Патенты с меткой «статистических»

Страница 5

Устройство для сбора статистических данных о работе программ эвм

Загрузка...

Номер патента: 1471202

Опубликовано: 07.04.1989

Авторы: Ляхов, Улыбин

МПК: G06F 11/34

Метки: данных, программ, работе, сбора, статистических, эвм

...частоты событий вычислительного процесса второй половины блока 1 памяти. Кроме того, сигнал с выхода формирователя 18 поступает на выход 24 устройства. Сигнал с выхода 24 устройства может быть заведен на вход прерывания технологической ЭВМ, которая организует,. считывание из блока 1 памяти проме-; жуточных результатов счета частоты или длительности событий вычислительного процесса.В режиме "Измерение времени" устройство работает следующим образом.На вход 20 устройства подается единичный потенциал, на вход 19 устройства подается нулевой потенциал. На информационный вход регист" ра 4 подается метка события вычислительного процесса (например, имя программы), длительность которого надо измерять. На первый вход блока 6 анализа приоритета...

Способ демонстрации статистических закономерностей в физике

Загрузка...

Номер патента: 1508267

Опубликовано: 15.09.1989

Авторы: Вабищевич, Корчажкин, Куницын, Матвеев

МПК: G09B 23/06

Метки: демонстрации, закономерностей, статистических, физике

...с помощью генератора 4 случайных чисел в область 15 вводят час тицы-точки, цвет которых отличается от приведенных, где каждой точкесопоставляется определенное числогенератором случайных чисел, Когдагенератор случайных чисел включен.то точки меняют свое местоположениев выделенной области.Если, например взять М условныхчастиц-точек например, равным 40,т,е, М=40, то движение этих точек ввыделенной области можно рассматривать, например, как броунское движение 40 частиц (примеси) в однородном газе, и уже при таком количестветочек возможно продемонстировать эргодическую гипотезу в физике и создать таким образом, реальный физический образ,Затем производят И подсчетов чис"ла точек-частиц в выделенной 1/4части области через равные промежутки...

Устройство для оценки статистических характеристик случайного процесса

Загрузка...

Номер патента: 1520544

Опубликовано: 07.11.1989

Авторы: Арсеньев, Миронов

МПК: G06F 17/18

Метки: оценки, процесса, случайного, статистических, характеристик

...Мс и используя байесовскийподход к оцениванию неизвестных характеристик, получим апостериорныйзакон распределения оценки математического ожидания выходного сигналасистемы и соответствующую апостериорную оценку этой характеристики,В соответствии с формулами Байесаполучим плотность распределения оцен ки математического ожидания в виде1 териорную плотность распределенияоценки математического ожидания ч(м) - ехр 1-(М - М ) /(2 ПГМ 3)3 ехр 1-(М - М ) /(2 П 1 М 3) йМ Отсюда видно, что апостериорная плотность распределения сонпадает с плотностью нормального закона распределения М(мф, П 1 М 1), Таким образом, апостериорная оценка математического ожидания выходного сигнала системы определяется по Формуле.". 20544 выхода блока 6 деления, сигнэл...

Устройство для определения статистических характеристик нейронной активности

Загрузка...

Номер патента: 1554893

Опубликовано: 07.04.1990

Авторы: Бакалов, Пироцкий

МПК: A61B 5/05, A61B 5/16

Метки: активности, нейронной, статистических, характеристик

...этого периода производит отсчет величины выходного напряжения вычислителя 6 и ее запоминание в компараторе 7, а также осуществляет сброс в нуль интеграторов, входящих в состав вычислителя 6. Затем, с помощью компаратора производится сравнение величины В с пороговымзначением, установленным с учетом зонысравнения, и по результатам сравнения нарегистраторе 4 появляется сигнал о характере кумулятивного эффекта, имеющего место в исследуемой нейронной структуре.При этом, если величина В удовлетворяетусловию/В - 1/ Ь, (4)где Й - половина ширины зоны сравнения,т. е. В находится внутри зоны сравнения,то регистратор 4 регистрирует эффект отсутствия последействия.ЕслиВ( - й,то регистрируется эффект облегчения.ЕслиВ) 1+6, (6) то регистрируется...

Способ измерения статистических характеристик флуктуаций фазы сигнала

Загрузка...

Номер патента: 1569740

Опубликовано: 07.06.1990

Авторы: Вережников, Вешкурцев, Пляскин

МПК: G01R 25/00

Метки: сигнала, статистических, фазы, флуктуаций, характеристик

...преобразователь напряжение - частота.Анализатор работает следующим образом, 1569740Опорное колебание после поворота Фазы на 90 в фазовращателе 9 перемножается с исследуемым колебанием в перемножителе 10, результат перемножения интегрируется интеграто 55 Измерение оценок характеристической Функции производится последовательно при выбранном значении параметра Ч. Значения параметра Ч выбирают целочисленными, При этом по входу управ- .пения скорость изменения линейно изменяющегося напряжения выбирается так, чтобы максимальная девиация частоты частотно-модулированного сигнала с выходов ГЛЧМ составляла величину; определяемую выражением (5),В этом случае коэффициент сжатия сигналов принимает целочисленные значения,.пропорциональные Ч , Напря...

Устройство для анализа статистических данных

Загрузка...

Номер патента: 1619306

Опубликовано: 07.01.1991

Авторы: Ганушкин, Кучеренко, Никитин

МПК: G06F 15/36

Метки: анализа, данных, статистических

...(О; 0). После снятия уровня логической "1" на входе 19 запуска подготовительный этап закончен и устройство готово к работе, прн этом в выходной регистр 12 загружена либо информация о яркости элемента изображения М , либо нулевой код.Далее устройство может работать в одном из двух режимов.При работе в режиме порогового обнаружения объекта с сокращением объема выходной информации значения яркостей элементовизображения О(, О = = 0,1-1, 1=0, Л), представленного в виде матрицы размером 1 к Л элементов, последовательно один за другим подаются на вход 14 загрузки элементов изображения устройства. По положительному перепаду сигнала на входе 17 синхронизации значение яркости элемента изображения р(, записывается 19306во входной регистр 1...

Устройство для определения статистических характеристик

Загрузка...

Номер патента: 1644163

Опубликовано: 23.04.1991

Авторы: Байков, Булгакова

МПК: G06F 15/36

Метки: статистических, характеристик

...иэ регистра 8 на управляющий вход блока 4, производится сдвиг содержимого блошка 4 вправо на разрядов и результат 2 п 1 поступает на разрядные входы вычитаемого вычитателя 2, на разрядные входы уменьшаемого которого поступает содержимое регистра 7 о В вычитателе 2 вычисляется разность-о, -2 0 ч 1 (всегда положительная), и результат поступает на разрядные входы 40 второй группы сумматора 6, на разрядныевходы первой группы которого поступает содержимое блока 3 2 (хи - щи) . На сумматоре 6 формируется результаг вычисления СКО в виде (4), которое подается на 45 соответствующие разрядные входы регистра 7.Сигнал с прямого выхода триггера 15разрешает прохождение тактового сигнала т через элемент И 16. Сигнал с выхода эле мента И 16...

Устройство для определения статистических характеристик

Загрузка...

Номер патента: 1661802

Опубликовано: 07.07.1991

Автор: Блинов

МПК: G06G 7/52

Метки: статистических, характеристик

...устройства, который в начальный момент времени равен нулю. После прохождения этого сигнала через квадратор 2, блок 5 деления, блок 14 экспоненциального преобразования, блок 9 умножения, на выходе блока 3 усреднения формируется выборочная оценка величины П 1 = М Оехрго где М - символ математического ожидания,О - оценка М О(т) 3;о 4 - оценка среднеквадратического отклонения О(т),а на выходе блока 13 - выборочная оценка величины По этим оценкам на выходе блока 6 деления вырабатывается итоговая оценка О математического ожидания сигнала О которая удовлетворяет уравнению0=П 1/ПВыходной сигнал блока 4 усреднения, представляющий собой выборочную оценку величины П 2 =М (О - О)ехрго пройдя чере сумматор 12 и блок 7 делен я, превращается в...

Устройство для статистических испытаний функциональных элементов автоматических систем

Загрузка...

Номер патента: 1807455

Опубликовано: 07.04.1993

Авторы: Алексеев, Гельман

МПК: G05B 23/02

Метки: автоматических, испытаний, систем, статистических, функциональных, элементов

...состояния, компара 40 тора в элементах 12 или 13 формируютсякороткие импульсы, которыми запускаетсяАЦП (объект 2) и производятся дискретныеотсчеты испытательного сигнала, Так как направление последнего изменяется, то на45 входе одного из формирователей (13) включен элемент НЕ.Передача испытательного сигнала навход испытуемого объекта задерживаетсяширокополосной линией 3 на время задер 50 жки формирования и передачи импульса вцепь запуска АЦП. Одновременно с запуском последнего импульс запуска проходитчерез элемент ИЛИ 6 и переключает триггер8 в исходное состояние, чем вновь блокиру 55 ются элементы.И 7 и 25. Благодаря описанной блокировке элемента И 7, несмотря напоследовательно формируемые компаратором импульсные сигналы сравнения, в...

Способ определения статистических характеристик случайного напряжения

Загрузка...

Номер патента: 1820339

Опубликовано: 07.06.1993

Автор: Лукиных

МПК: G01R 19/00

Метки: случайного, статистических, характеристик

...до момента достижения заданного объема выборки М, в результате чего в накапливающих сумматорах, 5 и б накапливаются суммы 311 Ч) - 2,сову 1 ц) и Вг 1 Ч) = 2, в 1 пу 1 ц), По достижении обьема)=1выборки )ч блок 10 управления формирует команду записи (нЗапись 1 н накопленных сумм 31(Ч) и 32(Ч) в оперативные запоминающие устройства (ОЗУ) 7 и 9 соответственно, а накапливающие сумматоры обнуляются. На этом первый этап измере.- ния заканчивается. Учитывая определение характеристической функции (Жх (Ч) = =М(ехр( Чх(т = М(созЧх(т+ +1 М(в 1 пЧх 1 т = совух 1 Ю)мв 1 пухЩ)тЙ=Ах(Ч)+ Вх(Ч), где М 1,) - математическое ожидание; А)1(Ч) и В)(Ч) - соответственно действительная и мнимая части характеристической функции, можно записать, чтоВ 11 Ч)...

Способ измерения статистических характеристик поля флуктуации плотности и устройство для его реализации

Загрузка...

Номер патента: 1831710

Опубликовано: 30.07.1993

Авторы: Зубарев, Игнатенко

МПК: G02F 1/35

Метки: плотности, поля, реализации, статистических, флуктуации, характеристик

...электромагнитной волны со средой, зкспоненциальный множитель в (3) остается неизменным. Поэтому принято обозначение комплексной амплитудыаоехр(а 1+ дЪ)=но.После двойного пропускания зондирующей волны через среду 4 и, с учетом того, что, во-первых, на ветви оптической. схемы АВС происходит переворот изображения вокруг оси Е на 180 о, во-вторых, на отражателе 14 происходит отражение с обращением волнового фронта, комплексная амплитуда волны будет иметь вид 1ц=С 1+Сгехр( ф(х,-у, т). р (х,у, т, (4)где введены обозначениЯ: С 1=цо(т 112+Р 1 Р 2); С 2=20 оЫгР 1 Р 2; т 1, 12, Р 1, Р 2- соответственно коэффициенты пропускания и отражения зеркал 5 и 7, причем, 1+р=1. Будем считать для простоты, что для зеркал 6, 912 и для ОВФ зеркала 14...