G01R 33/12 — измерение магнитных свойств образцов твердых или текучих материалов или изделий из них
Устройство для контроля импульсных параметров магнитных сердечников
Номер патента: 1061080
Опубликовано: 15.12.1983
МПК: G01R 33/12
Метки: импульсных, магнитных, параметров, сердечников
...бло.ка 9 обработки результатов измере ния, Н элементов 10 выводов кода,К входов которого подключены к третьим К выходам соответствующего Мгенератора 7 опорного ступенчатоизменяющегося напряжения, а выходысоединены с третьим входом блока 9,обработки результатов. измерений, М эадатчиков 11 конца эоны стробирования, входы которых соединеныс вторым выходом генератора 2 импульсов тока, а выходы - с входамисоответствующих Й компараторов 8,. М задатчиков 12 уровня, выходыкоторых подключены к четвертым входам соответствующих К стробируемыхпреобразователей 5, й задатчиков 13начала зоны стробирования, входыкоторых соединены с соответствующимивторыми выходами М генераторов 7опорного ступенчато изменяющегосяЭнапряжения, а выходы - с вторыми 35...
Устройство для измерения анизотропии магнитных свойств ферромагнитных материалов
Номер патента: 1064252
Опубликовано: 30.12.1983
МПК: G01R 33/12
Метки: анизотропии, магнитных, свойств, ферромагнитных
...одна катушка), идополнительный цилиндрический броневой электромагнит 4 постоянного токас катушкой 5 постоянного тока.Устройство устанавливают на исследуемый ферромагнитный материал.б ивключают питание катушек 2 и 5 постоянного и переменного тока. Постоянный поток 7 , создаваемыйдополнительным цилиндрическим,броневым электромагнитом 4 постоянного тока, намагничивает верхний слойслой Ферромагнитного материала б донасыщения, в результате чего магнитноесопротивление этого слоя увеличивается в 15-20 раз в зависимости от материала. Переменный магнитный потокЧ,.замыкается по нижним ненасыщеннымслоям ферромагнитного материала б,обладающих меньшим магнитным сопротивлением. Неравномерность распределений этого потока в зазоре междувнешним полюсом...
Устройство для измерения потерь в электротехнической стали
Номер патента: 1064253
Опубликовано: 30.12.1983
МПК: G01R 33/12
Метки: потерь, стали, электротехнической
...из которых размещено по две одинаковые намагничивающие.обмотки 3 и 4 (5 и 6) и по одной измерительной обмотке 7(8), четырех ваттметров 9-12, источнйка 13 постоянного тока, четырех вольтметров 14-17 для определения соответственно среднего и действующего значений напряжения на измерительных обмотках и амперметра для измерения постоянного тока. Намагничивающие обмотки 3-6 соединены в две параллельные ветви по две включенные согласно обмотки разных образцов в каждой ветви, а токовые обмотки ваттметров 9-12 включены последовательно с каждой из четырех намагничивающих обмоток, причем токовые обмотки ваттметров одной из параллельных ветвей включены последовательно- согласно. а другой - последовательно- встречно с намагничивающими ;.,бмотками...
Магнитооптический анизометр
Номер патента: 1064254
Опубликовано: 30.12.1983
Авторы: Архангельский, Глаголев, Колтик, Панов, Червинский
МПК: G01R 33/12
Метки: анизометр, магнитооптический
...и анализатор с приемником излучения, электрически связанный с приемником излучения усилитель, генератор намагничивающего тока, подключенный к перному блоку намагничивания, а также регистратор, снабжен фазовращг елем,выход которого подключен к второмублоку намагничивания, а входк выходу генератора намагничивающего тока четырьмя перемножителями идифференциальным усилителем, оптически снязанными вторым источникомизлучения с вторым поляризатороми вторым анализатором с нторым приемником излучения, а также электри-,чески связанным с вторым приемникомизлучения вторым усилителем, приэтом плоскости падения перного ивторого потоков излучения перпендикулярны друг другу, выход первогопреобразователя напряженности магнитного поля в электрический...
Способ измерения подвижности доменных границ тонких магнитных пленок
Номер патента: 1064255
Опубликовано: 30.12.1983
МПК: G01R 33/12
Метки: границ, доменных, магнитных, пленок, подвижности, тонких
...0 магнитного поля на доменные границы вызывает необходимость применения широкополосных регистрирующих устройств, Это приводит к тому, что отношение сигнал/шум имеет малую :величину (2-5). Препятствием на пу"ти применения данного способа для ромышленного автоматического контроля подвижности доменных границ тонких магнитных пленок являются также трудности реализации доста точно точного измерения времени (или частоты) релаксации доменных границ - промежутка времени, за который величина смещения доменных границ составляет 1-е от максимального смещения. Наиболее близким к предлагаемому по технической сущности является способ измерения подвижностй: доменных границ тонких магнитных пле нок, заключающийся в воздействии на тонкую магнитную...
Устройство для контроля параметров магнитных сердечников
Номер патента: 1064256
Опубликовано: 30.12.1983
Авторы: Айтмагамбетов, Патлах
МПК: G01R 33/12
Метки: магнитных, параметров, сердечников
...устройства,Устройство для контроля парамет-, ров магнитных сердечников содержит П-образный и образцовый сердечники 1 и 2, размещенные на П-образном сер дечнике дне обмотки 3 намагничивания,соединенные последовательно и подключенные к генератору 4 намагничивающего тока, источник 5 оптического излучения, полупрозрачное зеркало б, отражатель 7 и регистрирующий прибор, в качестве которого используется интерферометр 8. Магниточувствительный датчик выполнен в ниде магнитострикционного стержня 9, устанон ленного между образцовым 2 и испытуемым 10 сердечниками, причем одинторец магнитострикцйонного стержня9 жестко прикреплен к средней частиперемычки П-образного сердечника 1.,а нторой торец через полупрозрачноезеркало б оптически связан с...
Четырехполосочный аппарат эпштейна
Номер патента: 1075204
Опубликовано: 23.02.1984
Автор: Хаит
МПК: G01R 33/12
Метки: аппарат, четырехполосочный, эпштейна
...изображен четырехполосочный аппарат Эпштейна, общийвид.Аппарат содержит четыре соленоида 1 с намагничивающими, измерительными обмотками, сложенные в квадрат; край 2 соленоида, скошенный под 45 О для стыковки с соседним соленоидом (узел 1; внутрен- б 0 няя полость 3 для размещения испыту. емого образца; испытуемые образцы 4, соединенные в магнитную цепь; равномерно распределенная намагнячивающая обмотка 5 (узел 11); слой65.б электрической изоляции; линия 7 разъема аппарата.Для снижения потоков рассеяния в местах контакта образцов, последние при укладке в квадрат Эпштейна изменили свое положениеДля этого соленоиды с образцами развернуты на 90 О вокруг своей продольной оси. После чего толщина испытуемой полосы стала основанием, а...
Устройство для измерения периода доменной структуры тонких магнитных пленок
Номер патента: 1076846
Опубликовано: 28.02.1984
Авторы: Аленин, Салахов, Службин, Темерти
МПК: G01R 33/12
Метки: доменной, магнитных, периода, пленок, структуры, тонких
...использован лазер. Соосно с источником 1 света установлены поляризатоп 2, служащий для поляризации света от источника 1, и анализатор 3, предназначенный для подавления лучей нулевого порядка дифракционной картины. Между поляризатором 2 и анализатором 3 размещена исследуемая магнитная пленка 4, Для фокусировки дифрагирующих лучей на фотоприемник 5 между исследуемой магнитной пленкой 4 и фотоприемником 5 соосно с источником 1 света установлен 5 полый цилиндр 6 с зеркальной внутренней поверхностью 7. Цилиндры 6 и 8установлены на вращающемся диске 9,имеющем ось 10 вращения, таким образом, что каждый иэ них может быть 10 зафиксирован фиксатором 11 сооснос источником света. Фстоприемник 5установлен соосно с источником 1света и соединен с...
Способ экспресс-анализа магнитной текстуры ферромагнитных изделий
Номер патента: 1076847
Опубликовано: 28.02.1984
МПК: G01R 33/12
Метки: магнитной, текстуры, ферромагнитных, экспресс-анализа
.... (2)Ъ с4Угол О отсчитывают относительно осей (011 ) , совпадающих по направлению с крутильной осью, Пусть далее Ы,; = (0,1,0); /31 = 0 (фиг. 5). тогда р =со 50, аз=эпЕПодстановка в (1 ) даетЙ 1(О) =а+Ъсов 26, (5)Угол 6 отсчитывают относитесь дноосей (010 ) . Остальные ориентации впроволоках армко-железа не реализуются.Уравнениям (2 и 3) соответствуют полярограммы, показанные на фиг. 6 60(а,б), для оО, Ь 7 Р, с(0,) с)Ь. Обозначим ы 1 о и и 1 оо статистическиевеса первой и второй ориентацийкристаллов, тогда для смешанной текстуры имеем 65 волоке 1 - амплитуду переменноготока для образцов с выбранной геометрией по предварительно составленной таблице,а (а):.Ь - 1 шс 05 В+-" созгВ, (4))1 г1004Для ш 110 = и 1 оо = 1 /2 получаем полярограмму...
Устройство для измерения параметров тонких магнитных пленок
Номер патента: 1078371
Опубликовано: 07.03.1984
Авторы: Глущенко, Зиновук, Коновалов, Лаптиенко, Манянин, Ходосов
МПК: G01R 33/12
Метки: магнитных, параметров, пленок, тонких
...пленки из ненасыщенного состояния в насыщенноев области частот 10-100 мГц 1.Однако использование устройстватребует сложной и дорогостоящейаппаратуры, необходимости примейенияспециальных резонаторов, отстройкиот сигнала, получаемого от немагнитной подложки, а также характеризуется невозможностью проведенияизмерений при частотах свыше 100 мГц.Наиболее близким к изобретениюпо технической сущности являетсяустройство для измерения параметров 40тонких магнитных пленок, содержащеесоединенные генератор высокой частоты и высокочастотный контур, соединенные синхронный детектор и регистратор, генератор низкой частоты, 45электромагнит, катушку модуляции, расположенную на электромагните, и блок питания электромагнита, причем первый и второй...
Устройство для измерения потерь энергии на вращательное перемагничивание ферромагнитных материалов
Номер патента: 1078372
Опубликовано: 07.03.1984
Авторы: Абрамов, Корзунин, Ткаченко
МПК: G01R 33/12
Метки: вращательное, перемагничивание, потерь, ферромагнитных, энергии
...совпадающими с исследуемым образцом 2 и расположенный от него на расстоянии, достаточном для свободного прохождения в зазоре измерительной катушки 5,при это ось 1 вращения образца 2 перпендикулярна оси вилки 3, подшипники 7 вращения измерительной катушки 5, токосъемные кольца 8 и щетки 9, стрелками на чертеже показано направление внешнего магнитного поля Н.Устройство выполнено следующим образом, Образец 2 в форме диска диаметром 28 мм скреплен (склеен с миниатюрной крыльчаткой 10. Через центр образца 2 проходит ось 1, которая укреплена в вилке 3 скрепленной с трубкой 4 для подвода сжатого воздуха, которая одновременно явля-. ется держателем образца 2 в продоль"- ном постоянном магнитном поле. Измерительная катушка 5 намотана на...
Способ измерения магнитных характеристик протяженных ферромагнитных тел
Номер патента: 1080092
Опубликовано: 15.03.1984
Авторы: Зацепин, Кирякин, Попов
МПК: G01R 33/12
Метки: магнитных, протяженных, тел, ферромагнитных, характеристик
...цель достигается тем, что согласно способу, основанному на определении величины магнитного поля в однородном поле, воздействуют на ферромагнитное тело неоднородным магнитным полем и среднее значение напряженности поля магнитной поляризации определяют из соотношения(1 -- ) (1) 30 где НН средняя н апряже н ностьнеоднородного магнитного поля катушки, А/м;с.(с - относительные магнит1ные проницаемости ис-.следуемого ферромагнитного тела и материала.На чертеже приведена блок-схемабаллистической установки для осууествления предлагаемого способа,Установка состоит иэ реостатов1,2 и 3 для регулировки тока в намагничивающей и размагничивающей цепях и цепи определения баллистической постоянной гальванометра 4, вы 45 полненной на ключах 5,6 и 7...
Способ определения температуры нееля образца
Номер патента: 1081578
Опубликовано: 23.03.1984
Авторы: Алекперов, Алиев, Амиров, Искендеров, Исмаилзаде, Исмаилов, Салаев
МПК: G01R 33/12
Метки: нееля, образца, температуры
...2 3,Недостатком известного способаявляется необходимость измерениябольшого числа величин магнитнойвосприимчивости при различных температурах, на что затрачивается много времени.Целью изобретения является повышение экспрессности способа определения температуры Нееля образца.Указанная цель достигается тем,что согласно способу определениятемпературы Нееля образца путемвоздействия на него магнитным полемпри различных температурах, определяют величину напряженностей магнитного поля при различных температурах, при которых на образце возникает максимальный индуцированныйэлектрический сигнал, и по полученным значениям,аппроксимируя эту зависимость к нулю, по оси температуры определяют искомую величинуНа чертеже изображен график...
Способ бесконтактного измерения электропроводности цилиндрических проводящих немагнитных образцов
Номер патента: 1083140
Опубликовано: 30.03.1984
Авторы: Авраменко, Себко, Тюпа
МПК: G01R 33/12
Метки: бесконтактного, немагнитных, образцов, проводящих, цилиндрических, электропроводности
...Г 21Однако этот способ характеризуется невысокой точностью измерений.Цель изобретения - повышение точности путем устранения влияния поперечной составляющей электропровод- ности,1 40Поставленная цель достигается тем, что согласно способу бесконтактного измерения электропроводности цилиндрических проводящих немагнитных образцов, включающему возбуждение в образце вихревых токов пере 45 менным.магнитным полем, создаваемым катушкой возбуждения, компенсацию ЭДС, возникающей в измерительной катушке под действием переменного магнитного поля, определение фазы по разнос ти измерительных сигналов и измерение разности фаз между ними, переменное магнитное поле прикладывают перпендикулярно оси образца.Отличительными признаками способа являются...
Способ измерения магнитного потока циклически перемагничиваемого ферромагнетика
Номер патента: 1091097
Опубликовано: 07.05.1984
Авторы: Архангельский, Глаголев, Колтик, Червинский
МПК: G01R 33/12
Метки: магнитного, перемагничиваемого, потока, ферромагнетика, циклически
...Указанная цель достигается тем, что согласно способу измерения магнитного потока циклически перемагни чиваемого ферромагнетика, заключающемуся в формировании сигнала, пропорционального производной магнитного потока по времени,ропорциональном уменьшении частот спектральных 40 составляющих сформированного сигнала, выделении низкочастотной части спектра результирующего сигнала, пропорциональной магнитному потоку, и ее регистрации, формируют напРяжение ли лообразной формы с частотой, близкой к частоте перемагничивания, и умножают его на сигнал, пропорциональный производной измеряемого магнитного потока.50На фиг. 1 изображена структурная схема устройства для реализации способа; на фиг. 2 - временные диаграммы сигнала Ос , пропорционального...
Устройство для измерения динамических характеристик цмд материалов
Номер патента: 1091098
Опубликовано: 07.05.1984
Авторы: Ильяшенко, Матвеев, Сидоров, Элеменкин
МПК: G01R 33/12
Метки: динамических, характеристик, цмд
...что приводит к упрощению процедуры измерений и увеличению производительности измерений. Замена диска кольцом (имеющим ширину; примерно равную диаметру ЦМД), позволяет практически исключить изменение диаметра домена при изменении величины вращающегося поля управления за счет того, что глубина и форма магнитостатической ловушки у такой геометрии управляющего покрытия имеет значительно меньшую зависимость от величины поля. управления, чем у диска.На фиг. 1 изображена блок-схема устройства для измерения динамических характеристик образцов ЦМД-материалов; на Фиг, 2 - участок образца ЦМД-материала с нанесенными на него магнитными управляющими элементами.устройство фиг, 1) содержит осве. титель 1, поляриэационный микроскоп 2, магнитную...
Устройство для измерения магнитных характеристик ферромагнитных замкнутых образцов
Номер патента: 1093997
Опубликовано: 23.05.1984
Автор: Себко
МПК: G01R 33/12
Метки: замкнутых, магнитных, образцов, ферромагнитных, характеристик
...содержащем магнитопровод с намагничивающей н измерительной обмотками, расположенный вдоль оси симметрии замкнутого образца, магннтопронод выполнен з виде ферромагнитного стержня, наложенного на образец и пркжагого своей боковой поверхностью к торцовой плоскости образца с помощью прижимных приспособлений, установленных с возможностью свободного перемещения вдоль стержня, а намагничнвающая к измерительная обмотки расположены на стержне между прижимными приспособлениями. 60На фиг, 1 изображена конструкция предлагаемого устройства на фнг. 2- то же, вкд сверху; на фиг, Э " направление основных магнитных потоков. в стержне и в образце. б 5постоянная веберметра;отброс указателя веберметра 1число витков измерительнойобмотки;площадь...
Устройство для измерения динамических магнитных характеристик
Номер патента: 1093998
Опубликовано: 23.05.1984
Авторы: Винокуров, Степанов, Шекирюк
МПК: G01R 33/12
Метки: динамических, магнитных, характеристик
...тик как динамическая кривая намагничивания Вщ = Й(Н ) и кривая дефференциальной магнитной проницаемости (Э,) = Г(Н ), так как эти зависимости определяются по точкам , что суще Ф1 В ЕЕственно снижает производительность измерений.Цель изобретения - повышение про" изводительности измерения динамических магнитных характеристик.50Укаэанная цель достигается тем, что в устройство, содержащее источник намагничивающего тока, включенный последовательно с измерителем тока и намагничивающей обмоткой преобразователя, последовательно соединенные измерительную катушку, преобразователь среднего значения и индикатор, допол. кительно введены вторая измерительная катушка, объединенная в общий 60 блок с первой измерительной катушкой с воэможностью изменения...
Пермеаметр
Номер патента: 1095118
Опубликовано: 30.05.1984
Авторы: Кугаевский, Лукашенок
МПК: G01R 33/12
Метки: пермеаметр
...с осями симметрии Н-об20 з 1095 разной пластины, цилиндрической пружины и конической втулки, а площадь поперечного сечения сердечника определяется следующим выражением:5 з 5 1 Кс.) 5 угловая координата сечения,коэффициент пропорциональности5 - начальная площадь поперечо 1 Оного сечения сердечника прис= О.На фиг, 1 показан принципиальныйвид конструкции пермеаметра, продольный осевой разрез; на фиг. 2 -сечение А-А на фиг. 1; на фиг. 3 и154 - проекции сердечника первичнойобмотки,Пермеаметр содержит первичную обмотку 1, выполненную из двух идентичных половин 2 и 3 и размещеннуюна тороидальном сердечнике 4 из ферромагнитного материала, вторичнуюобмотку в виде замкнутого коаксиального цилиндра с наружным 5 и внут 25ренним 6 электродами, а...
Устройство для измерения магнитной проницаемости на сверхвысоких частотах
Номер патента: 1095119
Опубликовано: 30.05.1984
Авторы: Дымшиц, Овчинников, Пчельников, Суслов
МПК: G01R 33/12
Метки: магнитной, проницаемости, сверхвысоких, частотах
...пленки электрический ток не наводится и, следовательно, проводимость исследуемого образца не оказывает влияния на структуру высокочастотного электромагнитного поля в резонаторе, Взаимодействие исследуемого образца с полем резонатора осуществляется только на продольной составляющей магнитного поля, и частота установившихся в резонаторе колебаний определяется величиной магнитной проницаемости исследуемой ферромагнитной пленки и не зависит от ее проводимости.На фиг. 1 представлена блок-схема устройства; на фиг. 2 - конструкция резонатора; на фиг. 3 - модель анизотропно-проводящего цилиндрического экрана с продольной проводимостью.Блок-схема устройства содержит генератор 1 (СВЧ колебаний), соединительную линию 2, выполненную в виде...
Устройство для измерения динамической обратимой магнитной проницаемости
Номер патента: 1099293
Опубликовано: 23.06.1984
Авторы: Винокуров, Гасельник, Ширинян
МПК: G01R 33/12
Метки: динамической, магнитной, обратимой, проницаемости
...4, последоватепьно соединенные измерительную обмотку 5, усилитель 6, синхронный детектор 7 и индикатор 8, второй вход которого через блок 9 формирования опор ного напряжения соединен с выходом генератора 3 низкой частоты, а управляющий вход синхронного детектора 7 через фазозадатчик 10 связан с вторым выходом генератора 1 высокой частоты, генератор 11 опорного напряжения, последовательно соединенные квадратурный фазозадатчик 12, блок 13 выделения абсолютных значений, суммирующий усилитель 14 и модулятор 15, причем вход квадратурного фазозадатчика 12 связан с выходом генератора 3 низкой частоты, выход модулятора 15 соединен с высокочастотной возбуждающей обмоткой 2, второй вход модулято- ра 15 - с выходом генератора 1...
Устройство для магнитошумовой структуроскопии
Номер патента: 1101764
Опубликовано: 07.07.1984
Авторы: Венгринович, Дегтерев, Клюев
МПК: G01R 33/12
Метки: магнитошумовой, структуроскопии
...темчто в устройстве для магнитошумовойструктуроскопии, содержащем,генератор тока, соединенный с намагничивающей обмоткой, расположенной намагнитопроводе, в зазоре которогоразмещен эталонный образец, первую обмотку регистрации, соединеннуюс блоком обработкии индикатор, введены вторая обмотка регистраций, вто. рой блок обработки и блок вычитания, блоки обработки выполнены в виде анализаторов спектра, магнитопровод выполнен Ф-образным, при этомнамагничивающая обмотка расположенана его среднем стержне, первая обмотка регистрации размещена в эазоре одного из,боковых стержней, аэталонный образец расположен с воэможностью возвратно-поступательного перемещения в зазоре второго бокового стержня магнитопровода вместес второй обмоткой регистрации,...
Способ измерения коэрцитивной силы
Номер патента: 1103165
Опубликовано: 15.07.1984
Авторы: Мельгуй, Сандомирский
МПК: G01R 33/12
Метки: коэрцитивной, силы
...устройства, реализующего предлагаемый способ, на фиг, 2 представлены временные диаграммы работы этого устройства.Устройство содержит последовательно соединенные источник 1 намагничивающего тока,намагничивающий соленоид 2, резистор 3, а также последовательно соединенные измерительную катушку 4, пиковый компаратор 5 и регистратор 6, второй вход которого подключен к точке соединения резистора 3 и намагничивающего соленоида 2.Коэрцитиметр работает следующим образом.Преобразователь, состоящий из намагничивающего соленоида 2 и измерительной катушки 4, устанавливается на поверхность контролируемого изделия 7. Источник 1 намагничивающего тока подает на намагничивающий соленоид 2 линейно возрастающий ток (фиг. 2 а). При этом сигнал на...
Устройство для магнитооптических исследований доменосодержащих пленок
Номер патента: 1105837
Опубликовано: 30.07.1984
Авторы: Епанчинцев, Катсон, Расторгуев, Силантьев, Шелухин
МПК: G01R 33/12
Метки: доменосодержащих, исследований, магнитооптических, пленок
...введены установленные на общей оси между источником излучения и входом поляризяционного микроскопа оптически связанные фокусирующая линза, рас - сеивяющий диск и корректирующая линза, а также установленная на общей оси телевизионная установка, вход50 которой оптически связан с выходом поляризационного микроскопа, при этом в качестве источника излучения используется источник монохроматического направленного излучения.55На чертеже представлена структурная схема, поясняющая работу устройствя. Устройство для магнитооптических исследований доменосодержащих пленок содержит установленные на одной оси, оптически связанные источник 1 направленного монохроматического излучения, поляриэационный микроскоп 2 и блок 3 генерации магнитного...
Устройство для определения магнитных характеристик ферромагнитных материалов
Номер патента: 1112328
Опубликовано: 07.09.1984
Авторы: Гринин, Соколенко, Феоктистов, Фролов
МПК: G01R 33/12
Метки: магнитных, ферромагнитных, характеристик
...первого и второго усилителей импульсов.На чертеже показана структурная электрическая схема предлагаемого устройства.Устройство содержит последовательно соединенные источник 1 переменного тока, регулятор 2 напряжения, резистор 3 и перемагничивающую катушку 4 с помещенным в нее исследуемым образцом 5, измерительную катушку 6, через первый усилитель 7 и3интегратор 8 соединенную с первым стробоскопическим преобразователем 9, первый блок 10 установки масштаба, второй усилитель 11, через второй стробоскопический преобразователь 12 соединенный с вторым блоком 13 масштаба, первый фазовращатель 14, подключенный через первый усилитель 15 импульсов к смесителю 16 и к первому ,и второму стробоскопическим преобра зователям 9 и 12, последовательно...
Устройство для измерения статических магнитных характеристик ферромагнитных материалов
Номер патента: 1113758
Опубликовано: 15.09.1984
Авторы: Бондарь, Дрейзин, Иванов, Куликов
МПК: G01R 33/12
Метки: магнитных, статических, ферромагнитных, характеристик
...12, причем измерительная обмотка 7 соединена с входами аналогового ключа 8 и нуль-органа 1 1, вь 1- ход ключа 8 подключен к входу интегратора 10, параллельчо которому подсоединен аналоговый ключ 9, выход нуль-органа 11 подключен к управляющему входу микропроцессора 1, а выход ингегратора 10 - к аналого-циф3 111 З 7 ровому преобразователю 12, параллельные выходы которого связаны с информационными входами микропроцессора 1, управляющие выходы которого соединены с управляющими входами аналоговых ключей 8 и 9.5Устройство работает следующим образом.Процесс измерения в каждой точке петли гистерезиса разбивается на два цикла: магнитной подготовки и собственно измерения. В цикле магнитной подготовки в микропроцессоре 1 формируется код,...
Устройство для измерения магнитных параметров магнитнотвердых материалов
Номер патента: 1117545
Опубликовано: 07.10.1984
Авторы: Сергеев, Сильванский, Смирнов, Тугарин, Шибаев, Шихин
МПК: G01R 33/12
Метки: магнитнотвердых, магнитных, параметров
...усилителя второго канала и блока памяти,последовательно соединенные с суммирующими усилителями анагога-цифровые преобразователи и регистры, приэтом вторые входы аналога-цифровогопреобразователя и регистра второгоканала соединены с выходом нуль-органа первого канала, вторым входомсвязанного с импульсным источником 50питания, а вторые входы аналога-цифрового преобразоватеЛя и реггстрапервого канала соединены с выходомнуль-органа второго канала.Кроме того, измерительный преобраэователь намагниченности выполнен в виде измерительного соленоидаи двух последовательно соединенных компенсационных обмоток, расположенных симметрично измерительному соленоиду, длина которого выбирается изсоотцацения 151 оьр где оьр - длина испытуемого образца,Иа...
Устройство для сортировки ферритовых сердечников
Номер патента: 1121635
Опубликовано: 30.10.1984
Автор: Воробьев
МПК: G01R 33/12
Метки: сердечников, сортировки, ферритовых
...прохода фер.ритового сердечника, причем геометрические оси обмотки и канала в катушке индуктивности параллельны осиканала в шибере и расположены в одной плоскости.При этом на штоке отсекателя выполнен скос, плоскость которого перпендикулярна оси канала в катушкеиндуктивности,На фиг,1 изображена схема предлагаемого устройства; на Фиг.2 - шиберный питатель и измерительный узел,разрез, на фиг.З - измерительныйузел (узел 1 на фиг.2); на фиг,4разрез Л-А на Фиг,З; на фиг.5 вузел11 на Фиг,2, одно иэ положений шибера; на фиг.б - то же, другое положение шибера.Устройство для сортировки Ферритовых сердечников содержит фиг.1)механизм 1 загрузки, шиберный читатель 2 с шибером 3, отсекатель 4поштучной выдачи, выполненный в видештока 5, кинематически...
Устройство для измерения слабой остаточной намагниченности образцов
Номер патента: 1122906
Опубликовано: 07.11.1984
Авторы: Батюк, Еремеев, Уваров
МПК: G01R 33/12
Метки: намагниченности, образцов, остаточной, слабой
...вход преобразователя4 модуляции соединен с задающим генератором 1, третий вход - с вторым выходом усилительно-преобразовательного блока 5, второй вход которогосоединен с задающим генератором.Известно также устроиство, которое содержит последовательно соединенные задающий генератор, феррозонд, помещснный в магнитный экран, предва ритсльный полосовой усилитель, усчлительно-преобразовательную цепь, состоящую иэ усилителя и синхронного детектора и фазочувствктельнык низко частотный регистратор, состоящий из 50 усилителя низкой частоты, фазового детектора, измерительного прибора и генератора опорного напряжения 2 .Однако известное устройство обладает недостаточной помехоустойчи востью от воздействия физических величин, создающих...
Устройство контроля сердечников для накопительных магнитных усилителей
Номер патента: 1126908
Опубликовано: 30.11.1984
Авторы: Думенский, Портянников, Синегубов, Смоленков
МПК: G01R 33/12
Метки: магнитных, накопительных, сердечников, усилителей
...1 напряжения,а выход - к вторым входам первого и второго ключей 6 и 8, вход первого ключа 6 связан с выходом суммирующего усилителя 4 и с входом измерительного прибора 5, последовательно соединенные первый генератор 12 постоянного напряжения, третий ключ 13, второй интегратор 14, последовательно соединенные второй генератор 15 постоянного напряжения и четвертый ключ 16, а также второй блок 17 управления, первый выход которого подключен к второму входу третьего ключа 13, второй выход - к второму входу четвертого ключа 16, а вход - к выходу нуль-органа 9, выход четвертого ключа 16 подключен к входу второго интегратора, выход которого соединен с вторым входом усилителя 11 с регулируемым коэффициентом усиления, а также сердечник 18.3...