193077

Номер патента: 671490

Опубликовано: 07.10.1981

Авторы: Агеев, Петух, Розанцев, Янковский

МПК: G01N 1/00

Метки: микропробы, поверхностного, слоя

...подложки,которая должна быть прозрачна для 15излучения ОКГ, возможность ослабления потока энергии, передаваемогоповерхности анализируемого образцаиз-за, например, отражения частиизлучения подложкой. 20В предлагаемом изобретении с цельюсбора проб определенного фазовогосостава подложку устанавливают перпендикулярно поверхности образцанавстречу продуктам эрозии. 25Распределение пробы по фаэовомусоставу происходит по высоте подложки. Вращение анализируемого образцаприводит к искривлению траекториидвижения продуктов эрозии по мереудаления их от оси вращения образца,причем вследствие существенной разницы в скоростях удаления(точнеев моментах количества движения) продуктов эрозии в парообраэной и жидкой фазах, большее искривление...

Номер патента: 918925

Опубликовано: 07.04.1982

Авторы: Альбрехт, Иар, Келер, Тиелиш

МПК: G03C 1/84

Метки: галогеносеребряный, защитным, материал, светочувствительный, слоем, фотографический

...Одновременно вследствие достигнутых гидрофобными полимерами противоадгезионных свойств защитного слоя не возникает отпечаток при контакте с гидрофильным поверхностным слоем, который сильно склонен к клейкости.8925 45 50 Сополимер стирола метилметакрилатаТетрахлорметан 0,07 г 100 мл 55 5 1 о 15 гог 5 Зо З 5 40 4Защитный слой, нанесенный в виде тонкого покрытия, растворяют в растворителе, например в тетрахлорметане в количествах от 0,01 до 0,1 вес.Ф гидрофобного полимера, предпочтительно от 0,03 до 0,07 вес.Ф, и наносят на противоореольный слой с обратной стороны основы. Нанос этих слоев надо осуществлять с равномерной толщиной мокрого слоя и можно провести обычными системами наноса как погружный валик и валик прополаскивания.При...

Номер патента: 1303884

Опубликовано: 15.04.1987

Авторы: Канарчук, Пакидов, Петров

МПК: G01N 3/34

Метки: исследования, поверхностного, прочностных, свойств, слоя

...линейки 9.Контактные напряжения 6 при взаимодействии индентора 2 с образцом 1определяют по формуле Герца.15 Изобретение относится к исследованию прочностных свойств материалов, в частности к способу определения предела упругости поверхностпогслоя материала с унрочненным поверхностным слоем,Целью изобретения является опре"деление предела упругости поверхносного слоя материала.На чертеже показана схема испытательной установки, с помощью которой реализуется способ.Способ осуществляется следующимобразом.Возбуждают упругие колебания влокальной зоне испытуемого образца1, ударом падающего индентора 2 измеряют амплитуду колебаний, причемудар производят многократно в однойи той же точке с равномерно возрастающей силой при каждом...

Номер патента: 1310619

Опубликовано: 15.05.1987

Авторы: Бабарин, Горбаш, Делендик, Зацепин, Кащенко, Коренной

МПК: G01B 7/06

Метки: обработанных, поверхностно, слоев, толщины, ферромагнитных, электропроводящих

...Это максимальное различие определяют по максимуму выходного сигнала вихретокового преобразователя, в зону контроля которого помещают обработанное изделие, причем частоту тока возбуждения выбирают так, чтобы минимальная глубина проникновения магнитного поля в материал изделия была больше максимальной из измеряемых толщин обработанного слоя, но меньше минимальной толщины контролируемого изделия. Способ измерения толщины поверхностно обработанных слоев ферромагнитных электропроводящих изделий осуществляют следующим образом.Контролируемое изделие 8 с поверхностно обработанным слоем 9 размещают в зазоре магнитопровода 4 электромагнита, обмотка 5 которого питается от сети через стабилизированный выпрямитель 7 с регулятором 6 напряжения,...

Номер патента: 1439384

Опубликовано: 23.11.1988

Авторы: Горбаш, Кожаринов

МПК: G01B 7/06

Метки: обработанных, поверхностно, слоев, толщины, ферромагнитных, электропроводящих

...преобразователя 8 благодаря еще и появлению нормальной составляющей магнитного поля при замыкании силовых линий магнитного поля через основу контролируемого изделия 2. 1439384Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть иопольэовано для измерения толщины поверхностно обработанных слоев ферромагнитных электропроводящнх изделий. 511 ель изобретения - повышение чувствительности путем подмагничивания поверхностно обработанного слоя постоянным магнитным полем с оптимальнойнапряженностью,10На чертеже показана схема измерения.Схема контроля содержит образцовую пластину 1, выполненную иэ материала основы контролируемого иэделия2 со структурой, близкой к структуреповерхностно обработанного слоя, Кон-тролируемое иэделие 2...