Эриньш

Номер патента: 1792942

Опубликовано: 07.02.1993

Авторы: Кулькевиц, Полманис, Эриньш, Якобсонс

МПК: C08B 1/00, D21B 1/36

Метки: микрокристаллической, порошковой, целлюлозы

...следующие условия автогидролиза; 5 мин выдержки при 220 С и 2 мин выдержки при 235 С.45 В отличие от известного способа, гдедеструкция фибрипл целлюлозы и понижение ее степени попимеризации достигается проведением повторного автогидролизэ выделенной целлюлозы в присутствии добав кой кислоты, в предложенном нами способеуказанные изменения целлюлозы происходят во время первой обработки паром, иэ-эа укаэанной выдержки массы в реакторе в присутствии кислоты, образованной в про цессе деструкции гемицеллюлоз, имеющихся в исходном материале, исключающей необходимость повторного проведения автогидролиза.Заявленный способ осуществляетсяследующим образом.Технологическую древесную щепу раэрами примерно 2 х 10 х 30 мм загружают в и едварительно...

Номер патента: 654734

Опубликовано: 30.03.1979

Автор: Эриньш

МПК: E02B 11/00

Метки: дренажного, регулятор, стока

...на удерживающей гибкой тяге 10.Под корпусом водоприемной трубы 1 закреплена пластина 11, к которой прикреплен магнит 12, удерживающий открывающий рычаг 7,Регулятор устанавливают в дренажном колодце и настраивают на определенный, заранее выбранный уровень воды, для чего фиксируют длину гибкой тяги 8 большого поплавка 9 и удерживающей его гибкой тяги 10.В закрытом положении клапан 4 прижимается к седлу 3 давлением водного столба и силой магнита 12. Вода поступает в колодец и поднимается до уровня, когда подъемная сила большого 9 и малого 6 поплавков становится равной и больше давления водного столба на клапан 4 и силы магнита 12. Выталкивающая сила воды, действующая на поплавки 6 и 9, связанные клапаном 4, рывком поднимает клапан 4...

Номер патента: 421956

Опубликовано: 30.03.1974

Авторы: Алена, Вильдфангс, Эриньш

МПК: G01R 31/265, H01L 21/66

Метки: измерительный, элемент

...структур с помощью высокочастотного электромагнитного поля.Известные измерительные элементы для измерения толщины металлических покрытий, толщины и удельного сопротивления полупроводниковых материалов дают удовлетворительные результаты при изучении сравнительно низкоомных полупроводников в диапазоне частот от десятков килогерц до нескольких десятков мегагерц, но мало эффективны при изучении высокоомных полупроводниковых материалов из-за низкой чувствительности.Для повышения чувствительности необхо. димо увеличить частоту до 200 - 300 Лги, однако с повышением частогы увеличивается влияние на результаты измерения собственной емкости катушки.Цель изобретения - повышение чувстви;ельности измерительного элемента. Цель достигается тем,...

Номер патента: 313071

Опубликовано: 01.01.1971

Авторы: Григулис, Дзилюмс, Эриньш

МПК: G01B 7/06

Метки: покрытия, приборов, толщины, эталонирования

...приборов для контолщины покрытия, заключающийся в то токовихревой датчик прибора распот над основой и производят соответстие регулировки электрических режимов ях прибора, отличающийся тем, что, с повышения точности эталонирования, арительно до регулировки на основу намаксимальную толщину покрытия. О троля том, ч лагаю вующ в цеп целью предв носят рисоединением заявки, К, Григулис, Э. П, Эринып зико-энергетическии институ Изобретение относится к контрольно-измерительной технике.Известен способ эталонирования приборов для контроля толщины покрытия на металлической основе, заключающийся в том, что токовихревой датчик прибора располагают над основой и производят соответствующие регулировки электрических режимов в цепях прибора....