Способ получения сверхтонких пленок ниобия

Номер патента: 2280

Опубликовано: 15.09.1924

Автор: Щербаков

МПК: C01B 15/00, C01D 13/00, C25B 1/36

Метки: анодного, анодной, металлов, окисления, полимеризации, продуктов, солей, щелочных, электрохимический

...через аппарат, уносит с собою разряжающийся на ее поверхности щелочный металл, подобно тому, как это происходит в аппаратах для хлора и щелочей по ртутному способу. Выходы на анодный и катодный продукты. т.-е. на продукты анодного окисления и на щелочь. в зависимости от характера аниона, достигают, по произведенным до сего времени опытам, 60 - 80" ,. Этицыфры можно повыситьнаиболее подходящие условия плотности тока, концентрации электролита, температуры и т. п.П р и м е р ы анодного окисления с применением ртутного катода.1. Калий-персульфат из калий-сульфата выкристаллизовывается в электролизаторе при обыкновенной температуре. Напряжение 4 5 вольт, выход тока 70 - 75% при непрерывном электролизе. Щелочь практически не содержит сульфата,...

Номер патента: 1322085

Опубликовано: 07.07.1987

Авторы: Ксиров, Самойленко, Смирнов, Тюякпаев

МПК: G01B 11/06

Метки: пленки, показателя, преломления, толщины

...с нормалью к ней в этом центреугол, равный углу Брюстера для этойпластинки при длине световой волныисточника 1, а плоскости, в которыхлежит этот перпендикуляр, и обе нормали ортогональны.Устройство работает следующим образом. 2Линейно поляризованный монохрома- тический световой поток от источника 1 излучения, распространяющийся перпендикулярно к оси вращения предмет. - ного столика 9, проходит на своем пути к этому столику через последова" тельно установленные модулятор 3 света, прозрачную пластинку 4, четверть- волновую Фазовую пластинку 2 и поляризатор 10. Прозрачная пластинка 4 ориентирована под углом 45 С к чет" вертьволновой Фазовой пластинке 2 и благодаря этому отражает часть падающего на нее света на Фотоэлемент 5, Фазовая...

Номер патента: 100437

Опубликовано: 01.01.1955

Автор: Ворогушин

МПК: G01B 5/06

Метки: лакокрасочной, невысохшей, пленки, прибор, слоя, толщины

...соответствующие толщине пленки. Если же высота бортиков окажется большей, чем толщина пленки, то каток нс прикоснется к ней и она, таким образом, нс получит отпечатка делений шкалы. мст изобретения ПредПриборны слояпленки,что он вческоготричныена боков определения толщихшей лакокрасочной чающийся, тем, н в виде цилиндриимеющего эксценки и снабженного ерхности шкалой. для евыс отли шолне катка борти ой пов ОПИСАН Толщину слоя невысохшеи лакокрасочной пленки определяютобычно на глаз, что не дает возможности достаточно точно установить расход лакокрасочных материалов.Предлагаемый прибор, выполненный в виде цилиндрического катка,имеющего шкалу и эксцентричныебортики, позволяет точно определять толщину невысохшей лакокрасочной пленки.На...

Номер патента: 203271

Опубликовано: 01.01.1967

Авторы: Ольшвангер, Таксар, Федотов, Янушковский

МПК: G01B 15/02, G01N 23/02

Метки: листовб1х, пленок, плотности, поверхностной, толщины

...потока излучения при его прохождении через контролируемый материал, источник и детектор размещают с разных сторон контролируемого материала. Бывают случаи, когда этим способом нельзя воспользоваться из-за недоступности отдельных контролируемых узлов.Отличительной особенностью предлагаемого способа является использование для контроля поверхностной плотности или толщины различных материалов и пленок эффекта ослабления обратнорассеянного Р-излучения в воздушной среде, находящейся по другую сторону от исследуемого образца. Это позволяет расширить нижний предел измеряемых величин и упростить конструкцию устройств, осуществляющих данный способ, Последний заключается в следующем. 147метий Р, Р-излучение от источника при первоначальном...

Номер патента: 203272

Опубликовано: 01.01.1967

Авторы: Ольшвангер, Таксар, Федотов, Янушковский

МПК: G01B 15/02, G01N 23/02

Метки: листовых, пленок, плотности, поверхностной, толщины

...качестве источника используют изотоп мягкого Р-излучения, например про метий РП,44 т, а В КаЧЕСтВЕ дЕтЕКтОра МОжЕт бЫтЬ применен торцовый галогенный счетчик или сцинтилляционный счетчик.Источник и детектор Р-излучения расп гают в измерительной головке устройства раллельно друг другу на расстоянии около20 им, а измеряемый материал - в непосредственной близости от них. Источник и детектор устанавливают на сканирующем устройстве, перемещающем их по ширине исследуемого образца, Чтобы повысить эффективностьизмерения, можно использовать несколькоприемников излучения. Источник излученияпомещают в защитный контейнер с коллима 10 тором, благодаря чему исключается попаданиепрямого и отраженного от исследуемого образца излучения на...