Шекирюк

Устройство для измерения динамических магнитных характеристик

Загрузка...

Номер патента: 1093998

Опубликовано: 23.05.1984

Авторы: Винокуров, Степанов, Шекирюк

МПК: G01R 33/12

Метки: динамических, магнитных, характеристик

...тик как динамическая кривая намагничивания Вщ = Й(Н ) и кривая дефференциальной магнитной проницаемости (Э,) = Г(Н ), так как эти зависимости определяются по точкам , что суще Ф1 В ЕЕственно снижает производительность измерений.Цель изобретения - повышение про" изводительности измерения динамических магнитных характеристик.50Укаэанная цель достигается тем, что в устройство, содержащее источник намагничивающего тока, включенный последовательно с измерителем тока и намагничивающей обмоткой преобразователя, последовательно соединенные измерительную катушку, преобразователь среднего значения и индикатор, допол. кительно введены вторая измерительная катушка, объединенная в общий 60 блок с первой измерительной катушкой с воэможностью изменения...