Аруев
Источник ионов
Номер патента: 1396854
Опубликовано: 30.04.1994
Авторы: Аруев, Байдаков, Мамырин, Яколев
МПК: H01J 49/10
ИСТОЧНИК ИОНОВ, содержащий узел ионизации и горизонтально фокусирующую систему, включающую последовательно установленные вдоль оптической оси вытягивающий, разрезной отклоняющий и выходной электроды, причем все указанные элементы установлены в межполюсном зазоре магнита, отличающийся тем, что, с целью повышения величины тока за счет фокусировки ионного пучка также и в вертикальной плоскости, вытягивающий электрод выполнен в виде составленного из двух гальванически изолированных частей клина, образующие поверхности которого параллельны противолежащим поверхностям соответственно узла ионизации и последующих электродов, угол между образующими поверхностями клина лежит в интервале 4o
Модулятор
Номер патента: 814263
Опубликовано: 15.01.1994
Авторы: Алексеенко, Аруев, Мамырин
МПК: H05H 7/12
Метки: модулятор
МОДУЛЯТОР, состоящий из центрального электрода, изолированного от двух боковых электродов и установленного параллельно им, и основания, отличающийся тем, что, с целью увеличения глубины модуляции энергии заряженных частиц, центральный электрод имеет Т-образную форму и прижат к основанию с помощью прижимного устройства через сплошные изоляторы, а боковые электроды имеют форму уголков и установлены непосредственно на основании.
Диффузионная ячейка
Номер патента: 2003198
Опубликовано: 15.11.1993
Авторы: Акулов, Аруев
МПК: G01T 7/10, H01J 47/06
Метки: диффузионная, ячейка
...при комнатной температуре она может быть помещена в светонепроницаемый кожух и для повышения чувствительности используется активная защита - сцинтиллятор, окружающий второй счетчик, включенный в схему анти- совпадений, Это позволяет уменьшить фон, а эначит увеличить чувствительность еще в 3 - 5 раз, и довести ее до -10 о монослоя,Второй счетчик является частью замкнутого обьема, в котором расположен первый счетчик, Известное соотношение объемов второго счетчика и всего замкнутого объема позволяет при измеренной эффективности регистрации определить полное количество трития, прошедшего через мембрану из первого счетчика.Боковой вакуумно-плотной поверхностью второго счетчика является стеклянная 20 25 30 35 40 45 цилиндрическая поверхность,...
Способ определения периода полураспада трития
Номер патента: 1295918
Опубликовано: 30.01.1988
Авторы: Акулов, Аруев, Мамырин, Хабарин, Юденич
МПК: G01T 1/30
Метки: периода, полураспада, трития
...газом, которого в пробе намного больше, чем Не, несмотря на то, что в пробе при первом и втором измерениях количество Не может меняться в несколько раз, Дублет ТНе не разделяется при стандартных масс-спектрометрических измерениях, поэтому перед напуском пробы в камеру анализатора тритий отделяют с помощью палладиевой мембраны.Иэ сказанного следует, что для получения величины Т трития нет не 12обходимости в измерениях абсолютных количеств газов и сопутствующих таким измерениям величин; нужно лишь при масс-спектрометрическом анализе измерить четыре отношения ионных токов. При измерении отношений токов лизатора, и измеряют ионные токи 3 +Не и Не, 11 о прошествии еще шести месяцев проводят те же самые операции с второй ампулой,Измерения...
Детектор ионных пучков
Номер патента: 1123392
Опубликовано: 23.03.1986
Авторы: Аруев, Байдаков, Мамырин
МПК: G01T 1/29
Метки: детектор, ионных, пучков
...тритий способны накапливаться на поверхностях по мере работы с ними, причем их удаление связано с большими трудностями. Таким образом, при работе прибора даже с минимальными количествами трития со временем происходит увеличение фона,Цель изобретения - обеспечение возможности измерений ионных токов при наличии в приборе-активной газовой компоненты.Цель достигается тем, что в детекторе ионных пучков для масс-спектрометра, включающем размещенные в вакуумной камере ионно-электронный преобразователь, анализатор энергий электронов, сцинтиллятор и регистрирующее устройство, сцинтиллятор выполнен в вице монолитного экрана из СаГ (Еи) с вакуумно-плотным защитным2слоем фоторезиста, а в качестве защитнбго слоя сцинтиллятора использован фоторезист...
Пустотообразователь для образования монтажных отверстий в железобетонных шпалах
Номер патента: 1162596
Опубликовано: 23.06.1985
Авторы: Аруев, Фазлуллин, Шубин
МПК: B28B 7/30
Метки: железобетонных, монтажных, образования, отверстий, пустотообразователь, шпалах
...5 и 6. Внутри эластичного чехла размещен фасонный клин 16 с хвостовиками 17. Клин 16 посред ством оседержателей 18 закреплен на стяжном болте 19, смонтированном внутри корпуса 1 с возможностью вертикального перемещения, Для свободного перемещения стяжного болта 19 в стенках 3 и 4, а также на вертикальных пластинах 13 выполнены пазы, образующие в собранном состоянии круглое отверстие. Внешняя поверхность стенок 3 и 4 выполнена с уклоном.Пустотообразователь работает следующим образом.35Пустотообразователь в собранном виде подают на пост формования. Перед установкой на форме 20 на пустотообразователь насаживают закладную шайбу 21, для фиксации которой стяжной болт 19 перемещают вниз по стрелке Г. В результате этого движения закрепленный на...
Способ измерения циклотронной частоты
Номер патента: 445901
Опубликовано: 25.12.1975
Авторы: Алексеенко, Аруев, Мамырин
МПК: G01N 27/78
Метки: циклотронной, частоты
...потенциалов.Для устранения сдвигов измеряемоготения циклотронной частоты, вызываепаразитными электрическими полями,экстраполяционная методика вающая измерение циклотрон ов с различными М/ при и паразитных электрическЗаказ 2599 Тираж 90,Р Подписное ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий Москва, 113 О 35, Раушскаи наб., 4 Филиал ППП Патент", г, Ужгород, ул. Проектная, 4 где 1, - расстояние между выходнойщелью источника и входнойщелью модулятора.ИДля перестройки,твриборов с ионов, име- юших отношение массы к заряду М 1 / ч на ионы с отношением М /М/О, достаточно изменить напряжениеб адмодулятЬра У (частоту и амплитуду). При этом все потенциалы источника остаются неизменными, а...