Способ измерения разности длин спектральных линий по спектрофотограмме
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 73188
Автор: Бортников
Текст
., -."е г.Н, И. Бортников СПОСОБ ИЗМЕ 1 ЕНИЯ РАЗИОСП 1 Д.Н 1 Н СНЕЬ 4 1)А, АЛЬНЫХ ЛННН 11 ПО СПЕКТРОФОТОГ 1).ддЛБЕЕ ТЦЛ 1 ЪАНАЗаяваено 27 декабря 1939 г. ва .м 33165Известный метод логарифмического сектора и таком ви;е, какой бьгл дан ему Тваздмаддом, обладает недостатком. Сддджадопцвд точность этого метода. 11 ри измерении длины линпй па с)ге)гт)Огрймме определеипе концов линий представляет затрудпеиия. Обычпо пользуются растромИ СИОСООУ МЕРтОНа. НО ЭтО ЗиаЧПтЕЛЬПО УС 5 ож 15 ЕТ аиаЛИЗ и и 1 РГ)ГЫГ;Г- ледности сиосоо Мертона расирострйпегидя пе получил.Предлйгсгетсгд спосоо ддздереддддя рй;иест длд 1 д спектр;Гг,пы): лггипй цО сиектр 011)отОГ)йыме 1 ьйймаиа, дго ко 0)Оыу укйзйииук) )йзиост 01 рвдЕС 51 К)т ИутЕМ ПЗМЕрЕНПя раЗНОСтЕй Ор;Пиат уЧгтгсс)Г Лггиий, 01)Л дй 011 и рйвиым иочерддепцем.,)55 осуществления предлагаемого с посоой используют голуятом- ТГДЧЕСКД 11 МИКРОфОтОМЕТР, ДОПОЛЦЕНДДЫй .ГС.;.ииг)МОМ аКРОМ Т)Н ППОП) и- ремеценив рамки со снектрофотограммой с тс.м,:тооы мо)кпг) си,)ло бы, перемещая рамку со сиектрофотогрйммой, эймсрить иоложс пня учи - ьов линий, обай;йющп одппаковым почсисиГлг,Шель фотоэлемента должна быть 10 высоте огрйпчс и диафрагмоййк, чтоггь 1 ц)отОмет)рова гс 5 иеоольпОп учйстОк ддппьГ спскт)йльпггг; ;пипи. Тогда разности длин линий г)у;гт определяться путем и):1).11- дсчги участков линий с одинаковым дточердгписм. 3;ссь пдо отмст ть, что;ля слектралгигого анализа. в коне гном счете, пужпь пс лгипг,) линий, й и); разности. Поэтому нет дгеос;0;мост ис);дить гм)ае коп:ы линий, и точнее оудст кодТь раз)гость;лиг лпипй с почгрпепиями соответствуоцдимгд 01)лй тп нормаль;ьггс экгпг):иггй. др: Оппсйппом мето;е сочетйипя лога)1 г)мРГесдОГО сектО)й г агик)ос)ото)от)й устг)в ияетс 51 Осгоп 0 г )ге;остаток, прдгводггциг к. 110 д)сииост 1 г )ц)п 001,1 Г 10 м ив Ггг)0 ггот 01 ет)1 Г)0)йдгиг, ГтОЯ и;151 ОГип вся вслс, стипе гю:л 11 ч 1 0 Ги пг)0- 4 и 151 сгтектрйльпгг)с линий, /С;гдгг)й стоРопггк зДссь испо;гьз )тсгг .сгкпге кйчсствй лг)гг)Риф. мпческого сектора, но срйвпсггпю с клпповы) 0.ГГГ)бгтелом. позьч)лвЖ. 3188 щце, в отличие от последнего, изготовить логарифмпческпц сектор точно по расчету для получения определенной зависимости разности длпп линий от концентрации определяемого элемента и не имеющим вредной селективпости в поглощении лучец, Эти преимущества логарифмического сектора раисе пе могли быть использованы в полной мере, так как распрострапепшо метода логарифмического ссктора препятствовали иогрегипости измерений разностей длины спектральных линий,П р сдм от изобретен ия Комитет по делам изобретений и открьппй при Совете Министров СССР 1 едактор А, И, Дышсльмап Гр. 167 Информациоипо-издателг ский отдел,Объем 0,17 п, л, Заказ 4776,По н. к неч. 2/У 111.1960 г,Тираж 250. Цена 25 кои,Гор. Алатырь, типо; р;ии:н Л. 2 Мниистсрства ку:и;туры Чувашской АССР. Способ измерения разности длин спектральных линий по сиектро. фотограмме Тваймана, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что указанную разность измеряют путем измерения разностей ординат участков линий,обладающих равным почсрпснпсм.
СмотретьЗаявка
766, 27.12.1939
Бортников Н. И
МПК / Метки
МПК: G01J 3/28
Метки: длин, линий, разности, спектральных, спектрофотограмме
Опубликовано: 01.01.1948
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-73188-sposob-izmereniya-raznosti-dlin-spektralnykh-linijj-po-spektrofotogramme.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения разности длин спектральных линий по спектрофотограмме</a>
Способ и устройство для измерения длин интерференционным методом
Номер патента: 49371
Опубликовано: 31.08.1936
Автор: Шварц
МПК: G01B 11/02
Метки: длин, интерференционным, методом
...Е,. Величины поправокЬ, и Ь,. будут равны нулю при условиях:У,= -- г 2 ---- (б)ЕЕп - 1 пэ - 2В этом случае длина основного эта.лона равна:Е - г, (7)Хп (п 2 - ЦКратность увеличения исходного расстояния равнас.,э = - - = гг, (гг, - 1) (8)ЕТак, например, для измерения 3-метрового расстояния при гг, = б, и, = 5 требуется эталон длиной всего в 150 ммпо формуле (7); кратность увеличенияисходного расстояния равна 20 по формуле (8), Это дает возможность непосредственного измерения исходного эталона в длинах волн и перехода в одинприем к 3-метровому расстоянию никакими применявшимися до сего времени способамы этого нельзя было достичь. От расстояния Е, между отражающими поверхностями зеркал необходимо перейти к расстоянию Е 2 междуштрихами,...
Устройство для измерения длин материалов методом обкатывания
Номер патента: 1805280
Опубликовано: 30.03.1993
МПК: G01B 7/04
Метки: длин, методом, обкатывания
...корпусе 3 промерачнаго стола, накотором перемещается измеряемый материал, устанавливается измерительный ролик 1. При вращении ролика магнитное полерассеяния постоянных магнитов 4 замыкается контактами магнитоуправляемых элементов - герконов 5, которые, срабатывая,подают на вход формирователя 6 сигналы.Формирователь 6 формирует импульсы прямоугольной формы с крутым фронтом (диаграммы "а", "б").Далее импульсы поступают на блок 7различения направлений, где прямоугольные импульсы дифференцируются цепямиСВВ 2 и С 2 ВзВ 4(фиг,2), отрицательные дифференцированные импульсы (диаграммы "в", "г") выделяются цепями смещения В 1 В 2 и ВЗВ 4, инвертируются элементами 001, 002 и поступают на входы логических элементов ООз, РО 4)диаграммы "д",...
Устройство для измерений длин методом обкатывания
Номер патента: 1456749
Опубликовано: 07.02.1989
Авторы: Ионак, Колчков, Ляднов, Новицкая, Новицкий
МПК: G01B 5/04
Метки: длин, измерений, методом, обкатывания
...10 сигналов, счетчик 13импульсов и индикатор 14 длины соединены последовательно.Устройство работает следующим образом.Устройство устанавливают на измеряемый объект,и перемещают в требуемом направлении. При этом измерительные ролики 4 и 5 вращаются на неподвижной оси 3. Ось 3 вращения роликов перпендикулярна линии перемещения устройства и плоскости вращения роликов. Входные сигналы преобразователя 9,. преобразующие сигналс генератора 8 в широтно-импульсноемодулированное трехфазное напряжениетреугольной формы, поступают на вхо 50ды датчиков 6 и 7 угла поворота,Фазы выходных напряжений датчиков6 и 7 зайисят от угла поворота роликов 4 и 5. Сигналы с обоих датчиков6 и 7 угла поворота поступают на55фаэометр 11. При первоначальной...
Йодид 2 (9-3-(3-этил-2-(3н)-бензотиазолиниден)пропенил бицикло(4, 4, 0) декадиен-1, 9-илиден-3)метил -3 этилбензотиазолия в качестве спектрального сенсибилизатора бромйодсеребряных фотографических эмульсий со с
Номер патента: 1549027
Опубликовано: 30.09.1994
Авторы: Вакар, Михеева, Сломинский, Смирнова, Толмачев, Шапиро
МПК: C07D 277/64, G03C 1/08
Метки: 9-3-(3-этил-2-(3н)-бензотиазолиниден)пропенил, 9-илиден-3)метил, бицикло(4, бромйодсеребряных, декадиен-1, йодид, качестве, сенсибилизатора, спектрального, фотографических, эмульсий, этилбензотиазолия
Йодид 2-{ (9-[3-(3-этил-2(3Н)-бензотиазолиниден)пропенил] бицикло (4,4,0)декадиен-1,9-илиден-3)метил}-3-этилбензотиазолия формулыCH CH CH CH в качестве спектрального сенсибилизатора бромйодсеребряных...
Устройство для определения термического коэффициента линейного расширения твердых веществ
Номер патента: 575552
Опубликовано: 05.10.1977
МПК: G01N 25/16
Метки: веществ, коэффициента, линейного, расширения, твердых, термического
...веществ (смол, п ии со штоком; оперении ТКЛР погрешность при из с низкими прочност пастмасс, парафино ыми свойствами металловия) или образ э мая гори вбпи емпературы плавлен тпичается Для та лине веществ йств -Изве ЛР вешесттвами ипкую формуправки нпрогибе,57 5552 фипнап ППП Патент", г. Ужгород, уп. Проек я, 4 на 77 о его длины) становятся неконтропируе мыми.Белью изобретения явпяется повышениеточности измерения ТКЛР твердых веществ.Поставпенная цепь достигается тем, что вкорпусе устройства расположена ванна сжидкостью, ппотность которой выше ппотности исследуемого вещества,Устройство изображено на фиг. 1; нафиг, 2 - уэеп 1 фиг. 1, 1 ОВ теппоизопирующем корпусе 1 помещены ванна 2 с фиксатором положения 3,нагреват пь 4 и датчик...
Предыдущий патент: Ионный преобразователь частоты
Следующий патент: Стерилизационная коробка
Случайный патент: Листоштамповочный пресс