В п т б

Номер патента: 641890

Опубликовано: 05.01.1979

Авторы: "пьер, Даниель, Жак, Клод

МПК: H01J 1/312, H01J 9/02

Метки: металл-диэлектрик-металл, типа, эмиттера

...эмиттеров, содержащих диэлектрический слой,расположенный между двумя металлическими слоями 11). Диэлектрический слойобычно изготавливается из окисных пленок, например А 8 еО ипи Ве О, Такиеэмиттеры получают путем электропитичеокого осаждения на металлическую подложку слоя диэлектрика 21,Указанный способ трудно реализоватьпри формировании слоев диэлектрика набольшой площади подложки,Цель изобретения - упрощение технологии получения слоя диэлектрика,Поставленная цель достигается тем,что готовят раствор из органическогорастворителя (гексаметилфосфоротриамидаи тетрагидрофурана) и электролита-перхлората щелочного металле, погружаютв этот раствор металлическую подложку,подают нв нее отрицательное напряжи проводят осаждение...

Номер патента: 1613479

Опубликовано: 15.12.1990

Авторы: Бранин, Глейбман, Дюканов, Лебедев

МПК: C10B 57/00

Метки: 30-45, адгезии, поверхности, пониженной, преимущественно, размягчения, связующих, температурой, угольной

...адсорбированногоугольной поверхностью, для угля крупностью 0,5-2 мм при температуре фильтрации 70 оС,Иэ данных табл.3 следует, что оптимальным фактором разделения центрифуги является 250+16, При более низком его значении процесс термофильтрации малоэффективен, а более высокийфактор разделения усложняет методикуанализа.Для определения адгезии связующихматериалов, характеристики которыхпредставлены в табл.4, поверхностьюуглей разной степени метаморфизма,характеристики которых представленыв табл,5, а также угольной шихтысостава (по маркам углей), Х:Г Октябрьской ЦОФ 27Ж Дуванской ЦОФ 16ОС Колосниковской ЦОФ 28,5Т Чумаковской ЦОФ 28,5проведены 3-4 параллельные определения при установленных условиях проведения опыта, т.е. для угля...

Номер патента: 147000

Опубликовано: 01.01.1962

Авторы: Лозинский, Перцовский

МПК: G01B 9/04, G01N 21/01, G02B 21/30

Метки: автоматической, вакууме, деформации, диапазоне, металлов, микроскопа, микроструктуры, наблюдениях, наводки, нагревом, процессе, различными, скоростями, сплавов, температур, фокусировки, широком

...металлического образца 1, наблюдаемой во время опыта, приготовлен металлографическнй шлиф. Образец 1, находящийся внутри рабочей камеры, образуемой корпусом 2 и крышкой д, укреплен в захватах 4 и 5, изготовленных из жаропрочного сплава. В шарнирах б и 7 размещены вкладыши, электрически изолирующие захваты 4 и б от корпуса 2. При помощи подвижного герметизирующего уплотнения (например, сильфона В) тяга 9, соединенная с механизмом нагружения (на чертеже не показан), может вызывать растяжение изучаемого образца.Нагрев образца 1 производится с помощью радиационного нагревателя 10 или путем теплового воздействия электрического тока низкого напряжения, пропускаемого через образец. Датчики 11 и 12, соединенУв 147000 ные с образцом 1 тягами 13...

Номер патента: 147351

Опубликовано: 01.01.1962

Авторы: Лозинский, Перцовский

МПК: G01N 3/18

Метки: изучения, испытании, металлов, микроструктуры, образцов, плоских, процессе, различными, растяжения, скоростями, сплавов

...2 алмазной пирамиды, позволяющие производить наблюдения и фотографирование одного и того хке участка поверхности образца. При помощи отпечатков определяется также удлинение образца в процессе растяжения. Точность измерения деформаций является допустимой для качественного изучения процессов деформирования металлов при высоких температурах и различных скоростях нагружения, Так как скорость деформации в нагретой зоне отличается от теоретической, то при проведении экспериментов для147351 каждого исследуемого материала скорость деформации должна быть выявлена экспериментальным путем.Установка для осуществления описываемого способа микроструктуры позволяет производить ступенчатое изменение скорости перемещения захватов через 10 - 20%...

Номер патента: 460612

Опубликовано: 15.02.1975

Автор: Жорж

МПК: C07C 7/02

Метки: атомы, водорода, выделения, имеющих, подвижные, смесей, углеводородных, углеводородов

...вначале можно осуществить в колонне 1 на первой установке разделение параксилола и этилбензола, с однойстороны, и метаксилола, с другой стороны;смесь параксилол-этилбензол получают вверхней части колонны 1 в паровой фазе,а метаксилол отделяют на второй колонне 2первой установки, как описано выше. Разделение параксилола и этилбензола в указаннойпаровой фазе затем может быть осуществлено после их конденсации во второй из упомянутых установок, после введения конденсированной смеси в колонну 1 этой второй уста.новки в точке ввода, аналогичной упомянутой точке а, тогда как разделение производится в условиях, аналогичных тем, что описаны выше для разделения параксилола и метаксилола.При двойном разделении возможно применить различные...