G01N 23/02 — путем пропускания излучений через материал
Мйкротронный дефектоскоп
Номер патента: 372752
Опубликовано: 01.01.1973
МПК: G01N 23/02, H05H 13/06
Метки: дефектоскоп, мйкротронный
...генератора расположены на горизонтальной оси вращения. Кроме того, в данной конструкции, в отличие от стационарного микротрона, вакуумный электро- разрядный насос помещен непосредственно в вакуумную камеру между полюсами магнита ускорителя. Для работы насоса используется магнитное поле микротрона и отпадает необходимость в постоянном магните насоса, корпуса насоса, вакуумных вентилях и т. д. Это упрощает конструкцию, уменьшает вес и габариты подвижного микротронного дефектоскопа.На чертеже показан предложенный микро- тронный дефектоскоп, один из вариантов.В корпусе 1 расположен электромагнит 2, содержащий вакуумную камеру 3, коллиматор излучения 4, электроразрядный насос 5 и ускоряющий резонатор б. Ускоряющий резонатор соединен с...
Способ определения содержания клинкера
Номер патента: 374530
Опубликовано: 01.01.1973
Автор: Ате
МПК: G01N 23/02, G01N 33/38
Метки: клинкера, содержания
...способ определения содержания клинкера в цементе путем определения интенсивности рентгеновского излучения аналитической линии определенного минерала в исследуемой пробе и эталонных образцах, сравнения полученных интенсивностей.Цель изобретения - улучшение контроля производства цемента.Достигается это тем, что эталонные образцы приготавливают из смеси клинкера с добавками, колебания которых в образцах охватывают весь диапазон изменения состава цемента, а интенсивность рентгеновского излучения аналитической линии минерала ставят в соответствие содержанию клинкера в цементе, причем исполъзуют такой минерал, который вносится в цемент только клинкером, например, алит.Приготавливают эталонные образцы. При этом отбирают средние пробы...
412536
Номер патента: 412536
Опубликовано: 25.01.1974
МПК: G01N 23/02
Метки: 412536
...интенсивное перемешивание металла, которое является основной причиной значительного уменьшения (в 10000 - 100000 раз) времени полной экстракции летучих примесей из металла по сравнению с методом вакуум-плавки. Кроме того, при этом повышается точность, чувствительность локального анализа и его достоверность. дмет изобретен е спирально-винтовых аксиальных электронных пучков в качедля перемешивания жидкого Применено-сим метрстве средстметалла. да,й Да=в вде г= Изобретение относится к металлургии и касается контроля качества и состава металла, в частности экстракции газовых примесей при анализе металлов.Известно применение остросфокусирован ных электронных пучков для расплавления металла в точке. Однако использовались лишь электронные...
416599
Номер патента: 416599
Опубликовано: 25.02.1974
МПК: G01N 23/02, G01N 9/24
Метки: 416599
...часть клина, соответствую 1 ую началу шкалы. При этом справедливо выражение,с ККгде (р - начальное положение клина.Размах шкалы прибора Ь, определяемый как разность между начальным и конечным положениями клина, соответствует диапазону измерения плотности Ьр, определяемому как разность между верхним и нижним значением диапазона,Цель изобретения - обеспечить возесожность плавной регулировки диапазона измерения.Зто достигается путем введения устро (с Бы, позволяющего плавно измепять коэффицие;1; передачи либо измериельного, либо ко)пе.- сационного каналов, и компенсатора, комис сирующего дополните(Ьньи сигнал разоылы- Са, ВОЗНИКаЮЩИй ПРИ ИЗМЕНЕНИИ КОЭффИЦТСс- та ПЕРЕДаЧИ ОДНОГО ИЗ КанаЛОВ, Б КаЧССсБС устроиства для изменения коэффициента...
426174
Номер патента: 426174
Опубликовано: 30.04.1974
Авторы: Изобретени, Колесников, Кононенко, Лукь, Малов, Поль
МПК: G01N 23/02
Метки: 426174
...2 - смотровое окно, 3 - визирное устройство, 4 - источник рентгеновского излучения, 5 - бериллиевое окно, 6 - передняя крышка камеры, 7 - марка-указатель.Источник рентгеновского излучения укреплен на крышке камеры испытательной машины с помощью специального устройства, позволяющего источнику перемещаться вертикально параллельно оси исследуемого образца, Положение источника рентгеновского излучения однозначно определяет, в какое место образца попадает рентгеновский пучок.426174 Петрова Акимова стявитсл Корректор Н. Ау Редактор Т. РыбаловаЗаказ 2702/31 ЛНИИПИ ек 1 Тираж 65тега Совета Министрий и открытийкяя няб, д. 4 5 Изд. Хо 1565 осударстненного кои по делам изобрете Москва, )К.,35, РяПодписноеСССР Типография, пр. Сапунова,3При...
Способ геометрических измерений внутри непрозрачных объектов
Номер патента: 438907
Опубликовано: 05.08.1974
Авторы: Еникеева, Крохин, Любимов, Надобников, Рабодзей
МПК: G01N 23/02
Метки: внутри, геометрических, измерений, непрозрачных, объектов
...на пути пучка 4 рентгеновских лучей, исходящих из источника 5 и попадающих на мишень 6 рентгеночувствительного телевизионного преобразователя 7, с помощью которого теневое рентгеновское изображение внутренней структуры объекта 1 преобразуется в видимое, наблюдаемое в увеличенном виде на экране 8 видеискательного устройства 9, Источник 5 рентгеновского излучения и преобразователь 7 находятся на одной оси (оси просвечивания), а координатно-счетное устройство 3 с манипулятором 2 позволяет перемещать и вращать объект 1 относительно оси просвечивания,Визирное перекрестие 10 создается замешиванием в телевизионный сигнал коротких импульсов с генератора 11. С помощью этих импульсов образуется вертикальная визирная линия, которая может...
Способ определения влажности материалов
Номер патента: 456195
Опубликовано: 05.01.1975
Авторы: Деспотули, Пустобаев, Учитель
МПК: G01N 23/02
Метки: влажности
...излучения, не являются чувствительными и точными в тех случаях, когда массовые коэффициенты ослабления составляющих компонентов материала близки к массовым коэффициентам ослабления воды,Цель изобретения - повышение чувствительности и точности анализа.Согласно изобретению, поставленная цель достигается благодаря тому, что навеску материала охлаждают ниже температуры замерзания воды и измеряют количеством льда методами рентгеновского фазового анализа,Д я определения влажности материалов пуоблучения их рентгеновским излучением льзуют дифрактометр УРС. Съемка ведется по методу Дебаяисследуемого веществакотемпературной камерепри температуре криста5 ства.Интенсивность брекристаллов льда аинтенсивность пзлучмом направлении,...
Камера для исследования растворимости твердых тел
Номер патента: 464808
Опубликовано: 25.03.1975
МПК: G01N 23/02
Метки: исследования, камера, растворимости, твердых, тел
...виле старикана, в стеяках которого на .различных расстояниях от;дна старикана расположены отверстия лля прохождения рентгеновских лучейразмер которых выбран таким, чтобы жидкость удерживалась з стакане за счет действия молекулярных сил. Сущность изобретения поясняет чертеж.Во внешнем кожухе 1 " окошками 2 из материаласлабо поглощающего рентгегозские лучи, расположен держатель растворителя в виде стакана 3. В стенках стакана д вьвполнены отверстия 4, расположенные на различных уровнях от лна стакана. На каждом урозне имеются отверспия для прямого ренггеновского пучка и для регистрации вторичного:излучения, Размер огверстий зыоран таким, чтобы растворитель 5 не выливался из старикана. Расположение окошек 2 соответствует рааположеяию...
Криостат для рентгенографии кристаллов
Номер патента: 469917
Опубликовано: 05.05.1975
Авторы: Бабаянц, Бойко, Вологин, Иванов, Миренский
МПК: G01N 23/02
Метки: криостат, кристаллов, рентгенографии
...вращения 14 и с контейнером 8, В контейнере выполнена фиксирующая положение держателя 9 образца плоскость 15. Прижим держателя 9 25 к плоскости 15 осуществлен с помощью пружины 16. Для уменьшения теплопритока к образцу со стороны привода 14 держатель 9 соединен с зажимом мембранной пластиной 17. Контейнер 8 и обойма 13 окружены 30 изолирующим слоем 18, в котором выполне.на пробка 19, совпадающая с каналом обоймы 13.Корпус криостата 1 смонтирован на основании 20 с юстировочным механизмом, приспособленным для установки на стандартных дифрактометрах. Предусмотрен нагреватель 21 для предотвращения замерзания окон 2. Также предусмотрены датчики уровня хладагента, двигатель для передачи вращения обойме 13 (не показаны).Устройство работает...
Криостат для рентгенографии кристаллов
Номер патента: 489025
Опубликовано: 25.10.1975
Авторы: Вологин, Комисарин, Миренский
МПК: G01N 23/02
Метки: криостат, кристаллов, рентгенографии
...соплом, для выхода газа,Ны ныружн й поверхности насалки 14 навита электросцирип, 15 для ее подогрева.Описываемое устрой 1 во работает следукэшим образом,Пары хладагечта (эцэоты), обэ 1 эызуюшиеся в результате исп;эреция жидкого азотав сосуде 1, по змеевику 7 поступают в те 1 ъмокамеру 8, Температура газового потокатерм камеи Ь, а саедоьатс лицо, иструи газо, выходящие из двухходовог окоаксиыльного сопла 11 и 12, регулирунэтся с помсшью электроспирыли нагревателя9, помеше)ыо о в потоке газа. Темцерытуры газового потока измеряется термопарой 10, которая яв л етс и датчиком обратнсэй связи систем автоматического регулирования темперы 1 уры потока,Выхоляший из термоквмеры 8 газовыйпоток раздваивается двухходовым коаисиальным соплом...
Способ контроля прочности кокса
Номер патента: 495590
Опубликовано: 15.12.1975
Авторы: Антоновский, Брук, Василенко, Котов, Кучмий, Пинчук, Спасов, Трофименко
МПК: G01N 23/02
...рассева на ситах содержания кусков крупнее 40 мм и мельче 10 мм.Недостатками известного способа контроля 10 являются дискретность, недостаточная точность и представительность получаемой информации, неоперативность, влияние субъективных факторов на его результаты,Цель изобретения - получение объектив ной и представительной информации, пригодной для оперативного регулирования технологических режимов производства, подготовки и загрузки кокса в технологические агрегаты, Это достигается тем, что непрерывно из меряют величину объемной массы кокса, например, радиоизотопным методом в двух точках технологического потока до и после разрушения и по изменению величины объемной массы судят о прочности, 25На чертеже приведена схема...
Приставка к ренгеновскому дифрактометру
Номер патента: 512413
Опубликовано: 30.04.1976
Авторы: Майле, Мумладзе, Наскидашвили
МПК: G01N 23/02
Метки: дифрактометру, приставка, ренгеновскому
...ампулу 7 для образца к базирующему выступу на блоке держателя, Конусныс расточкп стакана-хвостовика 10 и выступа дна стакана 11 соответствуют сопрягаемым фаскам блока держателя,Для подачи сжатого гелия в сильфоне имеется трубка 17. Трубка 18 предназначена для заливки жидкого хладагента (азот) в сосуд, а трубка 19 - для отвода паров жидкого хладагента. Сливка 20 предназначена для откачки внутренней полости приставки и для подачи туда паров жидкого азота. Сливка 21 служит для подсоединения вакуумной тепло- изоляционной рубашки приставки к вакуумной линии.На кожухе 5 вакуумной теплоизоляции, стакане-хвостовике 10 и стакане 11 для прохождения рентгеновских лучей имеются по два окна (высотой 30 мм и углом расствора 90 каждое, что дает...
Устройство для измерения плотности и влажности почво грунтов
Номер патента: 519621
Опубликовано: 30.06.1976
МПК: G01N 23/02
Метки: влажности, грунтов, плотности, почво
...на другом конце консольно закреплен детектор излучения.Это устройство не позволяет измерять плотность и влажность одновременно.Известно также устройство для измерения и влажности почвогрунтов, содержащее гамма-плотномер и нейтронный влагомер, стойки- ножи, на одних концах которых расположены источники гамма-излучения и нейтронов, а на других концах - соответствующие детекторы, тележку с устройством для крепления и в тикального перемещения стоек-ножей, сх обработки сигналов детекторов.Однако таким устройством невозможно проводить измерения в верхних слоях почвы, кроме тстго, оно имеет невысокую точность из-за влияния воздушных зазоров в исследуемом пространстве.Цель изобретения - повышение точности и расширение диапазона измеренияЭто...
Способ определения плотности грунта
Номер патента: 620877
Опубликовано: 25.08.1978
Авторы: Бобров, Текучев, Текучева
МПК: G01N 23/02
...максиму тенсивности рассеянного излу и по величине этого расстоян о плотности грунта 2.Ш ер нЭто. достигается тем, Что в известном способе определения плотностигрунта путем его облучения потокомгамма-квантов и регистрации излучения при разных расстояниях между источником и детектором, источник и о детектор помещают .в грунт на исследуемый горизонт, регистрируют полноераспределение рассеянных гамма-квантов вокруг источника, определяютдлину свободного пробега первичных ф гаьака-квантов по положению максимума полученного распределения, а плотность грунта определяют по соотно()1)(я файв),и вый коэффициент ослабления гаммавантов грунтом.На чертеже показана кривая расПределения интенсивности рассеянных гамма-квантов Э в зависимости...
Способ генерации дырочных центров окраски в диэлектрике
Номер патента: 432797
Опубликовано: 15.01.1979
МПК: G01N 23/02
Метки: генерации, диэлектрике, дырочных, окраски, центров
...2Цель. изобретения - разработка бесконтактного способа генерации дырок в диэлектриках любого тина и состава, позволяющегополучить равномерную концентрацию устойчивых чисто дырочных центров окраски,Поставленная цель достигается облучением диэлектрика потоком позитронов, чтоприводит к созданию избыточной концентра- ция дырок, и последующим отжигом облу-ченного диэлектрика, позволяющим выделить чисто дырочные устойчивые центры 1 окраски,Прн прохождении потока позитронов через вещество происходит термалнзация позитронов и ионизирующих столкновениях с атомами вещества я образование равновесной концентрации как свободных электронов, . так и эффективных дырок в валентной зоне. Образовавшиеся таким образом электроннодырочные пары...
Коллимирующее устройство для рентгенографии
Номер патента: 662850
Опубликовано: 15.05.1979
Авторы: Егоров, Косолапов, Попов
МПК: G01N 23/02
Метки: коллимирующее, рентгенографии
...изделия, при этом нижние кром.ки коллимирующих пластин проходят внутридвугранного угла а через его ребро.= 2 атс 1 е р - угол а - угол 11 - задан тролируемого коллимирующ ного угла чере Источники ние при зксн 1. Отчет о Н юзного научно го института т сплавов, Чирчи 2. АВТ 01.ск В б/06, 30.06, изобре ИИПИнраж 10 Заказ 2 б 87/45 ПсдписноеФилиал ППП "Патент", г.ужгор д, ул.Проектная,4 На чертеже показано предлагаемое устройство,В основании 1 выполнен паз, образующий дву.гранный угол а. Направляющие 2 расположенысимметрично относительно плоскости, проходя.ацей через биссектрису двугранного угла сС, пад 5угломер одна относительно другой. На направляющих расположены коллимирующие пластины 3.Контролируемое иэделие 4 расположено в...
Способ контроля готовности коксов
Номер патента: 691741
Опубликовано: 15.10.1979
МПК: G01N 23/02
Метки: готовности, коксов
...и определения количества выхода летучих веществ из навески при нагреве ее до определенной температуры 11. Недостатками известного способа являются низкая точность, непредставительноСть анализируемой пробы, малая информативность существующего способа, трудоемкость и технологическая сложность процесса контроля, включающего ряд последовательных операций,Белью избретения является повышение точности, представительности, информативности и снижение трудоемкости кон роля готовности коксов.Указанная цель достигается за счет того, что непрерывно, автоматически определяют содержание водорода и объемную массу в контролируемом объеме поН НКР коэффициент, зависящий от измерения и контрол691741 Составитель В, МатвеевРедактор Е, Хорйна Техред Л....
Способ измерения магнитной текстуры
Номер патента: 693183
Опубликовано: 25.10.1979
Авторы: Аксельрод, Гордеев, Лазебник, Малеев, Рубан
МПК: G01N 23/02
...решением является метод ани- зометра, в котором диск, вырезанный из исследуемого вещества с известным направлением оси легкого намагничивания, помещают на тонком нодвесе в гостоянное магнитное поле, измеряют зависимость момента сил, действующего на образец от направления магнитного поля, раскладывают зту зависимость на простые синусоиды, определяют их амплитуды и фазы, сравнивают зти кривые с аналогичными кривыми для монокристаллов и определяют распределение легких осей намагничивания относительно выделенного направления3. Известны способы измерения магнитной текстуры, основанные на взаимодействии исследуемого образца с постояннымипеременными магнитными полями. Так в способе Смита и Вайна текстуру определяют,измеряя период...
Смотровое устройство
Номер патента: 718768
Опубликовано: 29.02.1980
Авторы: Данилина, Комаров, Комиссаров, Кулясов
МПК: G01N 23/02
Метки: смотровое
...элемента.=та цель достигается за счет того, что х плоп 1 тельпая прокладка размещена на цилиндрической поверхности оптического э,сьситаус апОВлена с Возможность 0 контак ирОВания с Втулкой, а устроистВО снабжено запорным кольцом, установленным с возможностью контактирования с торцевои поверхностью оптического элемента. На чертежс изображено предлагаемое устропство, общий вид,строиство состоит из корпуса 1, в котором установлен цилиндрический оптический элемент 2, уплотнительного кольца 3, размещенного в канавке, выполненной в цилиндрической части посадочного гнезда корпуса 1.х плотнптельная прокладка 4 размещена на цилиндрической поверхности оптическоо элемента и установлена с возможностью коптакп роваиия с торцевой поверхностью...
Установка для определения состава вещества
Номер патента: 270912
Опубликовано: 05.04.1980
Авторы: Иванов, Мартищенко, Филиппов, Штань
МПК: G01N 23/02
...например установка, описанная в патенте Англии Мо 1038042.Установка содержит детектор гамма. излучевия, усилитель импульсов, трехканальный амплитудный анализатор, вычислительное устройсвво и регистратор. Анализ участков слектра в устройстве нро- водипся с помащью трехжанального анализатора. В оснавном канале регистрируется фогэпвк и хомптонэвское,распределение,в боковых, смежных с оснэвным, каналах регисгрируется только комптоновское распределвние. Определение величины комнтоновокопо раапрсделения в основном канале производится с помощью вычислительного устройспва дискретного типа путем суммирования импульсэв в боковых каналах с последующим делением на два. Это лозволяет реализовать функцию вида, т, е. линейную функцию. Замена реальной...
Способ генерации дырочных центров окраски в диэлектрике
Номер патента: 584626
Опубликовано: 30.04.1980
МПК: G01N 23/02
Метки: генерации, диэлектрике, дырочных, окраски, центров
...изобретения Составитель В. Макаров Техред В. Серякова Редактор Л, Письман Корректор В. Петрова Заказ 752/1 Изд, Мо 289 Тираж 1033 Подписное НПО Поиск Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5пр. Сапунова, 2 Типография,йроцесс радиационного отжига электрон. ных центров окраски.При этом процесс радиационного отжига окрашенных образцов при облучении позитронами происходит как в облучаемой, так и в необлучаемой позитронами части образца. До недавнего времени, фиксируя по оптическим спектрам поглощения разрушение электронных центров, окраски при позитронном отжиге, не следили за поведением дырочной полосы оптического поглощения. Оказалось, что при позитронном отжиге...
Датчик нейтронного анализатора раствора
Номер патента: 668427
Опубликовано: 23.10.1980
Авторы: Бовин, Гурков, Николаенко, Пономарев, Шагов
МПК: G01N 23/02
Метки: анализатора, датчик, нейтронного, раствора
...в канале 6,контрольную емкость 7, заполненйуюводой 8, кожухи 9 и 10, между которыми циркулирует вода, охлаждающая детекторы нейтронов, и корректирующиестержни 11, расположенные в полости12, образуемой стенкой контрольнойемкости 7, боковыми поверхностямидетекторов 1 нейтронов и источником5 нейтронов и прилегающей к трубопроводу 13, через который прокачивается исследуемый раствор 14.Неподвижный кадмиевый экран 3имеет два окна, одно из которых направлено в сторону анализируемогораствора 14, а другое в сторону контрольной емкости 7, Подвижный кадмиевый экран 2 расположен. коаксиально внутри неподвижного экрана иперекрывает окно, направленное в сторону контрольной емкости 7,Перемещение блока источника нейтронов перпендикулярно к...
Способ определения концентрациибора
Номер патента: 813213
Опубликовано: 15.03.1981
Авторы: Волегов, Колесов, Панков, Тесленко, Цуканов
МПК: G01N 23/02
Метки: концентрациибора
...рова нием регистрации, регистрируют нейтроны в импульсе и нейтроны утечки за время, когда в борсодержащем растворе присутствуют нейтроны, рожденные импульсным источником, и по отношению числа нейтронов утечки к числу нейтронов от импульсного источника за время замера определяют концентрацию бора. В этом случае измерение не чужно вести во всем интервале времени, как это делают в способе с постоянным источником нейтронов, а достаточно измерить реакцию анализируемой среды в непосредственной близости от времени возмущения. Это улучшает при той же мощности импульсного источника соотношение сигналфон не менее, чем нз три порядка. Для случая импульсного источника реакция системы представляет суперпозицию экспоненциальных процессов,...
Пробоотборник-указатель уровня
Номер патента: 817551
Опубликовано: 30.03.1981
Автор: Попов
МПК: G01N 23/02
Метки: пробоотборник-указатель, уровня
...цент Жена. ограничительными шайба новленными на штуцерах. На чертеже представлена конструкция .пробоотборннка-указателя уровня жидкостиПробоотборник-указатель уровня жи к содержит выполненную из прозр го материала вертикально устан нную трубку 1 переменного, сечения с утолщением 2 в центральной час ти, соединенную штуцерами 3 с реэер" вуаром 4, расположенными с равными промежутками по всей его высоте.Йтуцера резервуара соединяются с горизонтальными трубками 5 пробоотборника- указателя соединительными гайками б, в которых установлены ограничительные шайбы с пропускными отверстиями разного сечения (на чертеже не показаны). В нижней части трубы 1 установлен кран 7 для отбора пробы. Центральная часть трубы (утол щение 2) имеет круглое...
Способ измерения толщины слоякратного ослабления рентгеновскогоизлучения
Номер патента: 834472
Опубликовано: 30.05.1981
Автор: Мишкинис
МПК: G01N 23/02
Метки: ослабления, рентгеновскогоизлучения, слоякратного, толщины
...филиал ППП фПатент" г, Ужгород, ул. Проектная, 4 зиции выбирают равным 1 (о) где и - требуемая кратность ослабления, а толщину слоя кратного ослабления определяют по одинаковой плотности почернения участков пленки под клином и открыто экспонированного в течение одной из экспозиций участка5 пленки.Способ реализуется следующим образом.На рентгеновскую фотопленку накла- дывают измерительный клин. Оставшуюся часть пленки закрывают свинцовой пластиной. Производят. экспонирование пленки в течение определенного периода времени. Затем свинцовую пластину убирают и производят повторное экспо нирование той же пленки в течение другогозаданного периода времени. Затем пленку проявляют и получают на ней неравномерно засвеченный участок под...
Способ определения зольностиугля
Номер патента: 852185
Опубликовано: 30.07.1981
МПК: G01N 23/02
Метки: зольностиугля
...содержание влаги в угле иливодорода в угольном веществе заметноизменяется, то увеличения точностиопределения содержания золы можнодостичь, сочетая предлагаемый способс измерением содержания влаги иливодорода известными способами, аименно рассеянием или прохождениемнейтронов, регистрацией гамма-излучения, возникающего при поглощениинейтронов водородом.Предлагаемый способ частично компенсирует изменения количества других элементов, а именно кальция илисеры в минеральном вешестве, которыеимеют высокий массовый коэффициентпоглощения по сравнению со среднимдля других составляющих минеральноговещества, и, следовательно, улучшаетточность анализа содержания минерального вещества и эолы,Более высокую чувствительность...
Способ определения засоренности натурального волокнистого материала органического происхождения
Номер патента: 687928
Опубликовано: 07.09.1981
Автор: Кузнецов
МПК: G01N 23/02
Метки: волокнистого, засоренности, натурального, органического, происхождения
...просвечиваемых слоев делаетспособ сложным и непригодным дляисследования других волокнистыхматериалов, Кроме того, применениежесткого гамма-излучения тре зует выполнения значительной, по сравнениюс мягким, радиационной защиты, чтотакже усложняет способ определениязасоренности.Целью изобретения является угрощение способа и расширение технологических воэможностей.Это достигается тем, что волокнистый материал уплотняют до поверхностной плотности от 0,05 до 10 г/см ,просвечивают мягким гамма-излучением,определяют массовый коэффициент ослабления, а оценку засоренности производят сравнением массового коэффициентаослабления излучения с поверхностнойплотностью образца материала.Выбор интервзла требуемой поверхностной плотности обусловлен...
Способ контроля состава бинарных смесей
Номер патента: 864077
Опубликовано: 15.09.1981
МПК: G01N 23/02
Метки: бинарных, смесей, состава
...Затем пробуугля принудительно уплотняют, добавляют массу 1 кг и вновь измеряютскорости счета рассеянного излучения (п 0) при тех же значениях высоты подвески детектора, По полученнымзначениям и и и 0 определяют чувствительность к насыпной плотностипо соотношениюРнпй 100сми., ДРгде ЬРн - Ьаэность насыпных плотностей угля после и до уплотнения пробы.При малых высотах подвески,детектора (см.фиг.2) чувствительность кнасыпной плотности ноложительна,затем она обращается в нуль и становится отрицательной при больших высотах подвески. Выбирают высоту подвески детектора, соответствующейй т(фиг,2), Измерение зольностиугля производят при высоте подвескидетектора и = Ьопт. В этой точке результат измерения зольности угляполностью не зависит от...
Коллиматор для устройства радиационного контроля
Номер патента: 868501
Опубликовано: 30.09.1981
Авторы: Бердянский, Латышев, Мукомель, Ободан
МПК: G01N 23/02
Метки: коллиматор, радиационного, устройства
...равна ширинещели между ними.На фиг. 1 схематически изображеносканирующее устройство; на фиг, 2 -многощелевой коллиматор; на фиг. 336850 Формула изобретения форма сигнала детектора при использовании известного(а) и предлагаемого устройства (Ю),Устройство для радиационного контроля изделий содержит источникизлучения, приемник 2 излучения, многощелевые коллиматоры 3 для коллимирования излучения источника , привод 4 перемещения источника излученияотносительно неподвижных многощелевых коллиматоров 3.Многощелевой коллиматор выполненс четным числом рядов 5 1 фиг. 2) сколлимационными щелями 6 и перегородками 7. Ряды 5 сдвинуты относительнодруг друга на ширину коллимационнойщели 6 или перегородки 7 в направлении перемещения источника 1...