Устройство для измерения поверхностной плотности или толщины листовых материалов и пленок

Номер патента: 203272

Авторы: Ольшвангер, Таксар, Федотов, Янушковский

ZIP архив

Текст

Сава Советских Социалистических Респуслик. 42 Ь, 12/О МПК 6 01 Ь оритет омитет по зобретений и открытиипри Совете Министров Опуоликовано 28.1 Х.1967, Бюллетень20СССРДата опубликования описания 15.Х 11.1967 УДК 531,754:531.7Авторы изобретения И. Л. Федотов, В,аксар и Б. А. Ольшванг нушковский, И аявител ИЗМЕРЕНИЯ ПОВЕРХНОСТНОЙ ПЛОТНОСТИЫ ЛИСТОВЫХ МАТЕРИАЛОВ И ПЛЕНОК УСТРОЙСТВО ИЛИ ТОЛ вестные приборы для рхностной плотности и материалов конструкт измерения трудоемок ь резко падает при изм ерения малои лщины листосложны, прооме того, точи тонких плем паве вых цесс иост нок. и то) кр рен 25Изменение величиньнорассеянного излученисследуемом образцеписцем или подается нского регулирования А интенсивности обрат. я после поглощения в регистрируется само- систему автоматиче- С или ЭАУС. ола- паПредлагаемое устроиство позволяет расширить нижний предел измеряемых величин и отличается от известных тем, что в нем используют эффект ослабления обратнорассеянного р-излучения в воздушной среде, находящейся по другую сторону от исследуемого образца. Плотность или толщина тонких пленок и листовых материалов являются функцией измерения интенсивности мягкого Р-излучения, регистрируемого детектором.На чертеже представлена принципиальная блок-схема описываемого устройства, которое включает измерительную головку 1 с источником 2 Р-излучения и детектором 3, измерительную схему 4, конечный прибор 5, контейнер б с коллиматором, исследуемый образец 7, воздушную среду 8.Б качестве источника используют изотоп мягкого Р-излучения, например про метий РП,44 т, а В КаЧЕСтВЕ дЕтЕКтОра МОжЕт бЫтЬ применен торцовый галогенный счетчик или сцинтилляционный счетчик.Источник и детектор Р-излучения расп гают в измерительной головке устройства раллельно друг другу на расстоянии около20 им, а измеряемый материал - в непосредственной близости от них. Источник и детектор устанавливают на сканирующем устройстве, перемещающем их по ширине исследуемого образца, Чтобы повысить эффективностьизмерения, можно использовать несколькоприемников излучения. Источник излученияпомещают в защитный контейнер с коллима 10 тором, благодаря чему исключается попаданиепрямого и отраженного от исследуемого образца излучения на приемник,Р-Излучение от источника при первоначальном прохождении через исследуемый образец,попадая в воздушную среду, испытывает обратное рассеяние и значительно умягчается(энергия излучения снижается почти в двараза).Умягченное обратнорассеянное излучение,20 проходя вторично через исследуемый образец,частично поглощается. Регистрируемое детектором при этом изменение интенсивности иявляется функцией измеряемой поверхностнойплотности или толщины образца,203272 Предмет изобретения Редактор Л. А. Ильина Техред Л, Я. Бриккер Корректоры: Е. Н, Гудзов и Г, И. ПлешаковЗаказ 3652/14 Тираж 535 ПодписноеЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР Москва, Центр, пр. Серова, д. 4 Типография, пр, Сапунова, 2 Применение предлагаемого устройства позволяет измерять толщину пленок от 1,5 до 50 мк или поверхностную плотность - от 1 до 50 гlмв,Устройство для измерения поверхностной плотности или толщины листовых материалов и пленок, содержащее расположенные по одну сторону от исследуемого образца источник Р-излучения и детектор, соединенный с измерительной схемой и конечным прибором, отлииави 1 ееся тем, что, с целью упрощения процесса измерения и расширения нижнего его 5 предела, источник мягкого Д-излучения, заключенный в контейнер с коллиматором, уста.новлен на определенном расстоянии параллельно с детектором на сканирующем устройстве для перемещения детектора и источника 10 в непосредственной близости по одну сторонуот исследуемого образца,

Смотреть

Заявка

845859

И. Л. Федотов, В. А. Янушковский, И. М. Таксар, Б. А. Ольшвангер

МПК / Метки

МПК: G01B 15/02, G01N 23/02

Метки: листовых, пленок, плотности, поверхностной, толщины

Опубликовано: 01.01.1967

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-203272-ustrojjstvo-dlya-izmereniya-poverkhnostnojj-plotnosti-ili-tolshhiny-listovykh-materialov-i-plenok.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для измерения поверхностной плотности или толщины листовых материалов и пленок</a>

Похожие патенты