G01N 21/46 — G01N 21/46

Номер патента: 570823

Опубликовано: 30.08.1977

Авторы: Костенко, Слизина

МПК: G01N 21/46

Метки: жидких, показателя, преломления, сред, темных

...преломления и температурным градиентом, соответствующим температурному градиенту измеряемой среды с точностью +.10%,Наиболее близким по технической сущности является способ измерения показателя преломления темных жидких сред, основанный на измерении н сравнении показателя преломления измеряемой среды с показателем преломления эталонной среды,Известные способы измерения обладают низкой точностью измерений.Целью изобретения является повышение точности измерения,Поставленная цель достигаетсяэталонную жидкость перед измеренварительно просветляют переколяцитодом на алюмогеле.Предложенный способ может быть осуществлен при помощи рефрактометра с дифферснцпальной схемой измерения. Для пзк ння показателя преломлс 1 шя темного ниж масляного...

Номер патента: 572689

Опубликовано: 15.09.1977

Авторы: Зандина, Степин

МПК: G01N 21/46

Метки: дифференциальный, рефрактометр

...перемещения вдоль оптической оси зрительной трубы (на чертеже не показан).При крайнем левом положении блока клиньев 7, 9, 11 смещение половин поля зрения одной относительно другой отсутствует (отсчет по шкале 12 равен нулю), при крайнем правом положении смещение половин поля зрения максимально возможное для данной измерительной системы.Рефрактометр работает следующим образом.Коллиматор 1 направляет параллельный пучок через поворотные экраны 2 на испытуемый образец 3 и эталон 4, выполненные в виде призм. Диспергированный призмами 3 и 4 свет попадает в объектив о, который в фокальной плоскости окуляра 13 формирует один над другим (благодаря разделению световых пучков поворотными экранами 2) спектры, полученные с помощью призм 3 и 4....

Номер патента: 558579

Опубликовано: 25.12.1977

Авторы: Рокос, Рокосова

МПК: G01N 21/46

Метки: интерферометр, поляризационный, четырехлучевой

...3 и 4, исследуемый объем 5,фотопрцемник 6, усилитель 7, регцсчируюшее устройство 8, Первый светоделительный элемент 3 выполнен в виде склеенныхмежду собой прямоугольной призмы 9 иромба 10 с полупрозрачным внутреннимзеркалом 11 и внешним глухим зеркалом12, Второй светоделительный элемент 4 55выполнен в виде склеенных между собойравнобедренной призмы 13 и ромба 14 сполупрозрачным внутренним зеркалом 15ц пвхл 1 я глухими внешними зеркалами 16,17, Второй светоделительный элемент рас положен над четвертьволновой фазовой пластинкой 18 с глухим зеркалом 19 на внешней стороне, Между вторым светоделительным элементом 4 и фазовой пластинкой 18на пути опной пары лучей О и а установлены две фазовые пластинки 20 и 21, поворачиваюшие...

Номер патента: 516303

Опубликовано: 25.12.1977

Авторы: Рокос, Рокосова

МПК: G01N 21/46

Метки: интерферометр, поляризационный

...и регистрируПринцип работы его опубликования описания 18.01.7 ттится с помощью двоякопреы на обыкновенный и нечи, которые благодаря глухосды проходят соответственно й и этапонныж объекты, происходит с помощью линзы атем суммарный луч пролятор, роль которого выаяся чэтвертьвопновая фаэобжаший лазер, модулятор, компенсатор, оптическую систему, включают.ую в себя светоделительный элемент и двв глухих концевых зеркала, фотоприемник,узкополосный усилитель и регистрирующее устройство, о тпиЧаюшийся тем,что, сцельюповышения точности измерения, в него введены полуволноввя фазовая пластинка, установленная на пути одного из лучей, идущих от свето- делителя, и четыре четвертьволновые фвэовые пластинки, расположенные перед глухими концевыми...

Номер патента: 593122

Опубликовано: 15.02.1978

Автор: Госьков

МПК: G01N 21/46

Метки: веществ, коэфициента, преломления

...способа заключается в щем.Местоположение световых потоков, прошедших кюветы 2, на входной плоскости ФЭСУ 20 определяется коэффициентами преломлениясред в этих кюветах. ФЭСУ осуществляет сканирование (просмотр) параметрического поля во входной плоскости, т. е. определяет координаты обоих световых потоков. В качестве ФЭСУ можно использовать и оптико-механические, полупроводниковые и электровакуумные сканирующие устройства с разверткой изображения, например, на основе вращающихся зеркал, диска Нинкова, сканистора, ви- ЗО дикона и т. п.593122 Формула изобретения Составитель О. Гаркуша Редактор И. Шубина Техред А. Камьшникова Корректоры: О, Данишева и Т. ДобровольскаяТираж 1029 ПодписноСовета Ми нистрон С С С 1 зй и открытийушская наб д,...

Номер патента: 593123

Опубликовано: 15.02.1978

Авторы: Карабегов, Комраков, Мчедлишвили, Пожидаев

МПК: G01N 21/46

Метки: компенсационный, оптических, характеристик

...е 1 гемсае до о чэиемсеЖО и р 1 е 1 гемсае огчпоиоп э одоняонао до Бадин.ояд.о х 1 чсод,ом еи нио еыГ ен Бэд.иссаГ 1 чдэяо 1 м иончьеипнэсаффиГ ОЪ ь.Ы иоыод.ая(иинееемоп иинаьене Бахипсмепчиатал исси Бахипо 1 еыиыпсэяЛ Апосод,д ы) лносо.сд ослннэьинпчдио и нинададуоеи веиае оц 433 д войоиннщ еааор дадиион ищннаыдеюйо 1(8880)гягаы мРк (ея)- гд имякее кэинаниъэодис 1 и д Ы/82 Ы 80 с (1 с) РЕ,181 оплЯке (д 9 Ф/Тс Я 10 9 г ыМ Х (19) Ая-Гияд д.яе я эончиэд,инопо (19) ЗЮЧЫЗНЮИЯЭ ЮУОМЭИОХЗУ М ирАцоад ХиноаниАоинеиьо 0 хихоцвор ааод-э 1 ас 1 по я иинеееяоп иоУохл ойннеяечя чддон -пас 1 доп и с 1 дэвлс 1 еп ичняид.еМофни д,ижс 1 ЭП -од эиенем кончгаис 1 ыеи коняопдо я ичннея -ос 1 ИМофд гендид ионохчБ ненея ичнчиэд, -ис 1 аыи ионяондо дэкь"яеддоз...

Номер патента: 594442

Опубликовано: 25.02.1978

Автор: Островская

МПК: G01N 21/46

Метки: прибор, теневой

...6, которое пропускают через транспарант 7, установленный в плоскости изображения,.с пропусканием, меняющимся по его поверхности по закону борам для исследованияпрозрачных сред, в част эффициентф1направлении, сдответстном и параллельном нооТ=Шепь 8 вырезает из распредепения освещенностей, прошедшего через транспарант7, попоску параллельную осии ширинойЬ, а волокнистый светосборник 9 направ-.пяет прошедший через щель 8 светочкой поток на фотоумножитель 10, фототок которого регистрируют с помощью самописца 11,При перемещении транспаранта относительно неподвижной щепи и светосборникасамописец записывает сигнап, пропорционапьный радиапьному распредепению значенийноказатепя препомпения.Таким образом, процесс измерения радиапьного...

Номер патента: 608086

Опубликовано: 25.05.1978

Автор: Каллистов

МПК: G01N 21/46

Метки: дифференциальная, кювета, проточная, рефрактометрическая

...проточная кювета, две идентичные нолосги, разделенные перегородкой, установленной под непрямым углом к оптической оси кюветы 123,Однако известная дифференциальная кювета не позволяет проводить одновременно с определю- И нием концентрации измерение молекулярной массы по рассеянию света в том же обьеме раствора, для которого определяется разность показателей прелом. пения и пропорциональное ей значение концентрации. 2 дНевозможность одновременного измерения в одном и том же обьеме раствора молекулярной массы и концентрации вещества вынуждает использовать косвенные методы оценки молекулярной массы, например, по злюациоиному обмму в гель.хромато" 25 ополтпггельными калибровочными опера608086 Фиа 1 роектная 4 нал ППП "Патент", г кают...

Номер патента: 616564

Опубликовано: 25.07.1978

Авторы: Герштейн, Желудов, Иоффе, Михеева, Орешко

МПК: G01N 21/46

Метки: дифференциальных, проверки, рефрактометров

...дисперсии.Наиболее близким техническим реше кием к изобретению является способ поверки дифференциальных рефрактометровй при котором производят калибровку шкалы показателя преломления в. трех точ ках с номошью пар яцщкостей, имеющих минимальное, среднее и максимальное значения разности показателей преломления, соответств 1 уквцие начальной, средней к кокечкой точкам щкакм (2.Этот способ позволяет свести к минимуму число необходимых коитрольиык жидкостей при поверке шкалы рефрактометров в пятидесяти точках. Так с по616564 Минимальное Минимальное Среднее среднее максимальное Минимальное Максимальное среднее максимальное 67,0 Гент аи 1,38592 1,39889 69,0 Октан 1,40984 71,9 1,41462 85,6 1,40495 77,3 1,41028 1 МХТУ. 286-60 И МРТУ 6, 418...

Номер патента: 623143

Опубликовано: 05.09.1978

Авторы: Аникин, Васильева, Золотарев, Лейкин, Молочников, Морозов, Пеньковский, Сутовский, Шакарян

МПК: G01N 21/46

Метки: поглощающих, показателя, преломления, сред

...следовательно различны и коэффициенты отражения К, что снижает чувствительность и точность измерения.Коллимированные световые пучки направляют на блок, состояший из отрицательных плосковогнутых линз 12, 13 и высокопреломляюшего оптического элемента 14, Линзы и высокопреломляюший оптический элемент имеют одинаковые показатели преломления и радиусы кривизны смежных поверхностей. Пространство между ними может быть заполнено,иммерсионной жидкостью. Проходя это пространство, световые пучки не изменяют своей расходимости и направления и падают на рабочую поверхность 15 элемента под углами р иИспользование в устройстве полусферического элемента в сочетании с плосковогнутыми линзами позволяет изменять углы падения р в широких пределах (20 - 70)...

Номер патента: 640184

Опубликовано: 30.12.1978

Авторы: Карабегов, Комраков, Кузнецова, Мчедлишвили

МПК: G01N 21/46

Метки: дифференциальный, рефрактометр

...попадает прямо на функциональный преобразователь, а другая О половина попадает в него, пройдя призму640184 р = К(а, - и,) = Кьп,ье=К,1 Кп,Подписно аж 1080 аказ 2212/13 Изд.778пография, пр. Сапунов П 3Дове. Неинформативное отклонение половины светового пучка, прошедшей призму Дове, приобретает направление, противоположное первоначальному, В результате половина светового пучка, не прошедшая призму, имеет отклонение от плоскости, проходящей через оптическую ось и разделительное ребро делительной призмы одного знака, а другая половина, прошедшая призму Дове, приобретает равное, но противоположное по знаку отклонение от той же плоскости. На делительной призме происходит разделение световых потоков. В результате одна часть светового пучка...

Номер патента: 641333

Опубликовано: 05.01.1979

Автор: Госьков

МПК: G01N 21/46

Метки: дифференциальный, рефрактометр

...опрашивается пилообразнымнапряжением и, если на сканистор будут спроектированы два световых потока, тоф" 40в соответствующих местах будут наблюдаться скачки пилообразного напряжения Ю (фиг. 2) и вследствие этого после выделения видеосигнала со сканистора будут наблюдаться имнупьсы, фиксирующие15начадо и конец пилообразного напряженияопроса, и два рабочих импульса о междуними (фщ. 2). Местоположение рабочихимпульсов определяется коэффициентамипреломления эталонной и исследуемой сред50 .соответственно. На измеритель 8 временных интервалов со схемы 7 подаются толь-ко оба рабочих импульса и измеряетсявременное расстояние между ними Ь(фиг. 2). Если в обе кюветы залит эталонный раствор, временное расстояниемежду рабочими импупьаами...

Номер патента: 434811

Опубликовано: 05.01.1979

Авторы: Седельников, Тучин

МПК: G01N 21/46

Метки: газовых, концентрации, лазеров, плазме, электронов

...ниЯ ДеВ 11 аЦии частоты МОжнО р 1 апримеР р воспользоваться гетеродинным методом, подкл 1 очив на выходе частотного детектора анализатор гармоник, настроенный на частоту глодуляции 01 р: 10Для газовцх ЛазеРОВ ВОЛИЧИна час- ТОТНОЙ МОДУЛЯЦИИ ПРИ ГЛОДУЛЯ 11 ИИ ВЕ 11 И- чины тока разряда зависит не только От модуляции показателя преломления плазмы электронов, но также от модуляции показателя преломления, обус- лОВленногО Дисперсией РабочегО перехода лазера и Дисперсией близких сильно поглощающих переходов, Сильно поглощающие переходы образуются метастабильными уровнями рабочих газов. ВРВМЯ гжизни на этих УООВИЯх велико, следовательно, значитель 11 а и концентрация частиц, поэтому сдвиг частоты излучения лазера, вносимый этим пере 25...

Номер патента: 598395

Опубликовано: 25.03.1979

Автор: Владимиров

МПК: G01N 21/46

Метки: оптических, параметров, пучков, световых, сред, характеристик

...световой пучокнаправляется в измеряемый образец 5. 5Преломленные и отраженные световыелучи поглощаются диафрагмами б и 7,а поверхностные волны достигаютфотоприемника 8, преобразуются вэлектрический ток и через усилитель 109 напРавляются в регистратор 10,временных интервалов.Предлагаемый способ позволяетпроизводить измерения ряда оптических характеристик в широком спектраль ном диапазоне в реальном масштабевремени и с высокой точностью. Способ основан на эффекте возникновения поверхностных волн, распространяющихся вдоль границы раздела прозрачных сред, когда, световые лучинаправляются из оптически болееплотной среды в оптически менее плотную под критическим углом падения,Поверхностные волны распространяются вдоль поверхности...

Номер патента: 657324

Опубликовано: 15.04.1979

Авторы: Карабегов, Комраков, Кузнецова, Лейкин, Молочников, Мчедлишвили, Сепишвили

МПК: G01N 21/46

Метки: рефрактометр

...под углом, близким к критическому (стеклодистиллат) к плоской грани, проходящей через центр цилиндра. цля сохранения параллельности светового пучка внутри полуцилиндра на входе светового пучка в полуцилиндры вплотную к последним установлена плосковогкутая цилиндрическая линза, изготовленная из того же материала, что и полуцилиндры и имеющая радиус кривизны, равный радиусу полуцилиндров.На пути выхода светового пучка к полуцилиндрам примыкают два плоско- Ы вогнутых зеркала 11 и 12, радиус кривизны которых равен радиусу кривизны полуцилиндров. Зеркала изготовлены из того же материала, что и полу- цилиндр. Зеркальное покрытие нанесе но со стороны плоской поверхности. Зеркало 12 неподвижно, а зеркало 11 вращается вокруг оси...

Номер патента: 659942

Опубликовано: 30.04.1979

Авторы: Прилепин, Шануров

МПК: G01N 21/46

Метки: астрономической, дисперсионный, рефракции

...квадрирования сигналы сравнивают, т, е, производят сравнение по квадрату мощности сигналов на входе детекторов. Результат сравнения непрерывно регистрируют, а значение дисцсрсионного угла определяют многократно по разностям моментов достижени 5 равенства квадратов моцностей сигналов. У 1 лоцоц масштаб записи результатов определяют по частотам гетеродинов, промежуточной частоте и расстоянию между детекторами,Рса,1 изация данного спосооа мо 51 сет Оыть осуществлена с помощью фотоэлестри 1 еского пнтсрферометра,На чертеже представлена схсма, цояеця 1 ощая данный способ измерения.Пусть излучение источника 1 содержит сигналы с частотами в и со (сй) о 1), "мплцтудамц 1. и Е, и начальными фазамц Ф, и Ф. Сигналы принимают двумя квадратичными...

Номер патента: 661311

Опубликовано: 05.05.1979

Авторы: Васильев, Золотарев, Подольский, Сазонов, Тихомиров

МПК: G01N 21/46

Метки: показателя, полимеров, преломления, растворов

...предложенного устройства.Система содержит дозируюво, состоящее из электродвидуктора 2; шестеренчатого накатор 4 давления в магистррефрактометрическую ячейку. Траутя КорректорПодписное СостаТехред ОТираж 1сударственм изобретеа, Ж - 35,тент, г. У итсльЛугов9 Редактор Т, ОрловскаяЗаказ 2428/38ЦНИИП емчик ного н ний и митета СССРоткрытийая наб., д. 4/5ул. Проектная по дела 113035, Москв лиал ППП Па аушс город рованную предохранительной мембраной 6, буферную емкость 7, вентиль 8, дополнительный шестеренчатый насос 9, соединенный с редуктором 2. В емкости 7 установлен индикатор уровня полимера в виде дифманометрического преобразователя 10. К емкости 7 подключены линия подачи азота, на которой установлен редуктор 11, и линия сброса азота в...

Номер патента: 670861

Опубликовано: 30.06.1979

Авторы: Карабегов, Комраков, Хуршудян

МПК: G01N 21/46

Метки: рефрактометр

...25 схема предлагаемого рефрактометра.Он содержит источник излучения 1, оптическую систему 2, дифференциальную кювету 3, фотопрпемнпк 4, измерительное устройство 5, блок управления б, сканатор давЗ 0 лсния 7, блок фиксирования давления,670861 1. Авторское463044, кл. 6 01 2, АвторскоеЛ 1 о 49 ч 657 к(д 01 СССР свидетельствоХ 21/46, 1971.свидетельствои 1 21/46, 1970. СССР з г11 Заказ 462/826 зд. ЛЪ 3 Тип. Харак. фпл. пред. ; Патент включающий электронный ключ 8, генератор 9 тактовых импульсов и счетчик 10. Блок управления 6 содержит устройство сравнения 11, программное устройство 12 и командное устройство 13.5Сканатор давления содержит устройство 14 накачки давления, устройство 15 сброса давления, герметичный объем 16 и пластичный...

Номер патента: 672550

Опубликовано: 05.07.1979

Авторы: Лебедович, Манов, Степин, Ямнов

МПК: G01N 21/46

Метки: измерений, интерференционных, кювета, показателя, преломления, разности

...9, стеклянного окна 10 и полостей 11-14.Для измерения показателя прелом-. ления к полостям кюветы подводится газ по трубопроводам 9 в полости11 и 14 - образцовый газ, например азот,а в полости 12 и 13 - исследуемый гаэ,например смесь газообразного азота и углекислого газа.Кювета устанавливается в интерФерометре таким образом, что один луч интерФерометра проходит последовательно через торцовое окно 10 полость 11 с образцовым газом, вкладьпа 4, полость 13 с исследуемым газом и торцовое окно 5, а другой луч интерфе672550 Формула изобретения Составитель Н. Гусеваактор Т. Орловская Техред О, Андрейко Корректор М. Вигула аэ 3881/44 Тираж 1089 Подписное ЦНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж,...

Номер патента: 673897

Опубликовано: 15.07.1979

Авторы: Горяйнов, Кругляк

МПК: G01N 21/46

Метки: автоматический, рефрактометр

...2 -лР рвется в зависимости от природы осадка и должен быть инертным к контролируемой среде.С целью предотвращения попадания контролируемой среды в каналы подачи реагента в промежутках между циклами очистки про.5ограммныи блок осуществляет подачу воздуха (газа) через насадки с минимальным расходом, исключающим влияние на показания измерительного прибора.Использование автоматического рефрак тометра в пищевой промышленности позволяет повысить точность измерения контролируемого параметра и надежность работы средства измерения. формула изобретения Автоматический рефрактометр, содержащий преобразователь с измерительной призмой, установленной в держателе, измерительныйй прибор и программный блок, отличающийся тем, что, с целью повышения...

Номер патента: 673898

Опубликовано: 15.07.1979

Авторы: Карабегов, Комраков, Хуршудян

МПК: G01N 21/46

Метки: рефрактометр-фотометр

...например диф- т 0 ференциальным фоторезистором или двумя фотоумножителями, и измерительным устройством 9.Такая, консТрукция рефрактометра-фотометра позволяет уменьшить объем измерительной полости кюветы до 5 - 25 мкл, 5 что уменьшает разбавление пробы. Это, в свою очередь, уменьшает размытие пика хроматограммы, Таким образом, увеличивается точность измерений, увеличивается производительность анализов, Кроме того поскольку луч разделяется на две части в самой кювете, отпадает необходимость во втором источнике излучения, стабилизаторе напряжения для него, что упрощает электронную схему прибора. Рефрактометр-фотометр, содержащий по следовательно установленные источник излучения, оптическую систему, дифференциальную кювету, содержащую...

Номер патента: 684409

Опубликовано: 05.09.1979

Авторы: Жданов, Исхаков, Пеньковский

МПК: G01N 21/46

Метки: внутреннего, критического, отражения, полного, света, угла

...полусферы 4 сплоско-ногнутыми линзами 5 и кюветыс жидкостью 6. Отраженный от границысред 4 и б световой поток проходитпервый магнито-оптический модулятор7 состояния поляризации, возбуждаемый переменным электрическим токомчастоты с 0, четнертьволновую пластинку 8, одна из главных осей которойпостоянно сонпадает с плоскостьюпропускания поляризатора 3, второймагнито-оптический модулятор 9, возбуждаемый переменным электрическимтоком частоты Я , анализатор 10,плоскость пропускания которого постоянно составляет прямой угол сплоскостью пропускания поляризатора3, и воспринимается фотоприемником11.Если угол падения света меньшекритического(с(сбор )то в результате эффектов поворота плоскостиполяризации при отражении инебольших нынужденных...

Номер патента: 693177

Опубликовано: 25.10.1979

Авторы: Киселева, Коломиец

МПК: G01N 21/46

Метки: образец, показателя, преломления, фотопроводящих

...С = 77).Если же спектр поглощения исследуемого вещества неизвестен и известно только, что вещество Фоточувствительно, то энергия фотонов, при которой можно производить измерения, определяется чисто экспериментально, а именно: клин освещают и изменяют энергию фо - тонов, начиная с малых, при которых фототока еще нет, в сторону увеличения энергии Фотонов: доходят до той энергии фотонов, при которой появляется фототок, и, начиная с этой энергии фотонов, производят измерения.Величина Фототока, проходящего через клин, определяется долей света, которая поглощается в клине.Клин вращают вокруг оси, перпендикулярной пучку света и проходящей через ребро преломляющего угла клина; при этом угол падения светового пучка на клин меняется, и при...

Номер патента: 693178

Опубликовано: 25.10.1979

Авторы: Пушкарев, Чечеткин

МПК: G01N 21/46

Метки: аналитической, рефрактометрическая, ультрацентрифуги

...плоскость коллиматорного объектива введена неподвижная шелевая диафрагма, перпендикулярная коллиматорнойщели.5Ка чертеже изображена схема рефрактометрической системы для аналитическойультрацентрифуги.,Рефрактометрическаясистема состоитиз источника света 1, шели 2, нижнего 10коллиматорного объектива 3, кюветы 4для анализируемого вешества со шелевоймаской 5, расположенной во врашающемсяроторе ультрацентрифуги верхнего коллиматорного объектива 6, цилиндрического 15объектива 7, диафрагмы 8; состоящей изнеподвижной 9 и поцвижной 10 щелей,сферического 11 и цилиндрического 12объективов, сканирующей шели 13, приво-димой в движение сканирующим механизмом 14, и фотоэлектронного умножителя 15. Система работает следующим образом,.Выходяший из щели...

Номер патента: 693179

Опубликовано: 25.10.1979

Авторы: Гордеев, Хлебников

МПК: G01N 21/46

Метки: анализатор, двухлучевой, интерферометрический

...При этом определяют содержание первого компонента (Х). За -тем вращением прозрачной пластины10 2 в координатной когерентным лучомс и О ф плоскости (вокруг оси 0 0),по часовой стрелке) перемещают когечентные лучи О и О" в измерительный ти. 3ление трех и более компонентов в смес путем перемещения камеры с любым ко чеством каналов в плоскости, ортогонал ной ходу когерентных лучей.Велью изобретения - повышение точности и упрощение конструкции.Поставленная цель достигается тем, что анализатор содержит плоскопараллельную пластину, выполненную с возможностью перемещения в координатной плоскости, а газовоздушная камера выполнена многоэтажной.На чертеже изображен описываемый анализатор.Анализатор содержит полупрозрачную...

Номер патента: 693180

Опубликовано: 25.10.1979

Авторы: Владимиров, Сысак

МПК: G01N 21/46

Метки: жидкости, оптической, плотности, характеристик

...объем при помощи отражателей 3. Узел светоделителя (эеркала 2 и 3)отъюстирован таким образом, чтобы фиксированный по направлению световой пучок на его выходе был всегца не параллелен рабочему пучку, прошедшему сквозь объемсисследуемой жидкостью, причем если опорный пучок отклонен вниз от оптической оси устройства, любой, даже самый верхний (в йлоскости чертежа) луч опорного пучка должен бйть направлен под большим уг.-. лом к оптической оси, чем любой, даже самый нижний луч рабочего пучка и во всем динамическом диапазоне углов отклонения ( ф ) последнего. Или, при другом возможном варианте настройки, когда опорный пучок направлен выше оптической осй,даже самый нижний луч опорного пучка должен быть направлен под большим углом к...

Номер патента: 693181

Опубликовано: 25.10.1979

Авторы: Герценштейн, Казачков, Казачкова, Каринский

МПК: G01N 21/46

Метки: коэффициентов, оптических, плотности, преломления

...насканисторе) первого импульса от нулевого- порядка не зависит ни от параметровисследуемого вещества, ни от особенностей ультразвуковой дифракционнэй решетки, а его амплитуда 0 определяется как оптической плотностью исследуемого вещества, так и влиянием ультразвуковой дифракционной решетки.Временное положение и амплитуда 0второго импульса от первого порядка дифракции зависит от оптических свойстввещества и параметров ультразвуковойдифракционной решетки.Следовательно, ца выходе устрэйстваможет быть зарегистрирована вмичина:рт,где 6 -коэффициент учитывающий час 81 4тэту ультразвуковых колебаний и параметры электронной схемы;- временной интервал междуположениями импульсов, соответствующихдифракционным пучкам нулевого и...

Номер патента: 699403

Опубликовано: 25.11.1979

Авторы: Космачев, Лейкин, Молочников

МПК: G01N 21/46

Метки: импульсный, рефрактометр

...направляются только наопределенный вход счетчика импульсов,Рефрактомер работает следующимобразс 1 м.Коллимированный пучок света после прохождения клинового сканера 6 5 10 15 20 25 за 35 40 45 50 55 60 совершает угловые гармонические колебания в плоскости главного сечениякюветы. Соответственно изображениещели 3 н плоскости растра совершаетлинейные колебания, Ширина изображения щели 3 выбирается не превышающейширину прозрачных зон растра, поэтому при перемещении изображения щели3 по растру оно дважды за периодколебания (при ходе туда и обратно)пересекает каждую из частей растра9, 10 и на выходе последних образуются две серии световых импульсов,число которых пропорционально длине.перемещения иэображения щели 3...

Номер патента: 705313

Опубликовано: 25.12.1979

Авторы: Красовский, Наумов, Радин, Федоровский, Хомчук, Чуйко

МПК: G01N 21/46

Метки: автоматический, рефрактометр

...от источника 1 Формируется объективом 2 в параллельный пучек, который проходит кюветы 3, 4 и диафрагму 5. После диафрагмы 5 образуется дна одинаковых световых, пучка 16 и 17, которые через клинья 6, 7 попадают на объектив 8, Объектив 8 формирует в плоскости щелей обтюратора 9 два одинаковых изображения 16 и 17 (фиг. 3) источника 1, .сдвинутые клинвями 6 и 7 вдоль щелей обтюратора так, чтобы световые пото" кипучкон 16 и 17 попадали на отдель ные фбтоприемники 10 и 11, При этбм иэображения 16 и 17 находятся на одной образующей 20 цилиндрической поверхности обтюратора (фиг. 3) и разность Фаэ между сигналами фотоприемников 65;равна нулю. Если показатель преломления исследуемой жидкости меняется томежду пучками 16 и 17 появится угловое...

Номер патента: 645434

Опубликовано: 25.01.1980

Авторы: Захарченко, Коломиец

МПК: G01N 21/46

Метки: рефракторметр

...с полупрозрачной склейкой совмещает рабочий и опорный пучки и обеспечивает их интерференцию, На одном из выходов полупрозрачного зеркала установлена оборачивающая система 7, направляюйая световой поток на регистратор 8. На него же попадает световой поток с другого выхода полупрозрачного зеркала 6, т.е. оба выхода полупрозрачного зеркала оптически связаны с регистратором.Устройство работает следующим образом.На регистраторе образуются две рядом расположенные интерференционные картины с двух выходов полупрозрачного зеркала, зеркально перевернутые одна относительно другой. При изменении показателя преломления исследуемой среды поломы в этих картинах смещаются в противоположные стороны. Измеряемой величиной является величина смещения...