Моделирующее устройство для исследования электромагнитных полей

СОЮЗ СОВЕТСНИХСОЦИАЛИСТИЧЕСКИХРЕСПУБЛИК 91 606 8 ЗОБРЕТЕТЕЛЬСТВУ ПИСАНИ ССР про етельство /48, 1974 УДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССРДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЬГПФ АВТОРСКОМУ СВИД(54)(57) ИОИССЛЕДОВАНИЯпо авт, св.щ е е с я тния точностидефектов типвключений исферы покрылом. ДЕЛИРУИЩЕЕ УСТРОЙСТВО ДЛЯЛЕТРОИАРНИТНЦХ НОй"й 9 541181, о т л и ч а ю ем, что, с целью повьаемоделирования объемных а раковин, несплошностей др., элекзропроводные ты непроводящим материа101 баОО,ВНИЙПИ Заказ 3388/49 Тираж 70 б Подписное Филиал ППП "Патент", г. Ужгород,ул.Проектная,4Изобретение относится к койтрбйЪ=" "нО-измерительной технике и может бытьиспользовано для исследования элект-,ромагнитных полей, возникающих принеразрушающем контроле материалов ииэделий, например, дефектоскопии,вихретоковым методом.По основному авт. св. 9 541181 известно моделирующее устройство дляисследования электромагнитных полей,содержащее электромагнитный преобразователь,.подсоединенный к генераторупеременного напряжения (тока), установленную в поле преобразователяэлектропроводящую массу регулируемойформы, выполненную из электропроводных сфер, размещенные.в массе имитаторы дефектов, размеры которых болеечем в 5 раз превышают диаметр электропроводных сфер, и индикатор, подсоединенный к преобразователю. 20Моделирующее устройство позволяетисследовать распределение электромагнитного поля в изделиях с дефектамиразличного типа, а именно поверхностными подповерхностными раковинами, 25несплошностями,включениями и пр, (1).Однако устройство имеет недостаточную точность имитации дефектов,поскольку любые загрязнения сфер приводят к изменению контактных сопротивлений между ними и уменьшении вихревых токов в электропроводной массе,в результате чего появляется. дополнительная погрешность имитации из-завысоких требований к отсутствию загрязнений (окисных пленок) на поверх ности электропроводных сфер.Цель изобретения - повышение точности имитации обемных дефектов типараковин, несплошностей, включений идр.40Поставленная цель достигается тем,что электропроводные сферы покрытынепроводящим материалом.На чертеже представлена конструктивнай схема модулирующего устройства 45для исследования электромагнитных полей.Устройство содержит корпус 1,электропроводящую массу 2, выполненную из электропроводных сфер, неподвижную крышку 3, подвижную крышку 4,имитатор 5 дефекта, выполненный ввиде исследуемых раковин, несплошностей и т.д. из материала с удельнойэлектропроводностью, отличной от эквивалентной электропроводности массы2, генератор б переменного напряжения (тока), полесоздаюшую катушку 7.индуктивности, измерительную катушку 2"В.индуктивности, индикатор 9 и меха-" низм 10 перемещения.Устройство работает следующим образом.Полесоэдающая катушка 7, пбдсоединенная к генератору б, возбуждает в электропроводных сферах массы 2 вихревые токи. Электропроводныесферы изолированы между собой, поэтому вихревые токи возбуждаются в каждой сфере, при этом вихревые токи каждой сферы наводят в измерительной катушке 8 вносимое напряжение, Сумматорное вносимое напряжение катушки 8 определяет эквивалентную проводимость массы 2. Напряжение с катушки 8 .поступает на индикатор 9, Механизм 10 обеспечивает вертикальное и горизонтальное перемещение катушек 7 и 8 относительно корпуса 1.При перемещении катушек 7 и 8 над однородной массой 2 величина вносимого напряжения катушки 8 не изменяется. При проявлении в зоне электромагнитного поля катушки 7 имитатора 5 дефекта величина вихревых токов в массе 2 изменяется, следовательно, изменяется и величина вносимого напряжения катушки 8.Перемещая механизмом 10 катушки 7 и .8 относительно имитатора 5 дефекта,определяют влияние дефекта на величину. вносимого напряжения катушки 8 при различном расстоянии между дефектом и катушками 7 и 8. Изменяя размеры и форму имитаторов 5 дефектов и их расположение в массе 2, определяют влияние размера, формы и глубины залегания дефектов на величину вносимого нацряжения катушки 8. Размеры имита,торов 5 дефектов более чем в 5 раз превышают диаметр электропроводных сфер, образующих массу 2, поэтому при прочих равных условиях изменение величины вносимого напряжения измери- тельной катушки 8 полностью определяется наличием в массе 2 имитатора 5 дефекта.Непроводящее покрытие на электро- проводных сферах может быть выполнено, например, в виде окисной пленки. Устройство для моделирования обладает повышенной точностью имитации обемных дефектов, так как эквивалентная проводимость массы 2 практически не зависит от усилия Р поджатия массы 2 и наличия на сферах различных загрязнений. Устройство обладает также высокой временной стабильностью параметров.Ф