Патенты с меткой «микропробы»

Номер патента: 197040

Опубликовано: 01.01.1967

Авторы: Жуков, Жукова, Кокора

МПК: G01N 1/02

Метки: микропробы, поверхностного

...изобретения10 Способ получения микропробы поверхностного слоя материала, отличающийся тем, что, с целью повышения локальности и точности измерения содержания компонентов, выбирают подлежащий анализу участок на шлифе 15 под микроскопом, покрывают этот участокпрозрачной для излучения оптического квантового генератора (ОКГ) пленкой или пластиной, фиксируют излучение ОКГ на выбранный участок поверхности исследуемого мате риала и напыляют микропробу на пленку илппластину путем испарения исследуемого материала лучом ОКГ. Известен способ получения микропробы поверхностного слоя материала с помощью оптического квантового генератора (ОКГ), излучение которого используется для возбуждения в микрообъемах эмиссионного спектра исследуемых...

Номер патента: 287394

Опубликовано: 01.01.1970

Авторы: Бутузов, Лившиц, Липавский, Научно, Опытно, Салтан, Семенов, Соколин

МПК: B01D 15/08

Метки: автоматический, дозатор, микропробы, потока

...отверстий и дальнейшая транспортировка ее в роматографическую систему. После ввода дозированной пробы в хроматографическую систему золотник 5 возвращается пнев.5 моприводом б в исходное положение. едмет изобретения Автоматический дозатор мпкропробы из по тока, состоящий пз основания и крышки с каналамп для анализируемого продукта, пере. Изобретение относится к технике дозирования микропроб и предназначено для автоматического отбора непосредственно из, технологического потока как обычных, так и легко кристаллизующихся жидкостей и ввода микро- дозы в систему анализатора (например хроматографа),Известен автоматический дозатор микропробы из потока, состоящий из основания и крышки с каналами для анализируемого продукта, перемещающегося между...

Номер патента: 671490

Опубликовано: 07.10.1981

Авторы: Агеев, Петух, Розанцев, Янковский

МПК: G01N 1/00

Метки: микропробы, поверхностного, слоя

...подложки,которая должна быть прозрачна для 15излучения ОКГ, возможность ослабления потока энергии, передаваемогоповерхности анализируемого образцаиз-за, например, отражения частиизлучения подложкой. 20В предлагаемом изобретении с цельюсбора проб определенного фазовогосостава подложку устанавливают перпендикулярно поверхности образцанавстречу продуктам эрозии. 25Распределение пробы по фаэовомусоставу происходит по высоте подложки. Вращение анализируемого образцаприводит к искривлению траекториидвижения продуктов эрозии по мереудаления их от оси вращения образца,причем вследствие существенной разницы в скоростях удаления(точнеев моментах количества движения) продуктов эрозии в парообраэной и жидкой фазах, большее искривление...