Способ измерения поверхностной плотности или толщины листовб1х материалов и пленок

Номер патента: 203272

Опубликовано: 01.01.1967

Авторы: Ольшвангер, Таксар, Федотов, Янушковский

МПК: G01B 15/02, G01N 23/02

Метки: листовых, пленок, плотности, поверхностной, толщины

...качестве источника используют изотоп мягкого Р-излучения, например про метий РП,44 т, а В КаЧЕСтВЕ дЕтЕКтОра МОжЕт бЫтЬ применен торцовый галогенный счетчик или сцинтилляционный счетчик.Источник и детектор Р-излучения расп гают в измерительной головке устройства раллельно друг другу на расстоянии около20 им, а измеряемый материал - в непосредственной близости от них. Источник и детектор устанавливают на сканирующем устройстве, перемещающем их по ширине исследуемого образца, Чтобы повысить эффективностьизмерения, можно использовать несколькоприемников излучения. Источник излученияпомещают в защитный контейнер с коллима 10 тором, благодаря чему исключается попаданиепрямого и отраженного от исследуемого образца излучения на...

Номер патента: 574684

Опубликовано: 30.09.1977

Авторы: Арсентьев, Пронин

МПК: G01R 29/12

Метки: заряда, локальной, плотности, поверхностного

...измерений поддерживается по стояпным, благодаря чему остастся неизменным и среднее расстояние от поверхности до сечения, где измеряется электростатическое поле. Индуцпрованпый заряд измеряют на частоте модуляции по индикации амплитуды 25 напряжения, которая пропорциональна локальной плотности заряда исслсдуемой поверхности с учетом ес рельсфа.На чертеже прсдставлсна структурная электрическая схема устройства для реализации 30 предложенного способа.574684 Составитель Е. ЛюбимоваТехред М, Семенов Корректор Л. Котова Редактор Е. Дайч Подписное Изд.795 Тираж 1109 НПО Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб д. 4/5Заказ 2134/2 Типография, пр. Сапунова, 2 Ф3 5Устройство...

Номер патента: 342514

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Таксар, Терехов, Тумулькан, Федорков, Федотов, Янушковский

МПК: G01B 15/02, G01N 23/02

Метки: листовых, пленок, плотности, поверхностной, толщины

...нечувствительные области регистрации детекторов ядерного излучения) . Поскольку в области б, прилегающей к источнику, поток обратнорассеянного от газовой среды р-излучения наиболе интенсивный, то доля нерегистрируемых из общего числа отраженных частиц значительна и применение даже идеально широкого детектора, охватывающего Области б и 7, пе позволяет устранить завиоимость числа регистрируемых частиц от изменения плотности отражающей среды. В результате становится нецелесообразным строить подобные устройства.Такиы образом, точность измерения толщмны или поверхностней плотностями листовых материалов и пленок сильно зависит от геометрии взаимного расположения источника излучения и детектора в тех случаях, когда изменяются параметры газовой...

Номер патента: 1408213

Опубликовано: 07.07.1988

Авторы: Андрейшин, Васильев, Горшков, Кутовой, Петров

МПК: G01B 15/02

Метки: массовой, плотности, поверхностной, толщины

...циональном аналоговом режиме, соединяют с входом сумматора б, на второйвход которого подают репернык сигналот перестраиваемого источника 7 напряжения. Выход сумматора б подключают 3 Она вход преобразователя 8 напряжениечастота, который производит прямоепропорциональное управляемое преобразование входного сигнала в частоту,С выхода преобразователя 8 частотныйсигнал подают на вход вьчислительногоустройства 9, выход которого соединен с входом блока 10 отображения.Вычислительное устройство 9 содержитсредства для преобразования частотно Ого сигнала с блока 8 в сигнал толщинц, Между блоком 3 детектирования исумматором включен КС-звенник 11,Кроме того, для реализации способаиспользуют комплект (три эталонных 45поглотителей известной толщины,...

Номер патента: 1037065

Опубликовано: 23.08.1983

Авторы: Пунько, Тиханович

МПК: G01B 11/06

Метки: пленок, толщины, тонких

...нарушенного полного внутреннегоотражения излучающего блока и на фиксированном расстоянии от нее и, второй поляриэующей решеткой, установ 25 ленной в приемном блоке между призмой полного внутреннего отраженияи анализатором.На чертеже изображена блок-схема устройства для контроля толщинытонких пленок.Устройство содержит излучающийблок, состоящий из последовательнорасположенных источника 1 линейнополяризованного излучения, поляризующей решетки 2, призмы 3 ПВО (пол 35ного внутреннего отражения) и призмы Й НПВО, и приемный блок, состоящий из последовательно расположенных призмы 5 НПВО, призмы 6 ПВО,4 втоРой поляризующей решетки 7, анализатора 8 и приемника 9 излучения,Предлагаемое устройство работаетследующим образом.45Линейно...