Бортников

Страница 7

Способ термической обработки силикатныхизделий

Загрузка...

Номер патента: 185740

Опубликовано: 01.01.1966

Авторы: Бортников, Нехорошее, Соколов

МПК: C04B 40/02

Метки: силикатныхизделий, термической

...периода ускоренного отвердения цементирующего вещества. Однако тепловая обработка требует много времени, что связано с большим расходом тепла и низкой оборачиваемостью металлических форм, и велик расход цементирующих веществ (цемента и извести), на который идут с целью сокращения сроков тепловой обработки и т. д.Известеч также способ термическо" бстки силикатных изделий в автоклавде перегретого пара,Цель изобретения - сокращение сроков термической обработки и улучшение качества изделий, Достигается это тем, что изделия сначала подвергают термообработке в среде на. сыщенного пара, а затем перегретого.Насыщенный пар, конденсируясь на изделиях более холодных, чем паро-воздушная среда, защищает их от влагопотерь, Таким образом создаются...

Способ ускоренной обработки лент самописца

Загрузка...

Номер патента: 142873

Опубликовано: 01.01.1961

Автор: Бортников

МПК: G03D 5/06

Метки: лент, самописца, ускоренной

Устройство для дозирования окрасочных составов

Загрузка...

Номер патента: 139956

Опубликовано: 01.01.1961

Авторы: Бортников, Попов, Трушкин

МПК: B05B 5/00, B05B 7/12

Метки: дозирования, окрасочных, составов

...фиг. 1 изображено предложенное устройство с условно не показанным кожухом, вид сбоку; на рцг. 2 - то жс, вид сверху; на фцг. 3 -разрез по А-А на фиг. 1; на фиг. 4 - разрез по Б-Б на фцг. 3.Устройство состоит из электродвигателя 1, червячного редуктора2, с двумя стальныи фрлкционцыи дисками 8, посан,елными на концы его вала, чегырех шсстеренчатых насосов 4 с посаженными на цхвалы роликами 5.Для плавной регулировки производительности насоса его с по.мощью винта 6 перемешают по направляющим 7, прц этом ролик 5 переместится по диску 8 в радиальном направлении, вследствие чего изменится количество его оборотов в единицу времени и, следовательно,изменится производительность насоса.Необходимая сила трения в месте контакта ведущего...

Способ получения метилакрилата

Загрузка...

Номер патента: 138931

Опубликовано: 01.01.1961

Авторы: Бортников, Зобнин, Мичурин, Попова

МПК: C07C 67/22, C07C 69/54

Метки: метилакрилата

...гидракриловая кислота и ее метиловый эфир.П р и м е р. В первый реактор (эфиризатор), в качестве которого служит круглодонная колба емкостью в 1 л, снабженная мешалкой, прямым и обратным холодильником, сифоном для отвода реакционной массы со дна колбы и дозировочниками, подают 90%-ную серную кислоту со скоростью 260 лл в час и 350 лл заранее приготовленной смеси 1 объема метанола и 1,2 объема этиленциангидрина. Молярное соотношение компонентов реакции на данной стадии: этиленциангидрин - 1,0; Н 2504 - 1,6; Н 20 - 1,0; СНОН - 1,5. Температуру в реакторе поддерживают 120 - 130, Продол;кительпость контакта реагирующих веществ =2 час. Как было указано выше, пары метилакрилата из эфиризатора через холодильник поступают в сборник...

Устройство для ослабления яркости света

Загрузка...

Номер патента: 107411

Опубликовано: 01.01.1957

Автор: Бортников

МПК: G01J 3/02, G02B 19/00

Метки: ослабления, света, яркости

...4, диафрагма - 6 ,римежу точного изображения источника, диафрагма щслп - 6 и щель спектографа - 7.В системс трсхлипзового коиденсоря ряспОлягаотся две системы логарифмической объемной диафрагмы.Первая из них находится между первой и второй линзами конденсора в составе логарифмической объемной диафрпмы Я и вспомогательных диафрагм обычного типа с прямоуголь. ными отверстиями 9 и 6.Вторая система расположена между второй и третьей линзами кондснсоря и составе логарифмической объемной диафрагмы 10 и вспомогательных диафрагм обычного типа с прямоугольными отверстиями 11 и 12.Действие системы трехлинзового КОНДСНСОРЯ СОСТОИТ В ТОМ, ЧТО ЛИНЗЯ 2 проецирует увеличенное изображение источника светя 1 на плоскость линзы 3, а линза 3 проецирует...

Диск к спектрографу

Загрузка...

Номер патента: 84104

Опубликовано: 01.01.1950

Автор: Бортников

МПК: G01J 3/08

Метки: диск, спектрографу

...что логарифми Ч Е С Е 0 у С Е К Т 0 р у И р И д а 10 Т Б ) 1 и С ИС. Г); Н с 1 1(0 1 ОТ ) С О 1 1 ,31 С, с 1О, ) 31( 1 О 3 )рн ЭТО)3 ИЯСТОЛЬЕО ЗНЯЧИТЕГИ)ИЬ 1, )Т(1 ИСКЛОЧс)СТС 51 БС 5 К 15( Б 03:О)ЕИОСТЬ Ирс 1 КТИЕСЕОГО ИСПОЛЬБОВс 1 ИИ 51 с)( 3СЕТЯ Б ИРОИ 313ЛСТБИИ)13 ) С,- В И 51 ):Н и)ел,Ягаемо) )строист с, ,мс ошем форм Лиска, мвсли)Си 3. числа ч)ганий света ло Величины, обесис)НБюие Биолисии( Закона.1) Р) КОТОВО И 3 У ЭсЧБИЕИ 3151. С 351 1 Ы БЯ К) Иего ОТИ ОБСИ И 51 И 1 1 ЕИСИ Б) ОСТС.; С И Е К:Т Р с) Л Ь И Ь Х Л 3 И И 3 С Р с):1 И О С Т Ь С) 3 3 Е 51 И И, И С К Л 10С ТС 51, КИ С Т с И Т;) ШВс 1 рцпп 11 )а, достпБЕТС 51 М(СЛИЧСИСМ )И 1 СГ 1 с 1 3 мбцов, Ес 1 Ж,ЧЬ:1) И 3 1,(1. торЬК Б) И 10 ЛИ 51 ЕТ ф 3 КЦ 1 с) ЛОГс 1 р)1(ИЧССЕО 0...

Источник света для спектрального анализа

Загрузка...

Номер патента: 80740

Опубликовано: 01.01.1949

Автор: Бортников

МПК: G01J 3/10, H01J 61/80, H01J 61/95 ...

Метки: анализа, источник, света, спектрального

...0 Вторпгнои Об.;от, трдцсформ 1 тс)р 1 ( Вил,) си ИЕРЕМЕИЦЭ 51 (СЕКЦИОИРОВЯЦЯЯ) Е 51 ОСТ г), 5(В 51101 ЦД 5 С 5 ДСТ: РД в Р 5 ДНОГО 1(ОЛЕбатЕЛЦОГО КОЦТУРЯ. ЦЕПЬ (0;ЕО(1 ТСГ 1;ОО 1:,СЦТУР 1, ИМС.О;1 ЕГО ПЕрЕМЕИНую 1 ИдуКТИВНОСтЬ 4 И рЕГулр,ЕМЫИ ВСИОМОГдт(ЛИЬ 1 промежуток д, замы(ается через искрОВОЙ рабоП 1 Й ирО)Сж,ток Г) мея(5) ЯИЭЛИЗяциОИНЫМИ ЭЛЕКТрОдя)И. Пяр 2;.ЕЛ,ИО ИрОМЕ)у) у 6 1.,"Ю:1 ЕПО и цдуктивц(з-Омигесссе сопротивление г, с Вобо 3 ио и роит с(д 0,1 ее тс) к гсоОГО ц 1 ПРЯжсии ПИЗОЙ гастоты, ПО 32:еРживдСиее ток Высо(и ЭС,ОТЯ И;П ТОК ИИЗС 0 ИдцрЯЖСПИЯ. )г, рбОС);рМЕж Тм 6 .С)Сг80741 лах, рсгу,чировс 1 ть работ Выхода электронов с поверхности сетки или си 10 Да 1 С б ИЖ 111 Ш ОГО ( КВТ 011 ВЛСКТРОДс В Л с 1 М 1 Е), Тс...

Способ измерения разности длин спектральных линий по спектрофотограмме

Загрузка...

Номер патента: 73188

Опубликовано: 01.01.1948

Автор: Бортников

МПК: G01J 3/28

Метки: длин, линий, разности, спектральных, спектрофотограмме

...огрйпчс и диафрагмоййк, чтоггь 1 ц)отОмет)рова гс 5 иеоольпОп учйстОк ддппьГ спскт)йльпггг; ;пипи. Тогда разности длин линий г)у;гт определяться путем и):1).11- дсчги участков линий с одинаковым дточердгписм. 3;ссь пдо отмст ть, что;ля слектралгигого анализа. в коне гном счете, пужпь пс лгипг,) линий, й и); разности. Поэтому нет дгеос;0;мост ис);дить гм)ае коп:ы линий, и точнее оудст кодТь раз)гость;лиг лпипй с почгрпепиями соответствуоцдимгд 01)лй тп нормаль;ьггс экгпг):иггй. др: Оппсйппом мето;е сочетйипя лога)1 г)мРГесдОГО сектО)й г агик)ос)ото)от)й устг)в ияетс 51 Осгоп 0 г )ге;остаток, прдгводггциг к. 110 д)сииост 1 г )ц)п 001,1 Г 10 м ив Ггг)0 ггот 01 ет)1 Г)0)йдгиг, ГтОЯ и;151 ОГип вся вслс, стипе гю:л 11 ч 1 0 Ги пг)0- 4 и...

Способ измерения разности длин спектральных линий по спектро-фотограмме тваймана

Загрузка...

Номер патента: 59683

Опубликовано: 01.01.1941

Автор: Бортников

МПК: G01B 3/18, G01J 3/40

Метки: длин, линий, разности, спектральных, спектро-фотограмме, тваймана

...линий,С другой стороны здесь используются хорошие качества логарифмического сектора, по сравнению с клиновым о слаб ителем, позволяющие, в отличие от последнего, изготовить логарифмический сектор точно по расчету для получения определенной зависимости разности длин линий от концентрации определяемого элемента, и не имею. щие вредной селективности в поглощении лучей. Эти преимущества логарифмического сектора ранее не могли быть использованы в полной мере, так как распространению метода логарифмического сектора препятствовали погрешности измерений разностей длины спектральных линий. Предмет изобретения.Способ измерения разности длин спектральных линий по спектрофотограмме Тваймана, о тли чаю щийс я тем, что указанную разность измеряют...