Способ изготовления мощных многоэмиттерных свч-транзисторов с балластными резисторами
Формула | Описание | Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Формула
СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ МОЩНЫХ МНОГОЭМИТТЕРНЫХ СВЧ-ТРАНЗИСТОРОВ С БАЛЛАСТНЫМИ РЕЗИСТОРАМИ, включающий создание в многокристаллической кремниевой пластине диффузионных областей баз и эмиттеров, формирование покрытия из диоксида кремния, нанесение на покрытие тонкопленочного резистивного слоя, создание резистивных элементов, вскрытие контактных окон к областям базы и эмиттера, формирование металлизации, наращивание защитного диэлектрического покрытия, травление окон в защитном диэлектрическом покрытии в области контактных площадок металлизации, отличающийся тем, что, с целью улучшения энергетических характеристик транзисторов, одновременно с созданием резистивных элементов изготавливают тестовый резистор, измеряют его сопротивление, по значению сопротивления выбирают фотошаблон из набора фотошаблонов, отличающихся размерами окон на 0,5 1 мкм, проводят фотолитографию и травление отверстий в резистивных элементах в зазорах между эмиттерными контактными площадками одновременно с травлением окон в защитном диэлектрическом покрытии в области контактных площадок.
Описание
Цель улучшение энергетических характеристик транзисторов.
Пример конкретного выполнения. На монокремниевой подложке создают диффузионный слой областей базы (толщиной 0,6





Режим нанесения нихрома: ток магнетрона 0,5



Методами фотолитографии при помощи цериевого травителя (церий четырехводный 315 гр, серная кислота 105 мл, вода 1582 мл) создают рисунок резисторов.
Затем через окна в фоторезистивной маске методом ионно-химического травления при помощи источника ионов ИИ-4-015 в хладоне-14 протравливают контактные окна.
После стандартной отмывки проводят напыление металлизации Al-Si 1% Cu 1% толщиной 1,15

Режим нанесения металлизации: длительность очистки 220




Методами фотолитографии с использованием химического травителя (720 мл ортофосфорной кислоты, 225 мл уксусной кислоты, 750 мл воды) получают рисунок металлизации. Вжигание металлизации проводят в азоте при 500


Измеряют сопротивление тестового резистора. Проводят наращивание диэлектрической пленки парофазным методом на установке (оксин-3 при 450оС толщина пленки 0,4

Далее методами фотолитографии создают фоторезистивную маску с окнами для площадок под выводы и для подгонки резисторов. Выбор соответствующего фотошаблона проводят с учетом параметров данной структуры: Rб 0,5 Ом; Rт 160 Ом; Uб 850 мкм, n 50, I 8,5 мкм, Wт 20 мкм, Iт 80 мкм.
Расчет по формуле дает требуемую ширину окон в фотошаблоне W 3,4 мкм.
Проводят ионно-химическое травление диэлектрической пленки и нихрома при помощи источников ионов ИИ4-0,15 в следующем режиме: ток соленоида 1,5





Завершается изготовление транзисторов разделением подложек на кристаллы, сборочными операциями и измерением параметров транзисторов.
Испытания предлагаемого способа на опытных партиях мощного генераторного СВЧ-транзистора 219128АС позволило за счет подгонки нихромовых балластных резисторов уменьшить разброс энергетических характеристик в сравнении с характеристиками транзисторов, получаемых по известному способу: Kp c 43,6% до 12,3% Ркмакс с 14,5% до 7,8% повысить Рвых с 197,3 вм до 200 вм. Точность воспроизведения номинала резисторов повысилась при этом с


Изобретение относится к области электронной техники. Целью является улучшение энергетических характеристик транзисторов. Цель изобретения улучшение энергетических характеристик транзисторов. Способ изготовления мощных многоэмитерных СВЧ транзисторов с балластными резисторами заключается в создании на монокристаллической кремниевой пластине диффузионных областей баз и эммитеров, формирование покрытия из диоксида кремния, нанесение на покрытие тонкопленочного резистивного слоя, создание резистивных элементов, вскрытие контактных окон к областям базы и эммитера, формирование металлизации, наращивание защитного диэлектрического покрытия, травление окон в защитном диэлектрическом покрытии в области контактных площадок металлизации, причем одновременно с созданием резистивных элементов изготавливается тестовый резистор, измеряется его сопротивление по его значению выбирается необходимый фотошаблон из набора фотошаблонов, отличающихся размерами окон на 0,5 1 мкм, проводится фотолитография и травление отверстий в резистивных элементах в зазорах между эммитерными контактными площадками одновременно с травлением окон в защитном диэлектрическом покрытии в области контактных площадок.
Заявка
4612149/25, 28.09.1988
Асессоров В. В, Велигура Г. А
МПК / Метки
МПК: H01L 21/18
Метки: балластными, многоэмиттерных, мощных, резисторами, свч-транзисторов
Опубликовано: 20.10.1995
Код ссылки
<a href="https://patents.su/0-1630564-sposob-izgotovleniya-moshhnykh-mnogoehmitternykh-svch-tranzistorov-s-ballastnymi-rezistorami.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ изготовления мощных многоэмиттерных свч-транзисторов с балластными резисторами</a>
Предыдущий патент: Защитный смазочный материал
Следующий патент: Гидрохлориды 2-метилили 1, 2-диметил-6, 7-диметокси1, 2, 3, 4-тетрагидроизохинолин4-спиро-4циклогексанолов, обладающие центральным m-холинолитическим действием
Случайный патент: Станция соотношений