Патенты с меткой «эталонирования»

Устройство для эталонирования гравиметров

Загрузка...

Номер патента: 117254

Опубликовано: 01.01.1958

Автор: Поддубный

МПК: G01V 13/00

Метки: гравиметров, эталонирования

...для размещениролируемого гравиметра, которая перемещается вдолправляющих 2. Площадке 1 сообщается равномерно-ус помощью направляющих 3 соответствующего профна поверхности цилиндра 4 и взаимодействующих сплощадки л, Цилиндр 4 приводится во вращение чехронным двигателем б, питаюь переменивм тОкОчастоты.П бженные азмещеп н о сравнениюбеспечивает ест омердр, несущиц на посоторые взаимодейодится во вращение ля, питаемого перероиства,я оператораь вертикалскоренное ддля, располопорнымрез редуктстабилизи 1 и контьных пав ижение оженных роликом ор 5 син- ованной мет из э р етениявиметров, снабженное и щадкой для размещени чаю щееся тем, что лжения площадки, в нем авляющие соответствую Олпком площадки, и пр от синхронного электро пованнои частоты....

Устройство для эталонирования изделий из труб

Загрузка...

Номер патента: 191997

Опубликовано: 01.01.1967

Авторы: Зиа, Руманов, Сгс

МПК: B21D 7/00

Метки: труб, эталонирования

...во в эталое нзто, сченияацин, де гматер Устройства для эталонирования изделий из труб, составленные из сборных элементов, известны.Предлагаемое устройство отличается от известных тем, что каждый сборный элемент выполнен в виде гофрированной втулки из пластического материала, во впадинах внутренней и наружной поверхностей которой расположены витки пружины. По концам втулки установлены пробки, посредством ко. торых с борные элементы соединены между собой, например, при помощи резьбы, причем внутри втулки смонтирован продольны:; стержень, скрепляюгций пробки. Это ус гройство сиикает трудоемкость изготовления эталонов для труб различной конфигурации.Для упр авления жесткостью элемента в качестве пласгического материала...

Устройство для эталонирования астазированных гравиметров

Загрузка...

Номер патента: 197204

Опубликовано: 01.01.1967

Авторы: Буданов, Всесоюзный, Евдокимов, Юдина

МПК: G01V 13/00, G01V 7/02

Метки: астазированных, гравиметров, эталонирования

...На фиг. 1 представлена схема предложенного устройства; на фиг. 2 - приспособлениедля жесткого закрепления внутреннего корпуса гравиметра в разрезе.Устройство состоит из экзаменатора 1 с10 юстировочным зеркалом 2, подъемного винта8 с шариком 4 в торцовой части, приспособления 5 для жесткого закрепления внутреннего корпуса гравиметра и угломерного инструмента б,15 Приспособление 5 (см. фиг. 2) содержиткольцо 7, разрезной стакан 8, накидную гай.ку 9, сосуд Дьюара 10, кожух 11, нивелиро.вочные винты 12 и эталонировочное зеркало 18.20 Подготовка устройства к эталонированиюзаключается в следующем. Внутренний корпус гравиметра 14, предназначенного дляэталонирования, вынутый из наружного корпуса, закрепляют в разрезном стакане при 25...

Устройство для эталонирования гравиметров

Загрузка...

Номер патента: 203948

Опубликовано: 01.01.1967

Авторы: Буланже, Жукова, Коврыгин, Новиков, Певзнер, Романюк, Рукавишников

МПК: G01V 13/00

Метки: гравиметров, эталонирования

...инструмент (отсчетную трубу 1 и лимб 2), стойки 3 и 4, основание б, подъемные винты б, винты 7 и 8 соответственно тонкой и грубой наводки механизма наклона, зажимной винт 9, промежуточное кольцо 10, поворотную раму 11 и рукоятку 12.Гравиметр 13 устанавливают с помощью кольца 10 на поворотной раме 11. Поворотная рама имеет две полуоси 14, которые опираются на лагеры, укрепленные в стойках 3 и 4. Одна полуось связана с вращающимся лимбом, другая - рычагом (на чертеже не показан) с устройством для задания наклонов (винтами 7 и 8). Рычаг укреплен на полуоси с помощью винта 9. Лимб 2 в процессе эталонирования можно переставлять с помощью рукоятки 12, Стойки 3 и 4 и основа ние б представляют собой единый корпус,снабженный тремя подъемными...

Устройство для эталонирования изделий из труб

Загрузка...

Номер патента: 220730

Опубликовано: 01.01.1968

Автор: Руманов

МПК: B21D 9/16

Метки: труб, эталонирования

...отключении тока сплав оруя заданную форму,В основном авт. св.191997 описано устройство для эталонирования изделий из труб, составленное из сборных элементов, каждый из которых выполнен в виде гофрированной втулки из пластического материала. По концам трубки установлены пробки, посредством которых сборные элементы соединены между собой, причем внутри втулки смонтирован продольный стержень, скрепляющий пробки.Предложенное устройство отличается от известного тем, что, с целью облегчения его эксплуатации, в полости гофрированной втулки, заполненной сплавом Вуда, расположена нихромовая спираль, изолированная стекловолокном.Схема устройства показана на чертеже.По концам гофрированной втулки 1 уста. новлены пробки 2, соединяющие втулки между...

Способ эталонирования гироскопических гравиметров

Загрузка...

Номер патента: 309337

Опубликовано: 01.01.1971

Авторы: Аэросъемки, Картографии, Центральный

МПК: G01V 13/00

Метки: гироскопических, гравиметров, эталонирования

...которых использумасштабного коэффициенНедостатком известнонеобходимость примененоборудования.С целью упрощенияпредлагаемому способуротор гироскопа или гоформу гироскопическогос заданной угловой скоро т - "о) гравиметзных полозания, раз пределения нирования то при ра ают пока ют для о та.го способ ия доно от - ттое де д о, то а является лнительного то эталонирования по при каждом отсчете ризонтальную платгравиметра вращают стью. эталонирования гироскопическихсодержащих гироскоп на гори- платформе, состоящий в том, что ру берут несколько, например два, разности которых определяют масоэффициент, отличающийся тем, ю упрощения эталонирования, при чете ротор гироскопа или горизонтформу вращают с заданной углою. роскопические гравиметры...

Способ эталонирования приборов для контроля толщины покрытия

Загрузка...

Номер патента: 313071

Опубликовано: 01.01.1971

Авторы: Григулис, Дзилюмс, Эриньш

МПК: G01B 7/06

Метки: покрытия, приборов, толщины, эталонирования

...приборов для контолщины покрытия, заключающийся в то токовихревой датчик прибора распот над основой и производят соответстие регулировки электрических режимов ях прибора, отличающийся тем, что, с повышения точности эталонирования, арительно до регулировки на основу намаксимальную толщину покрытия. О троля том, ч лагаю вующ в цеп целью предв носят рисоединением заявки, К, Григулис, Э. П, Эринып зико-энергетическии институ Изобретение относится к контрольно-измерительной технике.Известен способ эталонирования приборов для контроля толщины покрытия на металлической основе, заключающийся в том, что токовихревой датчик прибора располагают над основой и производят соответствующие регулировки электрических режимов в цепях прибора....

Устройство для эталонирования гирокомпасов

Загрузка...

Номер патента: 457881

Опубликовано: 25.01.1975

Авторы: Малков, Новак, Рязанцев, Суриков

МПК: G01C 19/38

Метки: гирокомпасов, эталонирования

...1 представлена схема предлагаемого устройства, общий вид; на фиг. 2 - вид по стрелке А на фиг. 1,Устройство состоит из установленного наосновании 1 трегера 2 с лимбом 3, на котором закреплено неподвижное звено 4 составного жезла, Подвижное звено 5 жезла, на котором 10 укреплен отражатель 6 и датчики 7 и 8, соединено с неподвижным звеном 4 с помощью шарнира 9 и микрометренного механизма 10 перемещения. Датчики 7, 8 взаимодействуют со струнами 11, 12 обратных отвесов и соеди иены с цифровым указателем 13.При азимутальном развороте основания 1 сотражателем 6 датчики 7, 8 передают показания величины сдвига на цифровой указатель 13. С помощью микрометренных винтов лимба 3 неподвижное звено 4 жезла поворачивается вокруг вертикальной оси, чем...

Устройство для эталонирования геофизических приборов

Загрузка...

Номер патента: 545951

Опубликовано: 05.02.1977

Авторы: Багмет, Островский, Шляховой

МПК: G01V 13/00

Метки: геофизических, приборов, эталонирования

...светэвогэ луча, направляемого на входь умножителей зеркалами 7,9. 25Устройство работает следующим образом,Параллельный пучэк света от источникасвета 6 направляется на полупрозрачное зеркало 7 и разделяется на два взаимно перпендикулярных луча - отражающий и проходяший, Отраженный луч падает на вход первого умнэжителя, сэстояшего из отражателей11, 13, и после многократных отражений отих граней с помошьк зеркала 9 направляетсяна полупрозрачное зеркало 8, Второй прэхэдяший луч падает на направляюшее зерка -ло 10, отражается от него и поступает навход второго умножителя, сэстояшего из отражателей 12, 14, многократно отражаетсяот их граней и попадает на полупрозрачноезеркало 8, где смешивается с первым световым лучом....

Устройство для эталонирования аппаратуры акустического каротажа

Загрузка...

Номер патента: 684481

Опубликовано: 05.09.1979

Авторы: Абросимов, Терещенко, Шумаков

МПК: G01V 13/00

Метки: акустического, аппаратуры, каротажа, эталонирования

...тормозным механизмом, причем части стаканавыполнены из материалов с различнойакустической жесткостью,На чертеже приведена конструкцияустройства, изображенного в процессеэтапонирования перед измерениями вскважине,Устройство дпя этапонирования аппаратуры акустического каротака содержиткорпус 1, состоящий из двух герметичносочленяющихся частей, резиновые прокладки 2, эталонировочный стакан 3 снанесенными на него, дефектами состоящий из двух сочленяюшихся частей, изготовленных из материалов с различнойопределенной акустической жесткостью,плунжер 4, входящий в цилиндр 5 с вентилем 6 и рукоятку 7, соединенную посредством резьбы с плунжером 4. Внешняя труба имеет заливочное отверстие,закрываемое пробкой 8. Эгалонировочное устройство крепится...

Устройство для эталонирования гиротеодолита

Загрузка...

Номер патента: 708154

Опубликовано: 05.01.1980

Автор: Дуб

МПК: G01C 25/00

Метки: гиротеодолита, эталонирования

...11 и 12 таково, что они симметричны относительно плоскости 13, перпендикулярной оптической оси устоойства. Между плоскопараллельнымл пласнами 9 и 10 расположена пластина 14,предназначенная для поворота поляризованных пучков лучей на 90 . Такойпластиной может служить кварцеваяпластина, главная (кристаллическая)ось которой совпадает с оптическойосью устройства. На боковую поверхность анализатора нанесено отражающее покрытие 15, которое являетсяопорным элементом при эталонированиигиротеодолитов.Устройство работает следующим образом.Модулированное излучение лазера 601 попадает на диафрагму 2, котораявырезает узкий пучок из всего излучения лазера, За счет малых размеровдиафрагмы возникает дифракция, причем дифракционное изображение проек...

Устройство для эталонирования пластового наклономера

Загрузка...

Номер патента: 879536

Опубликовано: 07.11.1981

Авторы: Богданов, Бутенко, Емельянов, Маслов

МПК: G01V 13/00

Метки: наклономера, пластового, эталонирования

...имитаторами пластов при вертикальной установке ствола. Каждая пара труб устанавливается таким образом, чтобы напранление наклона имитаторов пластов было сдвинуто относительно друг друга на 90 . Соединенные таким образом приопомощи муфт трубы образуют ствол устройства с желаемым количеством имитаторов пластов с различными направлениями и углами наклона и с заданной точностью. Один конец ствола заглушен концевым фланцем 6, а сам ствол для придания точности установлен н асбоцементную трубу 7. Межтрубное пространство между стволом 6 и трубой 7 заполнено цементным раствором 8. Монолитная конструкция ствола установлена н шахте 9, закреплена во фланце 10 карданового подвеса, состоящего из крестовидной оси 12, закрепленной н опорах 13, оси 11...

Образец для эталонирования ультразвуковых преобразователей

Загрузка...

Номер патента: 1280534

Опубликовано: 30.12.1986

Авторы: Волков, Гребенник

МПК: G01N 29/04

Метки: образец, преобразователей, ультразвуковых, эталонирования

...отверстий 2 одинакового диаметра, расположенных по длине параллелепипеда1 с равным шагом, выбранным в зависимости от ширины преобразователя,Ось каждого последующего отверстия 2повернута относительно оси предыду 1 щего на заданный угол сс в интервалеот О до 45, Образец имеет рабочуюповерхность 3 для определения углаповорота плоскости поляризации сдвиговых волн, ориентированных в горизонтальном направлении, и рабочуюповерхность 4 для определения углаповорота в вертикальном направлении.Образец используют следующим образом.При определении угла поворотаплоскости поляризации сдвиговых волнна рабочую поверхность 3 .образца устанавливают исследуемый преобразователь, подключенный к дефектоскопу 35(не покаэан). Перемещая...

Устройство для эталонирования аппаратуры электромагнитного каротажа

Загрузка...

Номер патента: 1492338

Опубликовано: 07.07.1989

Авторы: Заслонов, Королев, Костюк, Мечетин

МПК: G01V 13/00

Метки: аппаратуры, каротажа, электромагнитного, эталонирования

...- магнитный момент первойвспомогательной генераторной катушки 6;20 н2 , 2 , - расстояния от центра первойвспомогательной генераторной катушки 6 до центровсоответственно первой и,второй измерительных катушек 14 зондаАналогично напряженности магнитного поля, создаваемые второй вспомогательной генераторной катушкой 9в точках расположения первой и второй катушек зонда, соответственно 30равныМг МгЬ% Ь (2)т 42 эи 4 7гггГде Мг - магнитный момент ВТОРОЙвспомогательной генераторной катушки 9;2 2 гг - расстояния от центра второй вспомогательной гене раторной катушки 9 дО центров соответственно первойи второй измерительных катушек 14 зонда 13.Так как катушки 6 и 9 идентичны 45 и соединены последовательно (т,е. поним протекает один и тот же ток),...

Способ эталонирования дифференциальных абсорбционных анализаторов

Загрузка...

Номер патента: 1550331

Опубликовано: 15.03.1990

Авторы: Ганеев, Туркин

МПК: G01J 3/42

Метки: абсорбционных, анализаторов, дифференциальных, эталонирования

...возрастает относительнаяошибка определения из-за неоднородного напыления слоя на подложку.При использовании для эталонирования набора одинаковых подложек слленкой (с одинаковым атомным погло-.щением) применение образцов с высоким атомным поглощением может привести к тому, что полное ослаблениеИзлучения станет весьма значительным)90, что может исказить результатыградуировки даже дифференциальногоанализатора. В связи с этим на толщину пленки накладываются ограничения;отношение величин атомного и неатомного поглощения должно быть Ьольше 1,Верхняя граница этого отношения определяется наименьшей толщиной слоя,при которой атомное поглощение ещедостаточно велико Кв 0,1. В этихусловиях Кв/К 10, т.е, отношениеКв/1( находится в диапазоне...

Стенд для эталонирования светодальномера

Загрузка...

Номер патента: 1700361

Опубликовано: 23.12.1991

Авторы: Овсюченко, Рубинштейн

МПК: G01C 3/00

Метки: светодальномера, стенд, эталонирования

...отражатель 8, но в крайний противоположный угол по отношению к третьему сферическому отражателю 10. Первый плоский отражатель 12 за счет выбора угла поворота вокруг оси, перпендикулярной линиям столбцов, задает сдвиг строки в столбцах матрицы, а также симметрично отображает матрицы, образованные на отражателях 8,9 и 10,11. После образования первого изображения на отражателе 8 излучение направлено параллельно главной оптической оси системы на отражатель 10, где начинается заполнение второй строки, но теперь уже в крайнем правом ряде. После этого отраженный сигнал снова попадает на первый плоский отражатель 12, а оттуда на первый сферический отражатель 8, где происходит симметричное отображение образующейся матрицы на третьем...

Образец для эталонирования ультразвуковых преобразователей

Загрузка...

Номер патента: 1732262

Опубликовано: 07.05.1992

Авторы: Волков, Гребенник

МПК: G01N 29/22

Метки: образец, преобразователей, ультразвуковых, эталонирования

...схематично изображен образец для эталонирования ультразвуковых преобразователей,Образец выполнен в форме призмы и имеет рабочую грань 1, встречную первую отражающую грань 2 и отражающие грани 3 и 4. Ультразвуковой преобразователь 5 располагается на рабочей грани 1. Распространение луча поперечной волны в металле образца обозначено пунктирной линией 6, Луч направлен на первую грань 2 под углом пе але следовательных замеров на первой и второй призмах,Недостаток такого технического решения заключается в том, что для получения определенной точности измерений требует ся соблюдать ряд весьма жестких условий при изготовлении призм, например одинаковые свойства металла. На точность измерений также влияет и использование в процессе измерений двух...

Способ эталонирования трубопроводов и устройство для его осуществления

Загрузка...

Номер патента: 1756665

Опубликовано: 23.08.1992

Авторы: Кравченко, Одиноков, Петренко

МПК: F15B 19/00, F15B 21/00

Метки: трубопроводов, эталонирования

...узел 58, трубчагый элего болта 15 и поворота внутри вкладышей 12 мент 59, поворотный узел 60, трубчатый эледо их фиксации, 30 мент 61, промежуточный узел-тройник 62,Для проверки зазоров между трубопро- трубчатый элемент 63, поворотный узел 4,водами и с конструкцией иэделия можнотрубчатый элемент 65, поворотный узел о 6,использовать переходный узел 5 с одной трубчатый элемент 67, поворотный узел 68шайбой, перемещая его по трубчатым эле- (узлы иэлементы 64-68 определяют положементам 4. 35 ние плоскости, начало и конец изгиба комУзлы с вешками могут быть установлены пенсэтора), трубчатый элемент 69,в.составе цепи макета-эталона илиотдельно . поворотный узел 70, трубчатый элемент 71,на время замера координат, Свободныйтрубчатый элемент 72,...

Вибрационный стенд для исследования и эталонирования сейсморазведочной аппаратуры

Загрузка...

Номер патента: 1762285

Опубликовано: 15.09.1992

Авторы: Пимштейн, Проскуряков, Скрипаль, Турлов, Усанов

МПК: G01V 1/16

Метки: аппаратуры, вибрационный, исследования, сейсморазведочной, стенд, эталонирования

...краевым буртиком, с внешней стороны поршня 5 расположен контроль-. ный датчик, жестко связанный с основанием 1 и выполненный в виде СВЧ-генератора 11 на диоде Ганна, к выходу которого подклю. чен отрезок разомкнутой коаксиальной линии 12, центральный проводник 13 которой выступает за пределы внешнего проводника и отстоит на расстоянииЛ/10 от поверхности шайбы, где Л - длина волны СВЧ-генератора 11, причем ось отрезка коаксиальной линии 12 совмещена с осью симметрии центрирующего элемента. Устройство работает следующим абра. зом,Пакеты пьезокерамических элементов возбудителя механических колебаний 2, подключенные к генератору синусоидаль. ного напряжения в противофазе, раскачивают центрирующий элемент 6, который смещает внутренние...

Устройство для эталонирования ртутных газоанализаторов

Загрузка...

Номер патента: 1790755

Опубликовано: 23.01.1993

Авторы: Жеребцов, Камберов, Политиков

МПК: G01N 21/61

Метки: газоанализаторов, ртутных, эталонирования

...среды ртутью и позволяет использовать устройство не только в стационарных условиях, но и полевых, например, при проведении ртутометрических съемок.На чертеже приведена схема устройства для эталонирования ртутных газоанализаторов,Устройство для эталонирования ртутных газоанализаторов содержит диффузор 1 и термоизолятор 2, в котором размещена камера 3, вдоль внешней боковой поверхности которой установлен нагревательный элемент 4, а в нижнем торце - термодатчик 5. В камере 3 размещена втулка 6, разделя 5 10 15 20 25 30 35 40 45 50 55 ющая камеру 3 на две секции. В верхней секции установлен прямолинейный капилляр 7 с воэможностью соединения одним концом с диффузором 1 через отверстие, выполненное в верхнем торце камеры 3. Второй конец...

Устройство для эталонирования гиротеодолитов

Номер патента: 1284329

Опубликовано: 15.07.1994

Авторы: Дуб, Янин

МПК: G01C 25/00

Метки: гиротеодолитов, эталонирования

УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЭТАЛОНИРОВАНИЯ ГИРОТЕОДОЛИТОВ, содержащее последовательно расположенные излучатель, сканирующий узел, выполненный с возможностью перемещения луча в горизонтальной плоскости, телескопическую систему и два геодезических знака с расположенным между ними контрольным зеркалом, выполненным с возможностью поворота вокруг вертикальной оси и связанным с сервоприводом, а также узел управления, отличающееся тем, что, с целью повышения точности за счет уменьшения влияния ошибок, обусловленных возмущающими воздействиями воздушной среды, сканирующий узел выполнен в виде последовательно и соосно расположенных электрооптического модулятора, рассеивающего оптического элемента, плоскопараллельной пластины, выполненной из двулучепреломляющего...