Способ измерения напряжения инверсии мдп-структур
Описание | Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 1464810
Авторы: Апанасенко, Гурский, Покрышкин, Сигалов
Описание
Способ измерения напряжения инверсии МДП-структур, включающий подачу на МДП-структуру линейно изменяющегося напряжения смещения, высокочастотного измерительного напряжения, выделение напряжения, пропорционального емкости МДП-структуры, дифференцирование этого напряжения, измерение величины производной, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерения напряжения инверсии, напряжение смещения изменяют со скоростью 101-10 3 В/с, периодически выдерживают его на постоянном уровне, осуществляя в эти моменты дифференцирование, а напряжение инверсии определяют по напряжению смещения, при котором производная становится больше нуля.
Заявка
4262839/25, 15.06.1987
Физико-технический институт АН БССР
Гурский Л. И, Сигалов Б. Л, Покрышкин А. И, Апанасенко В. П
МПК / Метки
МПК: H01L 21/66
Метки: инверсии, мдп-структур
Опубликовано: 27.05.2012
Код ссылки
<a href="https://patents.su/1-1464810-sposob-izmereniya-napryazheniya-inversii-mdp-struktur.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения напряжения инверсии мдп-структур</a>
Предыдущий патент: Способ извлечения вольфрама из оловянных концентратов
Следующий патент: Способ изготовления полевых транзисторов с изолированным затвором
Случайный патент: Голографический интерферометр тальбота