Патенты с меткой «знака»

Номер патента: 1803765

Опубликовано: 23.03.1993

Авторы: Галусташвили, Дрияев, Политов, Саралидзе

МПК: G01N 1/00

Метки: дислокации, знака, монокристаллов, одного, содержащих

...кристалла ипластинки-держателя и используя для последней материалы различной жесткости,можно менять положение плоскости нулевых напряжений вплоть до ее смещения запределы кристалла, Фотография на фиг.З,полученная в поляризационном микроскопе, иллюстрирует смещение плоскости нулевых напряжений к границе образца всторону стальной пластинки-держателя,Ниже приведен конкретный примеросуществления предлагаемого способа деформирования монокристалла ЦЕ, позволившего сместить плоскость нулевыхнапряжений точно на границу образца спластиной-держателем,Пластинку из монокристалла фтористого лития длиной И = 25 мм, шириной Сг=4мм и толщиной аг = 1,5 мм концами жесткоскрепляют с пластинкой из инструментальной стали удлиной Ь = 50 мм, ширинойС 1 = 25...

Номер патента: 2000579

Опубликовано: 07.09.1993

Автор: Келехсаев

МПК: G01R 25/00

Метки: знака, разности, фаз

...функцию, изменяющуюся по закону, близкому к "тангенсу" или "котангенсу" и в зависимости от знака разности фаэ исходных будет представлять собой либо убывающую функцию на каждом полупериоде То сигнала делителя Оу(т), как на фиг, 3.1 для положительной разности фаз, либо возрастающую функцию для отрицательной разности фаз, Приближенность зависимостей обусловлена тем, что в начале и конце каждого полупериода функции будут иметь не бесконечные, а некоторое конечное значение А,Сигнал 01 поступает на амплитудный детектор 3 и на устройство 4 выборки и хранения, которые управляются сигналами с формирователя 2, поступающими в определенной временной последовательности, Третий сигнал с формирователя 2 падает на управляющий вход блока 5...

Номер патента: 1355080

Опубликовано: 27.09.1996

Авторы: Абрамзон, Дикиджи

МПК: H03H 3/02

Метки: y-среза, двухповоротного, знака, кварцевых, кристаллографических, направления, осей, пьезоэлементах

Способ определения знака направления кристаллографических осей в кварцевых пьезоэлементах двухповоротного Y-среза, включающий приложение сжимающих усилий к кварцевому пьезоэлементу в точках, находящихся на кристаллографических осях X' и Z', определение знака информационного параметра и определение по нему знака направления кристаллографических осей, отличающийся тем, что, с целью уменьшения брака по нарушению целостности кварцевых пьезоэлементов, возбуждают в кварцевом пьезоэлементе колебания толщинно-сдвиговой моды С путем воздействия на него переменным электрическим напряжением соответствующей частоты, в качестве точек кварцевого пьезоэлемента для приложения сжимающих усилий выбирают точки, расположенные на краях его главных граней,...