Способ изготовления мощных многоэмиттерных свч-транзисторов с балластными резисторами

Номер патента: 1630564

Авторы: Асессоров, Велигура

Формула

СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ МОЩНЫХ МНОГОЭМИТТЕРНЫХ СВЧ-ТРАНЗИСТОРОВ С БАЛЛАСТНЫМИ РЕЗИСТОРАМИ, включающий создание в многокристаллической кремниевой пластине диффузионных областей баз и эмиттеров, формирование покрытия из диоксида кремния, нанесение на покрытие тонкопленочного резистивного слоя, создание резистивных элементов, вскрытие контактных окон к областям базы и эмиттера, формирование металлизации, наращивание защитного диэлектрического покрытия, травление окон в защитном диэлектрическом покрытии в области контактных площадок металлизации, отличающийся тем, что, с целью улучшения энергетических характеристик транзисторов, одновременно с созданием резистивных элементов изготавливают тестовый резистор, измеряют его сопротивление, по значению сопротивления выбирают фотошаблон из набора фотошаблонов, отличающихся размерами окон на 0,5 1 мкм, проводят фотолитографию и травление отверстий в резистивных элементах в зазорах между эмиттерными контактными площадками одновременно с травлением окон в защитном диэлектрическом покрытии в области контактных площадок.

Описание

Изобретение относится к электронной технике.
Цель улучшение энергетических характеристик транзисторов.
Пример конкретного выполнения. На монокремниевой подложке создают диффузионный слой областей базы (толщиной 0,6 0,04 мкм) и эмиттера (глубиной 1,0 0,05 мкм). На слой магнетронным методом наносят слой нихрома (Cr 50% Ni 50% ) толщиной 300 30 30 и с Rs 34 4 Ом/квадрат на установке типа 01НИ-7-006.
Режим нанесения нихрома: ток магнетрона 0,5 0,05 А, давление аргона 0,67 0,07 Па, время осаждения 200 5 с.
Методами фотолитографии при помощи цериевого травителя (церий четырехводный 315 гр, серная кислота 105 мл, вода 1582 мл) создают рисунок резисторов.
Затем через окна в фоторезистивной маске методом ионно-химического травления при помощи источника ионов ИИ-4-015 в хладоне-14 протравливают контактные окна.
После стандартной отмывки проводят напыление металлизации Al-Si 1% Cu 1% толщиной 1,15 0,15 мкм на установке типа 01ИИ-7-006. Непосредственно перед осаждением алюминиевого сплава проводят плазмохимическую очистку пластин.
Режим нанесения металлизации: длительность очистки 220 5 с, нагрев пластин 340 20оС, давление аргона 0,67 0,07 Па, ток магнетронов 10 2 А.
Методами фотолитографии с использованием химического травителя (720 мл ортофосфорной кислоты, 225 мл уксусной кислоты, 750 мл воды) получают рисунок металлизации. Вжигание металлизации проводят в азоте при 500 5оС в течение 600 20 с.
Измеряют сопротивление тестового резистора. Проводят наращивание диэлектрической пленки парофазным методом на установке (оксин-3 при 450оС толщина пленки 0,4 0,04 мкм).
Далее методами фотолитографии создают фоторезистивную маску с окнами для площадок под выводы и для подгонки резисторов. Выбор соответствующего фотошаблона проводят с учетом параметров данной структуры: Rб 0,5 Ом; Rт 160 Ом; Uб 850 мкм, n 50, I 8,5 мкм, Wт 20 мкм, Iт 80 мкм.
Расчет по формуле дает требуемую ширину окон в фотошаблоне W 3,4 мкм.
Проводят ионно-химическое травление диэлектрической пленки и нихрома при помощи источников ионов ИИ4-0,15 в следующем режиме: ток соленоида 1,5 0,1 А, ток ионного пучка 150 10 мА, напряжение пучка 4,5 0,1 кВ, рабочий газ CF4, длительность травления SiO2 80 1 мин, длительность протравливания NiCr 10 0,5 мин.
Завершается изготовление транзисторов разделением подложек на кристаллы, сборочными операциями и измерением параметров транзисторов.
Испытания предлагаемого способа на опытных партиях мощного генераторного СВЧ-транзистора 219128АС позволило за счет подгонки нихромовых балластных резисторов уменьшить разброс энергетических характеристик в сравнении с характеристиками транзисторов, получаемых по известному способу: Kp c 43,6% до 12,3% Ркмакс с 14,5% до 7,8% повысить Рвых с 197,3 вм до 200 вм. Точность воспроизведения номинала резисторов повысилась при этом с 18,7% до 4,5%
Изобретение относится к области электронной техники. Целью является улучшение энергетических характеристик транзисторов. Цель изобретения улучшение энергетических характеристик транзисторов. Способ изготовления мощных многоэмитерных СВЧ транзисторов с балластными резисторами заключается в создании на монокристаллической кремниевой пластине диффузионных областей баз и эммитеров, формирование покрытия из диоксида кремния, нанесение на покрытие тонкопленочного резистивного слоя, создание резистивных элементов, вскрытие контактных окон к областям базы и эммитера, формирование металлизации, наращивание защитного диэлектрического покрытия, травление окон в защитном диэлектрическом покрытии в области контактных площадок металлизации, причем одновременно с созданием резистивных элементов изготавливается тестовый резистор, измеряется его сопротивление по его значению выбирается необходимый фотошаблон из набора фотошаблонов, отличающихся размерами окон на 0,5 1 мкм, проводится фотолитография и травление отверстий в резистивных элементах в зазорах между эммитерными контактными площадками одновременно с травлением окон в защитном диэлектрическом покрытии в области контактных площадок.

Заявка

4612149/25, 28.09.1988

Асессоров В. В, Велигура Г. А

МПК / Метки

МПК: H01L 21/18

Метки: балластными, многоэмиттерных, мощных, резисторами, свч-транзисторов

Опубликовано: 20.10.1995

Код ссылки

<a href="https://patents.su/0-1630564-sposob-izgotovleniya-moshhnykh-mnogoehmitternykh-svch-tranzistorov-s-ballastnymi-rezistorami.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ изготовления мощных многоэмиттерных свч-транзисторов с балластными резисторами</a>

Похожие патенты