138253

Номер патента: 2001463

Опубликовано: 15.10.1993

Авторы: Бугаев, Николаев, Окс, Щанин, Юшков

МПК: H01J 27/04, H01J 27/22

Метки: газа, генерации, двухкомпонентного, ионном, ионов, источнике, металла, потока

...и нейтральных частиц рабочего газа приводит к эффективной регенерации в области контрагирования и анодной части разряда газовых ионов. При повышении концентрации плазмы за счет увеличения тока контрагированного разряда и напряжения между электродом 3 и плазмой на выходе отверстия на металлическом электроде 3 под плазмой контрагированного разряда, в месте ее наибольшей концентрации (вблизи отверстия), возбуждается катодное пятно, ток которого поддерживается источником питания 8, Существование катодного пята обеспечивает поступление в анодную область металлических ионов. Как показали испытания, контрагированнный разряд не только способствует возбуждению катодного пятна, но и оказывает стабилизирующее влияние на горение вакуумной дуги....

Номер патента: 1708635

Опубликовано: 30.01.1992

Автор: Корушенков

МПК: B29C 71/04

Метки: коронным, поверхности, разрядом

...единый поток газа в щелевом отверстии 9,Процесс обработки поверхности изделия 20 коронным разрядом - непрерывный и проходит в течение длительного времени.8 процессе обработки в сети подачи инерт-, ного газа могут возникнуть колебания давления при подачи его в камеру 10, что сказывается на равномерности обработки поверхности изделия 20 по ширине, т,е. свойства адгезии будут разные. Чтобы исключить влияния незначительных колебаний и падений давления в системе подачи и выхода газа, площадь сечения отверстий 11 для выхода газа на стенке камеры 10 больше или равна площади сечения щелевого отверстия 9 в активном электроде 3(ЕотвъЕщели).КоРонный разряд в газовом межэлектродном зазоре Н образуется при подаче высокого напряжения от генератора 5...

Номер патента: 1695704

Опубликовано: 23.12.1992

Авторы: Груич, Кирсон, Эстерлис

МПК: C23C 14/02

Метки: вакууме, дуговым, поверхности, разрядом

...поверхУдельнаямощность, кВт ч/м Сталь горячекатаная Х 18 Н 10 Т Окалинаполно 200 20 10 0,21 0,21 стью удалена То же0,680,770,8 150 300 250 Бр, АЖИМЗ Сталь 65 Г Сталь Рб М 5 Сталь горячекатаная . Х 18 Н 10 Т 2,047,73,2 23 24 23 1 5 1 3 10 4 Окалина удалена, поверх- . ность оп- лавлена 200 19 1,67 1,2 0,82 ность электрода-анода, так как в процессе перемещения экрана открываются участки анода, ранее не участвовавшие в работе. Это устраняет перегрев поверхности, чем повышается качество обработки. Кроме того, наличие экрана с отверстием уменьшает поток продуктов эрозии, осаждающихся на электроде, Это приводит к стабилизации процесса горения разряда, а следовательно, и к повышению качества обработки.Способ обработки осуществляется следующим...

Номер патента: 996136

Опубликовано: 15.02.1983

Авторы: Братников, Кример, Суковицын

МПК: B23K 11/24

Метки: качества, микросварочного, поверхности, расщепленного, торцовой, электрода

...который определяется из условия равенства скорости деформации нулю после окончания сварочного импуль. еа (фиг. 3), где 1 и - длительность сварочного импульса либо момент подачи заднего фронта.т - момент характеризуемый величиОкОн 1 иДалее оценивается величина пластической деформации привариваемого проводника, которая является функцией качества торцовой поверхности электрода, Если деформация не принадлежит допустимому диапазону, то сварка считается дефектной и не входит в число контрольных точек,Контроль производится периодически (и контрольных точек на Я сварок). Например 5 в 10 измерений на 80 в 1 сварок. Оценка величины пластической деформации производится по средней деформациии Н=- -гн; и Это позволяет с большей точностью...

Номер патента: 1104362

Опубликовано: 23.07.1984

Авторы: Вячин, Мамонов

МПК: G01B 11/24, G01B 9/021

Метки: интерферометр, качества, оптических, поверхностей

...от контролируемой поверхности. На чертеже изображена оптическаясхема интерферометра для контролякачества оптических поверхностей.Интерферометр содержит монохроматический источник 1 света, телескопическую систему 2 и светоделитель3, делящий световой поток на двеветви, микрообъектив 4, прямоугольнуюпризму 5, объектив 6, сферическоезеркало 7, установленное так, чтоцентр кривизны его совпадает с задней фокальной плоскостью объектива6, опорный оптический элемент 8,плоское зеркало 9, голограмму 10,объектив 11, диафрагму 12 и регистратор 13.Объектив 6 может быть выполненв виде двояковыпуклой линзы 14 имениска 15, обращенного вогнутостьюк двояковыпуклой линзе 14,Описываемый интерферометр работает следующим образом.Предварительно производят...