Бояндина
Способ электронно-дифракционногоструктурного анализа материалов иустройство для его осуществления
Номер патента: 843024
Опубликовано: 30.06.1981
Авторы: Авилов, Бояндина, Бухардинов, Гусев, Имамов, Кисель, Семилетов, Яременко
МПК: H01J 37/26
Метки: анализа, иустройство, электронно-дифракционногоструктурного
...одном из кронштейнов, установленного напротив второго поворотноговала и взаимодействующего с выступомна конце указанного вала,На фиг, 1 показано устройство держателя образца, позволяющее реализовать предлагаемый способ; на Фиг. 2 схема электроннодифракционной установки,Устройство для реализации способасодержит вакуумную камеру 1, в которой установлен держатель 2 образца,обеспечивающий возможность проведения исследований.Держатель 2 состоит из столика 3,установленного на поворотном валу 4,поворотного кольца 5 с зубьями, приводимого во вращение с помощью червяка ),не показан), связанного с валом б, пропущенным внутри вала 4, установленнык на кольце 5 кронштейнов7, в которых установлен поворотныйвал 8 с рамкой для образца. Вал 8установлен...