Патенты с меткой «спектро-фотограмме»
Способ измерения разности длин спектральных линий по спектро-фотограмме тваймана
Номер патента: 59683
Опубликовано: 01.01.1941
Автор: Бортников
Метки: длин, линий, разности, спектральных, спектро-фотограмме, тваймана
...линий,С другой стороны здесь используются хорошие качества логарифмического сектора, по сравнению с клиновым о слаб ителем, позволяющие, в отличие от последнего, изготовить логарифмический сектор точно по расчету для получения определенной зависимости разности длин линий от концентрации определяемого элемента, и не имею. щие вредной селективности в поглощении лучей. Эти преимущества логарифмического сектора ранее не могли быть использованы в полной мере, так как распространению метода логарифмического сектора препятствовали погрешности измерений разностей длины спектральных линий. Предмет изобретения.Способ измерения разности длин спектральных линий по спектрофотограмме Тваймана, о тли чаю щийс я тем, что указанную разность измеряют...