Индикатор масс для масс-спектрометра

Номер патента: 1525774

Опубликовано: 30.11.1989

Авторы: Бейзина, Карецкая, Кельман

МПК: H01J 49/48

Метки: ионами, магнитного, масс-спектрометр, многократным, поля, прохождением

...системы; обеспечивает свободу движения ионов по в сему конно-оптическому тракту,.на их пути не встречаются ни сетки, ни щели. Это сводит к минимуму рассеяние и выбивание вторичных частиц,74бкостью. Механическая сборка предлагаемого масс-спектрометра значительно проще, так как пучок входит в электрическое поле свободно и не должен каждый раз точно попадать в узкую щель, как в прототипе. Неизбежные погрешности механической сборки легко ликвидируются электрической юстировкой, В предлагаемом приборе отсутствуют эффекты, связанные с многократным прохождением ионов через узкую щель, - рассеяниеионов и выбивание вторичных заряженных частиц, что обеспечивает высокое разрешение у основания спект,ральных линий,формула изобретения...

Номер патента: 1674290

Опубликовано: 30.08.1991

Авторы: Кельман, Мит

МПК: H01J 49/30

Метки: ионами, магнитного, масс-спектрометр, многократным, поля, призменный, прохождением

...направляется на магнитную призму 1. Магнитная призма разлагает ионный пучок по массе и энергии, после чего он отражается первым ионным зеркалом и направляется в электростатическую призму, Электростатическая призма компенсирует разброс ионов по углам, образовавшийся после прохождения магнитной призмы из-за неоднородности ионов по энергии, вследствие чего все ионы с одинаковой массой, но с небольшим различием по энергии, движущиеся до поступления в магнитную призму 1 по параллельным траекториям, после прохожде 1674290ния электростатической призмы вновь идут параллельно друг другу. Таким образом устраняется ограничение разрешающей способности прибора, связанное с разбросом по энергии в ионном пучке, т,е. достигается фокусировка по...

Номер патента: 369478

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Вител, Мартынкевич, Ненарокомо, Рафальсон, Шутоц

МПК: B01D 59/44, G01N 27/62

Метки: ионов, источник, масс-спектрометра

...под углом к оси камеры ионизации, а между катодом и подкатодной щелью установлена система отклонения электронного пучка, которая может быть выполнена электростатической или магнитной. 20При такой конструкции область горячего катода оказывается отделенной от области ионизации большим сопротивлением газовому потоку, и, таким образом, проникновение продуктов химических реакций на катоде в 25 область ионизации практически исключается,На фиг. 1 изображена принципиальная схема источника с отклоняющим электростатическим конденсатором; на фиг. 2 - схема источника с отклоняющим магнитным полем,Обе конструкции включают в себя катод 1, ускоряющий электрод 2, отклоняющую систему 3 и ионизационную камеру 4. Электроны, эмиттируемые катодом 1,...

Номер патента: 884470

Опубликовано: 28.02.1991

Автор: Чилипенко

МПК: H01J 27/02

Метки: ионный, источник, масс-спектрометра

...проб (например, четыре) приварены.точечной сваркой ленты 4,выполненные из вольфрамовой или танталовой фольги. Для локализации пробыи уменьшения температурной деформации лент в их центре выштампованополукруглое углубление, как это показано на рисунке. Ленты установлены строго симметрично относительнощели 5 вытягивающего электрода, чтоконтролируется с помощью вспомогательной цилиндрической оправки (нарисунке не показана), вкладываемой щ 0в канавки 6 основания при сборке узла. Держатель 7 из нержавеющей сталиустановлен на керамических стойкахионо-оптической системы серийногоисточника масс-спектрометра аналогично анодному коробку в газовом варианте, Основание по боковым направляющим вставлено в держатель и зафиксировано снизу пружиной...

Номер патента: 433919

Опубликовано: 30.06.1974

Авторы: Додонов, Кудров, Сшш, Тальрозе

МПК: B01D 59/44

Метки: ионов, источник, масс-спектрометра

...распределением потенциала в области ионизацин.Цель изобретения - увеличение чувствительности ионного источника.Это достигается тем, что в предлагаемом источнике ионов масс-спектрометра понизатор выполнен из шести сеток, помещаемых между анодом и катодом: двух центральных, расположенных под углом одна к другой и расходящихся в направлении движения ионов, двух экранирующих сеток, антидипатронной сетки и вытягивающей сетки.На чертеже показана схема источника ионов.Источник содержит катод 1 косвенного нагрева, первичный катод 2, вытягивающую сстку 3, экранирующую сето 4 со стороны като да, сетки 5 и 6, ограничивающие область ионизации и расположенные под углом относительно осп источника так, что расстояние 5 между ними увеличивается в...