166530

Номер патента: 1756972

Опубликовано: 23.08.1992

Авторы: Гамаюнова, Коппе, Физгеер

МПК: H01J 49/26

Метки: анализа, диэлектрических, кристаллов, масс-спектрометрического

...пучка первичных ионов и площади входной диафрагмы системы сбора вторичных ионов позволяет сохранить условия выбивания и сбора вторичных ионов, исключая влияние 30 35 40 45 50 55 ионов меди, ее поверхностных и обьемных загрязнений и их соединений с медью, компаундов, образующих вследствие взаимного перезапыления образца и сетки, а также ионов, выбиваемых с поверхности держателя, что приводит к повышению достоверности результатов анализа.При несоблюдении соотношения указанных параметров 3231 45 э происходит снижение достоверности результатов анализа эа счет влияния ионов, выбираемых изматериалов держателя,На фиг,1 схематически изображено предлагаемое устройство, общий вид; на фиг,2 - в большем масштабе часть устрайствэ, включающая...

Номер патента: 1573538

Опубликовано: 23.06.1990

Авторы: Бегак, Зарубин, Лапин, Сорока, Утенков

МПК: H04B 1/10

Метки: анализа, рабочих, частот

...условие Грассэ Гядч 1 сигналом свыхода инвертора 51 второй триггер 50установится в единичное состояние.Таким образом, при выполнении условиямечРа ноч на выходе элемента И52 появится сигнал пригодности частоты который поступит в блок 7 управ Цления,В блоке 5 выбора частоты в первыйрегистр 31 в начале цикла выбора час-.тоты записывается пороговое значениеуровня помехи, при кбтором выполнятся соотношение 11-ш;-11 пъО, а во второй регистр 39 с выхода блока 4 записывается текущее значение помехи наконтролируемой частоте, которые сравниваются в элементе 40 .сравнения. 50 10 38 1. Устройство автоматического анализа рабочих частот, содержащее последовательно соединенные антенный коммутатор, радиоприемник, блок фильтров и блок анализа, а...

Номер патента: 1755333

Опубликовано: 15.08.1992

Авторы: Коненков, Толстогузов

МПК: H01J 49/42

Метки: анализом, ионов, масс-спектрометр, одновременным, отрицательных, положительных

...режиме уско 15 20 25 40 рождения иона. В этом случае через энергетический фильтр 2 пройдет основная масса 50 падение первичного пучка 10 ионовна образец 3 и осуществить сбор вторичных ионов по нормали к образцу 3, что повышает эффективность и локальность сбора вторичных ионов,На вь 1 ходэх квадрупольного энергетического фильтра 2 устанавливают иммерсионные доухэлементные линзы 4 с рения вторичных ионов. Укаэанные линзы 4 служат для фокусировки вторичных ионов на входную диафрагму диаметром0,58, где Во - радиус окружности, вписанной между вершинами электродов КФМ. После линзы 4 следуют коадрупольные фильтры б масс. На выходах КФМ устанавливаются выходные диафрагмы 7 диаметром и детекторы 8 и 9 ионов для детектирования и регистрации...

Номер патента: 1218852

Опубликовано: 07.05.1987

Авторы: Манагадзе, Сагдеев, Шутяев

МПК: H01J 49/40

Метки: анализа, космических, масс-спектрометрического, объектов, поверхностей

...и исследуемым объектом1 = 25 м, равно Затем выделенные ионы регистрируются детектором 4, При этом каждой 50 массе соответствует пик с определенной задержкой от начала развертки.По амплитуде пиков можно судить о процентном содержании элементов в грунте. Для регистрации и запоминания 55 сигнала можно использовать многоканальный анализатор, функционально аналогичный, например прибору МАЧЕГОКМКЕСОКЭЕК модель 8100 фирмы 3 Р ьг 14, 2 Уг= 5 10ионов. 1 121885Изобретение относится к областикосмического приборостроения и можетбыть использовано для дистанционногоисследования элементного состава космических объектов, лишенных атмосФеры.. Целью изобретения является повышение точности результатов и расширение функциональных...

Номер патента: 1220506

Опубликовано: 27.07.1996

Авторы: Галль, Сачечко

МПК: H01J 49/26, H01J 49/44

Метки: анализа, энерго-масс-спектрального

1. Способ энерго-масс-спектрального анализа, заключающийся в ионизации вещества, формировании короткого во времени пакета ионов заданной энергии, разделении его по массам и энергии и детектировании энергетических и массовых спектров, отличающийся тем, что, с целью повышения разрешающей способности по массам и по энергии, увеличения быстродействия, чувствительности и точности анализа, увеличения диапазона масс исследуемых ионов, расширения областей применения, упрощения технической реализации, разделенный по массе в пространстве дрейфа пакет ионов вводят в тормозящее электростатическое поле через время мкс,где