обстоятельство позволяет производить измерения микроскопических объектов и микроскопических линейных смешений с высокой точностью, в связи с чем предлагаемый способ найдет широкое применение в промышленности.14 б 999Предмет изобретенияСпособ измерения микроскопических объектов и микроскопических линейных смешений по авт. св. М 85114, о тл и ч а ю щи йс я тем, что, с целью повышения точности измерения, неподвижное оптическое изображение шкалы совмещают с увеличенным,в заданное число раз оптическим изображением наблюдаемого объектаСоставитель описания В. Г. ТуфельдРедактор Н. С, Кутафина Техред А. А. Камышникова Корректор Ю. Л 1. ФедуловаПодп. к печ. 21.1 Чг. Формат бум. 70 Х 061/1 в Объем 0,18 изд, л.Зак, 3966 Тираж 550 Цена 4 коп.ЦБТИ при Комитете по делам изобретений и открытий при Совете Л 1 инистров СССРМосква, Центр, М. Черкасский пер д, 2/6.Типография ЦБТИ Комитета, Москва Петровка 14.

Смотреть

Заявка

647261, 14.12.1959

Гуревич С. Г

МПК / Метки

МПК: G01B 11/02, G01N 21/01

Метки: микроскопических, объектов

Опубликовано: 01.01.1962

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-146999-sposob-izmereniya-mikroskopicheskikh-obektov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения микроскопических объектов</a>

Похожие патенты