G01B 11/255 — для измерения радиуса кривизны

Номер патента: 1315799

Опубликовано: 07.06.1987

Авторы: Волков, Горбань, Резунков, Скирда, Суббота-Мельник, Ткач

МПК: G01B 11/255

Метки: линейных, перемещений

...13, где излучение делят вторым светоделителем 10 попо лам, смещают разделенные пучки одинотносительно другого и световозвращают их уголковыми отражателями 11 и 12,Оптическая проекционная система 9 10осуществляет оптическую связь опорной площадки 7 с плоскостью изображения, в которой размещена диафрагма 14, Излучение, прошедшее интерферометр 13, формирует на щелевой диафрагме 14 два световых пятна, смещенных один относительно другого вдоль прямой, перпендикулярной щели диафрагмы, смещение 1 между которыми равно2 ОР - й /3где й - величина бокового сдвига винтерферометре между световозвращенными пучками;25- линейное увеличение оптической сопрягающей системы,Б поле переналажения световых пучков наблюдают интер 1 еренционные...

Номер патента: 1322088

Опубликовано: 07.07.1987

Авторы: Горбань, Паско, Резунков, Тетера, Ялинич

МПК: G01B 11/255

Метки: детали, кривизны, оптической, поверхности, радиуса

...положение 16 сферы радиуса К с центром вточке 0 и положение 17 той же сферыпри смещении на расстояние х. 0центр смещенной сферы, й - расстояние между осями 8 и 10 резонаторов.При смещении сферы на расстояние хвозникает оптическая разность хода Ь(показано для случая отражения отсферы). 45Из решения треугольников АСР иАО С можно получить 2 Е - - 14 х + Ьй(1)Ь51Учитывая, что реальная величина Ь соизмерима с Л, т.е. составляет доли и единицы микрометров, а величина х - единицы миллиметров, то с погрешностью менее 0,13 Й х К Ь Измерения производят следующим об 2После установки детали 11 в оезо- наторы, ее юстировкой добиваются наличия генерации в обоих резонаторах и устройством 15, в качестве которого можно использовать, например,...

Номер патента: 1379615

Опубликовано: 07.03.1988

Автор: Бакеркин

МПК: G01B 11/255

Метки: детали, кривизны, оптической, поверхности, радиуса, сферической

...4 и 3,где а =А-А, - разность отсчетов в положениях зеркал3 ирасстояние междуотражающими поверхностями зеркал 3и 4;расстояние от точки Р до поверхности зеркала 2,При измерении радиуса кривизны поверхности детали приемлемая точность достигается при смещении зеркал 3 и 4 на величину а, не превышающую 300-400 мм, а диапазон измерений величин К большой. формула изобретения30 Устройство для измерения радиуса кривизны сферической поверхности оптической детали, содержащее автоколлимационный микроскоп, механизм перемещения и отсчетную шкалу с индекопределяют по резкому автоколлимационному изображению сетки микроскопа 36 1. Затем устанавливают зеркала 3 и 4. Зеркала смещают по направлению к автоколлимациоцному микроскопу 1 до совпадения точки Р...

Номер патента: 1411576

Опубликовано: 23.07.1988

Авторы: Авдеев, Куренкова, Скрипаль, Тупикин, Усанов

МПК: G01B 11/255, G01B 9/02

Метки: кривизны, объектов, поверхностей, радиуса, сферических

...равная расстоянию между плоскостямиВВи ВВ (Фиг 1),с - скорость света;И - время когерентности;Л - средняя длина волны немонохроматического излучения винтервале длин волн от Л доЛ+д Л,Немонохроматическое излучение можно представить как совокупность когерентных монохроматических компос нент, занимающих некоторый диапазон длин волн от Я до Л+ йЯ, Каждая моно- хроматическая компонента образует свою интерференционную картину. Полная интенсивность в любой точке равна сумме интенсивностей, создаваемых каждой монохроматической составляющей. При использовании немонохроматического источника белого света (диапазон длин волн 0,4 - О, 7 мкм), ш с Л /йЛ 2, интерференционная картина имеет слеетра тину с еренционную кар иус, о т л и ччто, с целью...

Номер патента: 1421995

Опубликовано: 07.09.1988

Авторы: Агапов, Половцев

МПК: G01B 11/255, G01B 11/30, G02B 27/54 ...

Метки: прибор, теневой

...тень от экрана 4 при контроле детали 2 идеальной формы будет иметь вид прямых линий. Измерительный экран 5 установлен за плоскостью изображения источника 1 света в плоскости анализа теневой картины, т. е. в плоскости компенсации кривизны экрана 4, с возможностью перемещения его вдоль оптической оси измерения величины этого перемещения. Взаимная ориентация и размерные зависимости прямых на измерительном экране 5 и кривых на криволинейном экране 4 определяется, параметрами контролируемой детали 2 и схемой контроля. На фиг. 2 представлен вариант разметки экрана 5, где 6 - линии разметки, 7 линия световой апертуры, 8 - центр теневой картины,Теневой прибор работает следующим образом.Перед началом измерений точечный источник 1 света...

Номер патента: 1460600

Опубликовано: 23.02.1989

Авторы: Бакеркин, Контиевский

МПК: G01B 11/255

Метки: кривизны, оптических, поверхностей, радиуса, сферических

...1 фокусируют на контролируемую поверхность 2 40 (положение автоколлимационного микроскопа показано пунктирными линиями) и измеряют расстояние между двумя положениями .автоколлимационного микроскопа 1. По измеренному 45 расстоянию между двумя положениями автоколлимационного микроскопа 1 оп-. ределяют радиус кривизны контролируемой поверхности 2. При фокусировке автоколлимационного микроскопа 1 на контролируемую поверхность 2 экран б убирают, а плоскопараллельную пластину 4 смещают по направлению к автоколлимационному микроскопу 1 или выводят иэ хода лучей. Если плос. копараллельная пластина 4 остается55 в ходе лучей, то радиус кривизны контролируемой поверхности 2 равен расстоянию между двумя положениями автоколлимационного микроскопа...

Номер патента: 1474457

Опубликовано: 23.04.1989

Автор: Деомидов

МПК: G01B 11/25, G01B 11/255

Метки: кривизны, локальной, поверхности

...отрезка ООПусть поверхность О С - контролируемая поверхность 5 подложки с неизвестным радиусом кривизны К ,. Лучи,идущие по нормали к поверхностиО С, собираются в точке Е на оптической оси объектива 3, причем расстояние РЕ определяется по формулеНьютона 1 г РЕ = -- й кИз подобия треугольников ЕАЭ и35 ЙЕСО получают ЕЭ=Р -- (по аналогииХосс эталонной поверхностью). 40 Хов Е ос). (1) 1Х ос 45 На Фиг,1 обозначены регистрируемая (и+2)-я полоса 6, видимая на фоне контролируемой поверхности 5;полоса 7, видимая на фоне поверхности 4 (на данной схеме может быть зарегистрирована при отсутствии.подложки) регистрируемая (и+1)-я полоса 8, видимая на фоне поверхности 5, регистрируемая и-я полоса9 видимая на фоне поверхности 5.Из подобия...

Номер патента: 1562691

Опубликовано: 07.05.1990

Автор: Парняков

МПК: G01B 11/255, G01B 9/08

Метки: кривизны, поверхностей, радиусов, сферических

...объективов 43 и 43 и в которой проектируются два иэображениямарки 37. При наведении проекционныхсистем на контролируемую поверхностьточка пересечения осей этих системсовмещается с вершиной О сферической поверхности, При отражении отнее оба пучка лучей света проходят вобратном ходе оптические элементыпроекционных систем и с помощью светоделительного зеркала 40 направляются в линзу 45 приемной оптическойсистемы. С помощью линзы 45 и кубпризмы 49 с полупрозрачной гипотенузной гранью два изображения марки проектируются в плоскости марки 50, наблюдаемой через окуляр 51, в плоскости диафрагмы 47, расположенной перед фотоприемником 48. На фиг.2 показан в качестве примера двухэлементный фотоприемник, но вместо него возможно,...