G01B 21/08 — для измерения толщины

Страница 2

Устройство для измерения толщины диэлектрических покрытий

Загрузка...

Номер патента: 1252669

Опубликовано: 23.08.1986

Авторы: Крымский, Кумок, Флакс

МПК: G01B 21/08, G01B 7/06

Метки: диэлектрических, покрытий, толщины

...вибратора 9 укреплен индентор 10. Выход преобразователя 8 амплитуды колебаний соединен с входом включения преобразователя 3, а выход датчика 5 достижения основы изделия устройства соединен с входом остановки преобразователя 3 и схемой 11 возврата механизма перемещения в исходное положение.Устройство работает следующим образом.Изделие с покрытием устанавливают на изолирующую прокладку с датчиком 5 достижения индентором основы изделия так, что его проводящая основа касается датчика. Включается вибратор 7 и механизм 2 перемещения индентора. Подвижный элемент вибратора 7 при этом совершает колебания в плоскости, перпендикулярной направлению перемещения индентора 10, наличие которых фиксируется преобразователем 8 амплитуды колебаний. В...

Устройство для контроля линейной плотности волокнистого продукта

Загрузка...

Номер патента: 1290161

Опубликовано: 15.02.1987

Авторы: Ароников, Аршакуни, Соколов, Хавкин

МПК: G01B 21/08, G01N 33/36

Метки: волокнистого, линейной, плотности, продукта

...что приведет к возврату триггера 12 в первоначальное состояние и к прекращению поступления импульсов на счетные входы счетчиков 3 и 14, Импульс на выходе формирователя 16 при этом не формируется.Временной интервал, в течение которого импульсы аналого-цифровогопреобразователя 2 поступают на счетчик 3, определяется частотой датчика 11 и коэффициентом деления, обес 3 12901 печиваемым счетчиками 14 и 17 и который, в свою очередь, определяется положением переключателя 7. Таким образом, изменяя положение переключателя 7, можно регулировать длину от резка пряжи, линейная плотность которого контролируется. По окончании временного интервала, формируемого задатчиком б, число, 10 записанное в счетчике 3 и индицируемое индикатором 5, будет...

Устройство для измерения толщины стенки и разностенности труб

Загрузка...

Номер патента: 1307235

Опубликовано: 30.04.1987

Авторы: Андрющенко, Бердянский, Бушель, Демьянов, Листик, Мережко

МПК: G01B 21/08

Метки: разностенности, стенки, толщины, труб

...которого сигнал формируется при появлении трубы 5 взоне измерения, Генератор 14 импульсов формирует сигнал с длительностью,равной по времени единичному измерению, Сигнал с порогового элемента 5сбрасывает счетчик 18 и открываетконъюнктор 16. Импульсы с генератора14 поступают на вход блока 7 и запускают аналого-цифровой преобразователь 13. Сформированные единичные за"зоры с выхода аналого-цифрового преобразователя 13 по информационномуканалу поступают в блок 7 исключенияи распределения единичных замеров. Импульсы с генератора 14 через коньюнктор 17 поступают на динамическийвход двоичного счетчика 18 после каждого единичного измерения. Счетчик18 прекращает свою работу после 4-гоимпульса, так как закрывается коньюнктор 17 и находится в...

Устройство для измерения расстояния до отражающей поверхности

Загрузка...

Номер патента: 1350500

Опубликовано: 07.11.1987

Авторы: Айсин, Земсков, Подобрянский, Хлебников

МПК: G01B 21/08

Метки: отражающей, поверхности, расстояния

...огибающая которых пропорциональна распределению освещенности по светочувствительным площадкамПЗС 8. Импульсы, снимаемые с выходаПЗС 8, поступают на вход узла 10 выборки, на управляющий вход которогопоступают синхронизирующие импульсыс узла 9 опроса.На выходе узла 10 выборки формируется видеосигнал сложного спектра, амплитуда которого пропорциональна распределению освещенностипо светочувствительным площадкамПЗС 8.Видеосигнал поступает на входыполосовых фильтров 11 и 14, выделяющих две гармонические составляющие,которые детектируются детекторами 12и 15, сглаживаются Фильтрами 13 и 16нижних частот и поступают на входсумматора 17, выходной сигнал с которого фиксируется блоком 18 регистрации.Частота настройки полосовогофильтра...

Устройство для измерения толщины тонкой пленки на прозрачной подложке

Загрузка...

Номер патента: 1355869

Опубликовано: 30.11.1987

Авторы: Алферьев, Бобро, Вязанкин, Кочкин, Шунин

МПК: G01B 21/08

Метки: пленки, подложке, прозрачной, толщины, тонкой

...для попеременного направления световых потоков с эталонного и измерительного каналов через линзу 14 на фотоприемник 15 ;(фотоумножитель), преобразующий све 3М товой поток в пропорциональный электрический сигнал и соединенный с входом усилителя 17 электронной системы 16 обработки сигналов, Усилитель 17 предназначен для усиления и согласования выходного уровня фотоприемника 15 с блоками 1820. Выход блока 20 синхронизации соединен с вторым входом первого АЗБ 18, а выхо. ды АЗБ 18 и 19 и триггера 22 соеди- Ю иены с блоком 23 задания модели,Генератор 21 цикла соединен с вторым входом счетчика 26 и первым входом триггера 22, второй вход которого соединен с выходом блока 23. Стабиль ный генератор 24 и первый выход триггера 22 соединены с...

Термозонд для измерения толщины пленочных покрытий

Загрузка...

Номер патента: 1388703

Опубликовано: 15.04.1988

Авторы: Муромцев, Пудовкин, Самойлов, Чернышов, Чернышова

МПК: G01B 21/08, G01B 7/06

Метки: пленочных, покрытий, термозонд, толщины

...по своим тепло. физическим свойствам к контролируемому покрытию. В процессе измерений с покрытием 21 контактируют нагреватель 12 и микротермопары 16. Нагреватели 11 и 12 подключены параллельно к источнику 22 питания, Микротермопары 15 соединены между собой последовательно-согласно, Две микротермопары 16 соединены между собой последовательно-согласно. Пары микро- термопар 15 и 16 включены последовательно-встречно и подключены к изме-. рительному прибору 23, Для удобства пользования корпус 1 может быть выполнен в форме пистолета, В процессе измерений термозонд размещается на объекте 24 контроля с покрытием 25.Термозонд работает следующим образом.При измерениях термозонд прижимают к покрытию 25 объекта 24 контроля. При этом одинаковое...

Устройство для измерения деталей вращения

Загрузка...

Номер патента: 1411585

Опубликовано: 23.07.1988

Авторы: Любомирский, Солодченко

МПК: G01B 21/08

Метки: вращения

...каретки 2 и одноврем .нноподается сигнал на блок 26 управления перемещения рамы для включенияшагового электродвигателя 3 вертикального перемещения рамы 1,Рама 1 из нижнего исходноо положения перемещается вверх перпендикулярно оси измеряемой детали 5, Лучсвета от источника 12 через конден-сор 14, зеркала 15 и 16 и обьектив17 попадает на Фотодиодную матрицу13, При движении рамы 1 в поле оптической системы попадает нижняя кромка детали 5 и на Фотодиодной матрице13 проецируется профиль участка образующей детали. До появления изображения на фотодиодной матрице 13непрерывно производится анализ первой строки на наличие изображения,Появление тени на любом участке первой строки сигнализирует о "захвате"кромки изображения. Блок 25 переключает...

Устройство для бесконтактного измерения диаметров и перемещений изделий

Загрузка...

Номер патента: 1439402

Опубликовано: 23.11.1988

Авторы: Бабин, Фатуев

МПК: G01B 21/08

Метки: бесконтактного, диаметров, перемещений

...и подается на счетныйС-вход Р-триггера 8, на прямом выходе которого записывается логическая"1" с прямого выхода 0-триггера 7 исоответственно на инверсном выходеП-триггера 8 записывается логический"О", который подается на третий входэлемента И 9 и запрещает прохождениетактовых импульсов на счетный С-вход счетчика 11 через этот элементОдновременно образовавшийся положительрующий С-вход регистра 19, на вьмоды 20 жении лазерного луча после блока 2сканирования этот код пропорционален 30 сов на счетный С-вход счетчика 12,Если изделие 18 содержит оптическиенеоднородности, непрозрачные включения или участки на пути движения скачайном порядке дополнительные импульсы на участке граФика, соответствую щей эти оптические неоднородности и...

Фотометрическое устройство

Загрузка...

Номер патента: 1442834

Опубликовано: 07.12.1988

Авторы: Куштанин, Леонова, Хайзников

МПК: G01B 21/08

Метки: фотометрическое

...все входы дифференциальных усилителей11-13 одинаковые сигналы. Дифференциальные усилители выдают сигналы логического "0. Эти сигналы не проходят через ячейки элементов ИЛИ 14 и15. Когда при сборке возникает дефект, то вырабатывается сигнал остановки сборочного станка, Если одиниз проволочных контактов 5 изогнутза пределы переключателя, то он закрывает поток излучения, падающий наФотоприемник 7, и на ем уменьшаетсясигнал. Дифференциальные усилители11-13 выдают три логические "1", которые проходят через логические элементы ИЛИ 14 и 15 как сигнал остановки сборочного станка, Если проволочный кон.акт 5 изогнут внутрь, тоуменьшается сигнал на фотоприемнике8, что вызывает сигнал логической"1" на дифференциальном усилителеЭтот сигнал проходит...

Устройство для измерения малых зазоров между двумя поверхностями, одна из которых прозрачная

Загрузка...

Номер патента: 1446472

Опубликовано: 23.12.1988

Авторы: Бручас, Маченис, Печкис

МПК: G01B 21/08

Метки: двумя, зазоров, которых, малых, между, одна, поверхностями, прозрачная

...осиподвеса, Световой поток, излучаемыйисточником 1 света с длиной волныЯ, через щелевую диафрагму 2 направляется в измеряемый зазор между поверхностями в виде световой линии, 55ориентированной в радиальном направлении прозрачного диска 4, по которому перемещается поверхность 5. Отраженные этими двумя поверхностями интерферирующие лучи направляются светоделителем 3 на линейку 6 Фотоприемников (число Фотоприемников определяется радиусом диска), Сигналы сФотоприемников через электронный коммутатор 7 поступают на многоканальный блок 10 регистрации, перемещениеповерхности 5 фиксируется датчиком,пинейного перемещения, выдающим аналоговый сигнал, который через преобразователь 8 аналог - код управляетэлектронным коммутатором 9. В исходном...

Способ измерения толщины тянутого листового стекла и устройство для его осуществления

Загрузка...

Номер патента: 1522037

Опубликовано: 15.11.1989

Автор: Безродный

МПК: G01B 21/08

Метки: листового, стекла, толщины, тянутого

...прохождение пучка света черезстекло осуществляется многократно.Стекло 16 транспортируют с постояннойскоростью вдоль собственной. плоскостипоперек направления вытягивания(полосности)., отмеченного на Фиг, 1стрелкой 17. Прошедший через стекло16 пучок света претерпевает смещение,усиленное оптическим отражателем 2(трехгранной прямоугольной призмой)за счет повторного своего прохождения через стекло 16, и угловое отклонение поперек смещения из-за полосности поверхностей стекла 16, усиленное после повторного прохожцения через стекло 16 после отражения отзеркала 4,Вторым Фотоприемником 5 совместнос вторым измерительным преобразователем 9 непрерывно измеряют координатупучка света, прошедшего через стекло16, пропорциональную угловому...

Датчик толщины потока суспензионной жидкости

Загрузка...

Номер патента: 1538048

Опубликовано: 23.01.1990

Авторы: Ветров, Денисенко, Котлобай, Курилович, Лежнев

МПК: G01B 21/08

Метки: датчик, жидкости, потока, суспензионной, толщины

...поводка 6 пе 55 ремещает пластины 1 поперек потока. Одновременно происходит вращение левой муфты 12 и левого шкива 9, а от него пасиком 10 приводится левый шкив4 и круглые диэлектрические пластины1 с размещенными внутри них плоскимикольцевыми электродами 3. Правый шкив9 вращается при этом вхолостую, прич ем при вод его осущест вля ется от и равого шкива 4 пасиком 11.Электроды 3 при прямом и обратномходе датчика в направлении набегающего потока вращаютсяТвердые включения, периодически набегающие нажид кост ный кли н между дном и круглойдиэлектрической пластиной, выносятсявращающейся пластиной за пределы зо"ны и з мер ения т ол щи ны и от ока, т, е.происходит постоянное самоочищениедиэлектрических пластин. Малая зонаконтакта пластин с...

Способ измерения расстояния до отражающей поверхности и устройство для его осуществления

Загрузка...

Номер патента: 1539527

Опубликовано: 30.01.1990

Авторы: Айсин, Гродников, Лушин, Подобрянский, Путилин, Хлебников

МПК: G01B 21/08

Метки: отражающей, поверхности, расстояния

...изображения диафрагмы 3 к отражающей поверхности элемента 33 амплитудагармонической составляющей электрического сигнала, частота которой равна частоте сканирования анализирующей диафрагмы 9, вначале возрастаетдо максимального значения, затемубывает и становится равной нулю присовмещении плоскости изображения диафрагмы 3 с плоскостью отражающейповерхности элемента 33.При дальнейшем перемещении плоскости изображения диафрагмы 3 относительно плоскости отражающей поверхности элемента 33 амплитуда первойгармонической составляющей электрического сигнала вновь возрастает,а затем убывает.При приближении плоскости изображения диафрагмы 3 к плоскости отражающей поверхности элемента 33 амплитуда второй гармонической составляющей электрического...

Способ контроля толщины слоя покрытия и устройство для его осуществления

Загрузка...

Номер патента: 1539528

Опубликовано: 30.01.1990

Авторы: Демшевский, Степчук

МПК: G01B 21/08

Метки: покрытия, слоя, толщины

...напряжения с заданным,2 с,п. Ф-лы, 1 ил, 1539528Участок подложки 3 без покрытия 2 или образец-свидетель материала подложки 3 помещают в устройство между излучателем 1 и диафрагмой 13, перекрывая в последней оба отверстия с установленными в них Фотоприемниками 4-1 и 4-2. Поток излучения от излучателя 1, проходя через подложку 3, попадает на оба фотоприемника: ре гулярная составляющая прошедшего потока попадает на Фотоприемник 4-1, расположенный на одной оптической оси с излучателем 1, фотоприемник 4- 2 регистрирует часть излучения, пропорционального диффузно-рассеянному свету в подложке 3. Фототок приемника 4-1 преобразуется с помощью измерительного преобразователя 5-1 в напряжение, пропорциональное регулярной составляющей прошедшего...

Способ определения толщины плоского слоя

Загрузка...

Номер патента: 1557454

Опубликовано: 15.04.1990

Автор: Третьяков

МПК: G01B 21/08

Метки: плоского, слоя, толщины

...материала слоя икоэффициент теплоотдачи. Плотностьпоглощаемого теплового потока мбыть найдена, например, по резутам фотометрических измерений с1557454 Ьо(2)=(С/2 АоС), 1+(1-8 оОоА 2/С)Ьо(о)=(С/2 АГС) 1 о(1-8 ооС Ао/С) Ьо(2)-(2 Со(оо/ВВ) -оо(С-оо/2/С,30 1 (8) 2 Цо,оо/В ) -оо-оо/2 /С,где В - скорость охлаждения поверхности слоя;л(- длительность импульса теплового потока. Формула изобретения Составитель Л.СтепановРедактор А.Огар Техред А.Кравчук Корректор Т,Иалец ю Заказ 712 Тираж 480 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г.ужгород, ул.Гагарина, 191 том данных по коэффициенту черноты,теплоемкость...

Фотометрическое устройство для измерения и управления толщиной оптически активных слоев

Загрузка...

Номер патента: 1584759

Опубликовано: 07.08.1990

Авторы: Альфонс, Хорст

МПК: G01B 21/08

Метки: активных, оптически, слоев, толщиной, фотометрическое

...информа цию об оптических свойствах соответствующего объекта и не требуют уженикаких сравнительных измерений с образцами и т.п.Не обязательно усиленную измери тельную величину 1 от покрытого слоемобъекта запоминать в запоминающемустройстве. После калибровки устроиства без дальнейших сложностей можнозамеренную величину 1 сразу преобразовать с помощью вышеуказанных операций и вывести на индикацию. Однакоцелесообразно измеряемую величинутакже запоминать в запоминающемустройстве, так что она может бытьопрошена для различных счетных операций спустя какое-то время.Снаружи вакуумной камеры 2 расположен источник 6 света, от которого5 сконцентрированный световой пучок 7 измерительного света идет в направлении на окна 3 и 4. Измерительный пучок...

Способ определения толщины пленочных материалов и покрытий

Загрузка...

Номер патента: 1619035

Опубликовано: 07.01.1991

Авторы: Скрипник, Таран

МПК: G01B 21/08

Метки: пленочных, покрытий, толщины

...8 (микроЭВМ), состоящий из аналого-цифрового преобразователя (АЦП) 9, вычислителя 10, цифроаналогового преобразователя (ЦАП) 11, блока 12 управления генератором 1, блоков 13 и 14 линейных перемещений соответственно зеркала 5 и материала 3, цифрового индикатора 15,Способ осуществляется следующим образом.При равенстве оптических длин каналов распространение зондирующего и опорного потоков когерентного оптического излучения разность фаэ колебаний совмещаемых потоков определяется фаэовой задержкой зондирующего потока в контролируемом материала или покрытии:Л ро = 2 л из (и - 1) - , (2)дсогде эО - начальная частота когерентного излучения;д - толщина контролируемого материала или покрытия;со - скорость распространения излучения в свободном...

Двойной двухлучевой интерферометр для измерения толщины покрытий

Загрузка...

Номер патента: 1627836

Опубликовано: 15.02.1991

Авторы: Косьмина, Цейтлин

МПК: G01B 21/08

Метки: двойной, двухлучевой, интерферометр, покрытий, толщины

...б,чггтсого мГ.у 5 тсрс 7 и ст,оп Я .. Рл.огт ь Ал зких сигилто с АР"спртс . -9 зл:иси г от гл эости хоотрлжеитик от с б ет;тл 1.", 1627836порядком дифракции рещетки 2. Таким образом, в направлениях Т и ТТ наблюдаются две бегущие интерференционные картины, интенсивности которых меняются с частотой Г акустической волны модулятора 7 и с фазами Ц ч 4 Чь ф Чйв Чб Юс14 ф Чв ф Чс фазы падающих на модулятор световых волн) . Разность фаз интерференцион О ных сигналов не меняется при любых перемещениях15образца, кроме перехода луча черезступень, образованную подложкой и покрытием, так как, если грани ступени плоские и лучи находятся на одинаковом расстоянии друг от друга, то20Ч 4Ь, = 28 Ч.,где ФЧ, 3 ЧЬ,Ц 1 С - приращения фаз соответ"ствующих...

Способ неразрушающего контроля толщины пленочного покрытия изделия

Загрузка...

Номер патента: 1663428

Опубликовано: 15.07.1991

Авторы: Емельянов, Муромцев, Пудовкин, Чернышов, Чернышова

МПК: G01B 21/08

Метки: изделия, неразрушающего, пленочного, покрытия, толщины

...в центре площадки контакта поверхности с источником. При установившемся тепловом режиме эта температура становится постоянной, т,е. Т 1=сопэ 1. Затем помещают источник на поверхность изделия с покрытием, теПлоизолируют его, осуществляют нагрев поверхности и измеряют значение ину покрытия оп опреде полученной иэ анализа математической моде16 б 3428 ры нагретой поверхности изделия, затем осуществляют нагрев поверхности изделия с покрытием и измеряют значение избыточной температуры поверхности покрытия, а 5 толщину покрытия определяют с учетом иамеренных значений температур и теплопроводности материала. покрытия, о т л и ч а ющ и й с я тем, что, с целью повышения точности, нагрев поверхности осуществ ляют с помощью плоского...

Устройство для контроля процесса нанесения покрытий

Загрузка...

Номер патента: 1682783

Опубликовано: 07.10.1991

Авторы: Мехедко, Силюк, Сычик, Шмелев

МПК: G01B 21/08

Метки: нанесения, покрытий, процесса

...ЛВ К ЛМВэ Пренебрегая в соответствии с полученными результатами значениями фонового потока Фй излучения и напряжения Ош дрейфа нуля, определим величину изменения управляенмого сопротивления ЛВу, которая обеспечивается за счет действия обратной связи при ВрВэНапряжения Оэ и Ор от эталонного и рабочего электродов на выходе фазоинверсного каскада 34 соответственно равныОэ = Вэ Ф Вф К Коу, (14) О, = Вр фу Вф К Коу (15) где Коу - коэффициент передачи усилителя- ограничителя.В выражениях (14) и (15) коэффициент передачи компенсирующего повторителя 25 принят равным 1, так как значение кода Мо, поступающего на вход ЦАП, при этом не изменилось,Считая время прямого цикла интегрирования АЦП 8 равным Ти, при заданном значении чувствительности...

Способ неразрушающего контроля толщины, защитных покрытий изделий и устройство для его осуществления

Загрузка...

Номер патента: 1725071

Опубликовано: 07.04.1992

Авторы: Пудовкин, Чернышов, Чернышова

МПК: G01B 21/08, G01B 7/06, H03M 1/60 ...

Метки: защитных, неразрушающего, покрытий, толщины

...тела изделия практически не оказывают влияния на формирование температурного поля поверхности, наоборот в 1 = 1, в 2 = О. Поскольку среднеинтегральный коэффициент теплопроводности ср определяется процентом содержания покрытия тела в единице объема, то в 1+ в 2 = 1 и выражение (8) можно записать в следующем виде: ср В 1 Яй + (1 - В 1) изд,(9) Ввиду того, что значение коэффициента в 1 пропорционально толщине пленочного покрытия, выражение (9) можно записать в следующем виде:/ср = 3 Ап Ьп + (1 -Ьп),изд, (10) где Ьг) - толщина пленочного покрытия, в коэффициент пропорциональности, определяемый экспериметальным путем и численно равный обратной величине от максимально возможной в тепловом отношении толщины покрытия.Используя выражения (б) и...

Способ неразрушающего контроля толщины пленочного покрытия изделия

Загрузка...

Номер патента: 1733928

Опубликовано: 15.05.1992

Авторы: Муромцев, Пудовкин, Чернышов, Чернышова

МПК: G01B 21/08

Метки: изделия, неразрушающего, пленочного, покрытия, толщины

...на изделии без покрытия, а затем - на изделии с покрытием, и замеряют значение избыточных температур в центре расположения источника и в точке, расположенной на заданном расстоянии от него, симметрично относительно его концов, и используют замеренные значения температур при определении толщины покрытия,поверхности изделия - в точке, расположенной на заданном расстоянии от источника теплоты и симметрично относительно его концов. Затем устанавливают источник на, д поверхность изделия с покрытием и также( сизмеряют установленную температуру Тз в центре источника тепла и температуру Т 4 на поверхности изделия также в точке, распо- ф" ложенной на заданном расстоянии от источ ника теплоты и симметрично относительно его концов. 00Искомую...

Устройство для контроля толщины пленок многослойных покрытий в процессе напыления

Загрузка...

Номер патента: 1735712

Опубликовано: 23.05.1992

Авторы: Путилин, Столов, Эльгарт

МПК: G01B 21/08

Метки: многослойных, напыления, пленок, покрытий, процессе, толщины

...с длинами волн Л 1 и А 2, удовлетворяющими соотношению1 Э + 12 =2 Яз,ГДЕ П 1 б = 4 И,К=1,2,;где й 1 б - заданная оптическая толщина пленки.По ходу лучей между выходной щельа 5 и фотоприемником 12 расположен модулятор 10, приводимый во вращение двигателем 11, Модулятор 10 поочередно закрывает при вращении верхнюю и нижнюю половины щели 5. При этом на выходе фотоприемника 12 возникает сигнал, переменная составляющая которого может быть выражена зависимостьюЛОФ=МфЬ Ы 1 Й - фА 2 ТкЛ,8 ггде ФА 1 и ФЛ 2 - световые потоки, излучаемые источником на длинах волн 4 и А 2;Т,Я и Тк, - коэффициенты пропускания оптических каналов для длин волн Л 1 иА 2;и 3 - чувствительность фотоприемника на длинах волн А 1, л 2;М - коэффициент усиления...

Способ измерения тонких прозрачных и полупрозрачных слоев

Загрузка...

Номер патента: 1772627

Опубликовано: 30.10.1992

Авторы: Куренкова, Скрипаль, Усанов, Феклистов

МПК: G01B 21/08

Метки: полупрозрачных, прозрачных, слоев, тонких

...чертежом, на20 котором представлена схема устройства,реализующего предложенный способ измерения толщины прозрачных и полупрозрачных слоев, нанесенных на отражающиеповерхности,25 Устройство содержит предметный столик 1, на котором располагается исследуемая поверхность 2, оптический блок 3,механизм 4 наводки на резкость с визирнойметкой, Б - источник освещения, 6 - прием 30 ная телевизионная камера, монитор 7, пульт8 управления, блок 9 питания устройства,Исследуемая поверхность 1 расположена на Предметном столике 2 таким образом,чтобы измеряемый слой был обращен к обь 35 ективуЗ оптического устройства,. Исследуе-.мая поверхность 1 должна бытьрасположена в поле зрения оптического устройства 3. Наводка на резкость осуществляется...

Измеритель поперечных размеров частиц типа волокон

Загрузка...

Номер патента: 1809304

Опубликовано: 15.04.1993

Авторы: Розов, Шуренков

МПК: G01B 21/08

Метки: волокон, измеритель, поперечных, размеров, типа, частиц

...сообщающего носителю 3 микрообьектов поворот на угол Ьр (грвд). При этом шаговый двигатель и механическая конструкция носителя 3 микрообъектов выбираютсю так, чтобы ве 180личина - - была целым числом, С каждым тактовым импульсным сигналом световое пятно ЭЛТ 1 сканирует после носителя 3 микрообъектов и длительности считанных импульсов Фотоприемника 5 (эа исключением импульсов в ближайшей временной окрестности тактовых импульсов) в память вычислительного устройства 7. Частота ждущей развертки ЭЛТ 1 выбирается из условия- (1,1-1,2)Измерение и запоминание длительностей считанных импульсов фотоприемника 5 заканчивается, когда длительность отсчета времени достигнет1 о+ Ь 2 -у - .180Если Форму темных линий дифракционной решетки можно считать...