Способ измерения магнитной текстуры
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
А. Аксельрод С. В, Мал П. Гордеев, иВ. А.Ру Лазебник,(72) Авторы изобретеии Ле ский институт ядернойКонстантинова АН ССС ки(7 ) Заявитель м 54) СПОСОБ ИЗМЕРЕН ТНОЙ ТЕКСТУРЫ Изобретение относится к области и Достоверн их способовак как магии етров вещестзмерению пара- ения магнитных щеленного накстуры) и моя технологииз магнитных магниты, ферических парам конкретно к и го распредел носительно вь аправление те водят измеренна последнюю. информация нос характер,пользовано д роля издели постоянные ные пленки) Наиболее близким к изобретению техническим решением является метод ани- зометра, в котором диск, вырезанный из исследуемого вещества с известным направлением оси легкого намагничивания, помещают на тонком нодвесе в гостоянное магнитное поле, измеряют зависимость момента сил, действующего на образец от направления магнитного поля, раскладывают зту зависимость на простые синусоиды, определяют их амплитуды и фазы, сравнивают зти кривые с аналогичными кривыми для монокристаллов и определяют распределение легких осей намагничивания относительно выделенного направления3. Известны способы измерения магнитной текстуры, основанные на взаимодействии исследуемого образца с постояннымипеременными магнитными полями. Так в способе Смита и Вайна текстуру определяют,измеряя период собственных механических колебаний образца в постоянном магнитном поле1,В способе ферромагнитного резонанса о текстуре сулят по смещению резонансного значения постоянногомагнитного поля, в которое помещен образец, и по уширению линии поглощениявысокочастотного поля 21,мерения физва, а болееметра угловомоментов отправления (нжет быть исческого контматериалов (риты, магнит ость получаемой с помощь информации недостаточна тные поля, в которых про ие текстуры, могут влият Кроме того, получаемая ит только качественный693183 гр Филиал ППП Патент",
СмотретьЗаявка
2514176, 27.07.1977
ЛЕНИНГРАДСКИЙ ИНСТИТУТ ЯДЕРНОЙ ФИЗИКИ ИМ. Б. П. КОНСТАНТИНОВА АН СССР
АКСЕЛЬРОД ЛЕОНИД АБРАМОВИЧ, ГОРДЕЕВ ГЕННАДИЙ ПЕТРОВИЧ, ЛАЗЕБНИК ИОСИФ МОИСЕЕВИЧ, МАЛЕЕВ СЕРГЕЙ ВЛАДИМИРОВИЧ, РУБАН ВЛАДИМИР АФАНАСЬЕВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01N 23/02
Опубликовано: 25.10.1979
Код ссылки
<a href="https://patents.su/4-693183-sposob-izmereniya-magnitnojj-tekstury.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения магнитной текстуры</a>
Предыдущий патент: Способ контроля качества кристаллического кварца
Следующий патент: Сверхвысокочастотный способ измерения влажности диэлектрического материала
Случайный патент: Материал для защитного покрытия