Способ определения точки кюри в сегнетополупроводниках
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 366396
Текст
Союэ Советских Социалистических РеспубликЗависимое от авт. свидетельствааявлено 21.Х 11.1970 ( 1604321/26-25 л. 6 01 п 25/12 присоединением заявки Приоритет публиковано 16,1.19 Коми о делами открыти брете Бюллетень7 УДК 537.226.33,234 ЯЯ, 21.376,при Совете МииистСССР Дата оп бликования описания 1 б,111.197 Авторыизобретения Б. С. Агаронов, Н, МАзербайджанский го ездетный, А. Х. Зейналов, Н, Н.и М. К. Шейнкман Заявцтел ственный университет им. С. М, Кирова ПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ТОЧКИ В СЕГНЕТОПОЛУПРОВОДНИК Р АР АТ сЫ я температура;де Т -Этот спо регистриру менеция в цых устрои щих ток по Ложный ВозцикаюШ процессе и Для по фазового п область ф мереция вИзобретение относится к способу определения точки Кюри в сегцетополупроводциках, в особеццости для сегцетополупроводпиков типа А"ВС периодической системы Менделеева,В известных способах определения точки Кюри из измерений температурной зависимости диэлектрической проницаемости в пьезоэффектуи др. в области фазового перехода наблюдается максимум величин е и .Известен способ определения точки Кюри из измерений пиротока т,Пироток т связан с поляризацией соотношением. бсолютнаремя;оляризация.соб наряду с основным пиротокомет ложный пироток и требует приысокочувствительных измерительств (электрометров), регистрируюрядка 10-1 .10-8 А,нироток связан с пьезоэффектом,им при деформации кристалла взменения температуры.вы щения надежности регистрацииерехода по предлагаемому способуазового перехода определяют из изелцчины фотоотклика, возникающего при освещении контакта металл - сегнетополупроводник видцмымц импульсами светаиз области собственной фотопроводимостц, ификсируют максимальное значение фотоотклика.Предлагаемый способ заключается в следуЮШем.На кристалл сегцетополупроводцика, например ЗЪ 51, цапыляют в вакууме контактыпз Я 1 (сурьмы) или другого материала(Ац,Ад, В 1 и т. д.), возможно применение серебряной и индийгаллиевой паст. Кристалл снанесенными контактами закорачивают входом измерительного устройства (узкополосного усилителя) переменного тока. В областифазового перехода наблюдается резкое увеличение фотоотклика. Для ЬЪ 51 точка Кюрилежит в интервале 19 - 22 С. Частота световых импульсов может мецяться в широкоминтервале (100 - 5000 гт 1).Предмет изобретенияСпособ определения точки Кюри в сегнетополупроводциках, например типа АсВС, снанесенными металлическими коцтактами,от,тачаютдийся тем, что, с целью повышениянадежности регистрации фазового перехода,освещают контакт металл - сегцетополупроводцпк цмпульсамц света цз ооласти собст 30 венной фотопроводимости и фиксируютмаксимальцое зачецце фотоотклпка,
СмотретьЗаявка
1604321
МПК / Метки
МПК: G01N 25/12
Метки: кюри, сегнетополупроводниках, точки
Опубликовано: 01.01.1973
Код ссылки
<a href="https://patents.su/1-366396-sposob-opredeleniya-tochki-kyuri-v-segnetopoluprovodnikakh.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения точки кюри в сегнетополупроводниках</a>
Предыдущий патент: Способ определения фракционного состава смесей жидких веществ
Следующий патент: Способ определения горючести отделочных и облицовочных материалов
Случайный патент: Реле давления