Способ проведения сорбционного процесса

Номер патента: 716578

Опубликовано: 25.02.1980

Авторы: Вольхин, Зильберман, Иоффе, Новиков, Олейникова, Онорин, Ходяшев, Шульга

МПК: B01J 1/22

Метки: глубокой, железа, ионов, ионообменник, карбонатных, магния, неорганический, окислов, основе, примеси, растворов, смеси, титана

...понижается до 12% от растворимости воздушно-сухого образца, но очистка растворов от ионов железа происходит лишь до уровня 7,2.10мссИз этих данных видно, что повышение температуры прокаливания материала выше 200 С, не приводя к значительному уменьшению растворимости сорбента, ухудшает его сорбционные свойства.ЗРегенерацию сорбента ведут растворами комп,зекеообразователей, например, 1%-ным раствором винной кислоты:В таблице приведены сравнительные данные по эффективности очистки карбонатных растворов предлагаемым (Т 10) и известным (УгО) сорбентами. Каквоилйао. из таблицы предлагаемый сорбент на основе Т 10 обладает большей емкостью и позволяет достичь большую степень очистки по сравнению с известными сорбентами на основе УгО....

Номер патента: 444550

Опубликовано: 30.09.1974

Авторы: Ремпель, Элик

МПК: C02F 1/461

Метки: кислых, растворов, хлор-ионов

...к технологии очистки кислых растворов от хлор-ионов, например промывных вод солянокислого травления.Известен способ очистки кислых растворов от хлор-ионов путем связывания хлор-ионов в труднорастворимую однохлористую медь ,при ооработке раствора порошкообразной металлической медью.Цель изобретения - интенсификация процесса. 10Для этого раствор подвергают электролизу с медными электродами при анодной плотности тока 2 - 15 а/дм, температуре 10 - 80 С.Предложенный способ позволяет обрабатывать растворы, содержащие до 10 г/л ионов хлора. Раствор, содержащий хлор-ионы, непрерывно пропускают через электролизер.В процессе электролиза происходит анодное растворение меди преимущественно в виде одновалентной. На аноде образуется рыхлый...

Номер патента: 847635

Опубликовано: 30.06.1984

Авторы: Бака, Болецкий, Караванский, Лаврик, Марусяк, Нестор, Хабер, Чих

МПК: C01F 5/30

Метки: растворов, состав, сульфат-ионов, хлормагниевых

...коли- бО ческий эФфект от применения предлагачество твердого сульфата кальция емого состава составит около на поверхности растворов. 75 000 руб.ВНИИПИ Заказ 4019/4 Тираж 464 Подписноей в М Ффилиал ППП Патент", г. Ужгород, ул,Проектная, 4 Изобретение относится к очистке хлормагниевых растворов от сульфат- ионов и может быть использовано при переработке маточных каинитовых растворов.Известен состав для очистки хлормагниеных растворон от сульфат-ионов, содержащий раствор 5-20 СаСЙ и 10 25% МуС 8 1)Состав применяется при 85-95 Со и молярном соотношении хлорида каль ция и сульфат-иона 1,2-1,6. Остаточное содержание сульфат- ионов в растворе, обработанном таким составом, составляет 0,010-0,015 мас.%.Однако применение известного состава...

Номер патента: 1075331

Опубликовано: 23.02.1984

Автор: Коляда

МПК: H01J 49/26

Метки: вторичной, ионно-ионной, компонент, коэффициентов, образца, полупроводникового, эмиссии

...измерения коэффициентов ВИИЭ компонент образца из полу. проводникового материала.Поставленная цель достигается тем, что согласно способу определения коэффициентов вторичной ионно-ионной эмиссии компонент образца из полупроводникового материала, в котором производят ионную и температурную очистку поверхности образца в условиях высокого вакуума, напускают активный по отношению к поверхности образца газ и измеряют токи первичных и вторичных ионов, проводимость поверхности образца поддерживают заданной путем изменения температуры в диапазоне, в пределах которого происходит адсорбция активного газа.Активность поверхности полупроводников по отношению к газовой среде тесным образом связана с электронной структурой его поверхности и с ее...

Номер патента: 1078502

Опубликовано: 07.03.1984

Авторы: Коляда, Нагорная, Черепин

МПК: H01J 49/26

Метки: вторичной, значения, ионно-ионной, компонент-поверхности, коэффициентов, относительного, твердых, тел, эмиссии

...при постоянном значении тока ионов первичного пучка ионное легирование производят тем же пучком первичных ионов с энергией, превышающей энергию ионов первичного пучка при распылении, при этом длительность масс-анализа устанавливают больше времени прекращения спада тока вторичных ионов с массой, соответствующей массе ионов первичного пучка.На фиг. 1 - 4 представлены варианты масс-спектров и временные зависимости токов (в.и.и.э.).При проведении масс-анализа происходит распыление ионнолегированного слоя, поэтому в спектре в.и.и.э., снятом в момент времени 0 ТсТ, наблюдаются вторичные токи компонент А (пики А, А, Аз, А 4) и вторичный ток 1-, который складывается из двух составляющих - вторичного тока 1 от ионов первичного пучка, легирующих...