Устройство для контроля микрорельефа поверхностей

Описание

1. Устройство для контроля микрорельефа поверхностей, содержащее стойку, установленную на ней измерительную головку с механизмом ее ориентации, выполненную в виде волоконно-оптического преобразователя со световодом в виде коллектора, отличающееся тем, что, с целью расширения номенклатуры контролируемых изделий путем контроля протяженных фасонных отверстий, механизм ориентации выполнен в виде подвески с двумя колесами, двуплечего рычага, установленного шарнирно на стойке с возможностью качания в плоскости оси симметрии стойки и соединенного с ней одним плечом посредством упругой связи, а другое его плечо шарнирно закреплено на подвеске, при этом измерительная головка установлена на подвеске между осями вращения колес.
2. Устройство по п.1, отличающееся тем, что, с целью повышения точности ориентации оси симметрии торца коллектора перпендикулярно контролируемой поверхности, оси вращения колес расположены на расстоянии, не превосходящем диаметр внешнего световода коллектора.
3. Устройство по п.1, отличающееся тем, что, с целью повышения точности контроля путем повышения устойчивости к повороту подвески, ось шарнира, соединяющего подвеску с двуплечим рычагом, расположена со смещением от линии центров вращения колес.

Заявка

4399856/28, 29.03.1988

Абульханов С. Р, Семенов Б. П, Данилов А. В, Митряев Е. Ф, Федоров М. А, Шпатаковский А. Ф, Крамаровский Б. И

МПК / Метки

МПК: G01B 5/28

Метки: микрорельефа, поверхностей

Опубликовано: 10.07.2004

Код ссылки

<a href="https://patents.su/0-1528079-ustrojjstvo-dlya-kontrolya-mikrorelefa-poverkhnostejj.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для контроля микрорельефа поверхностей</a>

Похожие патенты