Патенты с меткой «стабилитронов»

Способ воспроизведения кривой динамической характеристики нелинейных элементов, например стабилитронов, на экране катодного осциллографа

Загрузка...

Номер патента: 127755

Опубликовано: 01.01.1960

Автор: Ильенков

МПК: G01R 13/24

Метки: воспроизведения, динамической, катодного, кривой, например, нелинейных, осциллографа, стабилитронов, характеристики, экране, элементов

...кривой динамической характеристики не- липепых элементов, например стабнлитронов, на экране катодного ос- циллОГэсфя, на Одпэ из пс 1 э п.ясин кот 01 эОГО подаетсЯ таденис псспрЯ жспия, пропорцонягьнос току через нелинейный элемент, а ня д 1 эугуо пару - напряжение на его зажичах при подаче на проверяемый элемент одновремешо постоянного и переменного тока, отл и ч а ю щи йс я тем, что, с целью произвольного выбора участка кривой характе;эистики, изооряжяемой на экране, се 1 эез проверяемый элемент пропускают одновремснн;э импульсы пилообразной формы и постоянный ток, величину которого подбирают до получения на экране треоуемого участка КР 1 ВОП. Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССРРедактор В. М....

Способ тренировки стабилитронов тлеющего разряда

Загрузка...

Номер патента: 436407

Опубликовано: 15.07.1974

Авторы: Белкин, Гусев, Егоров, Елесин, Тимофеева

МПК: H01J 9/02

Метки: разряда, стабилитронов, тлеющего, тренировки

...электродов, Время тренировки приборов с большой площадью катода и анода составляет несколько десятков часов.Для сокращения длительности процесса тренировки предлагается способ, по которому импульсы отрицательной полярности выбирают с временным сдвигом и длительностью в 2 - 4 раза меньше по отношению к положительным импульсам.Сущность изобретения состоит в том, что наэлектроды прибора подают импульсы напря жения положительной полярности, .=- 10 -25 мсек, =25 Гц, а в интервалах между импульсами напряжения положительной полярности на электроды прибора подают импульсы напряжения отрицательной полярности, при чем длительность импульса напряжения отрицательной полярности в 2 - 4 раза меньше длительности импульса напряжения положительной...

Контактное устройство для подключения мощных диодов и стабилитронов к измерительному прибору

Загрузка...

Номер патента: 512515

Опубликовано: 30.04.1976

Авторы: Астахова, Балов, Маркин, Мишенькин

МПК: H01L 21/20

Метки: диодов, измерительному, контактное, мощных, подключения, прибору, стабилитронов

...подвижной кареткой, а другой конец опирается через ролик на внутреннюю поверхность кожуха измерительного прибора, а на основании устройства закрепленыэлектромагнит и микропереключатель.На фиг. 1 показано предлагаемое устройствов нерабочем положении; на фиг, 2 - то же, врабочем положении.Контактирующее устройство состоит из основания 1, жестко закрепленного на панелиприбора 2, каретки 3 с контактом - радиатором 4, пружин 5, скобы 6 из магнитомягкогоматериала, жестко соединенного с кареткой 3,переключателей 7, электромагнита 8, направляющих 9.На каретке 3 в стойке 10 из изоляционногоматериала на оси 11 закреплен рычаг 12, несущий подпружиненный контакт 13 и ролик14. Рычаг подпружинен пружиной 15. Снаружи к каретке 3 прикреплена крышка 16...

Способ пайки полупроводниковых кристаллов стабилитронов к металлической арматуре приборов

Загрузка...

Номер патента: 623240

Опубликовано: 05.09.1978

Авторы: Бондарев, Добровольский, Кислицын, Мусин, Павлюк, Россошинский

МПК: H01L 21/04

Метки: арматуре, кристаллов, металлической, пайки, полупроводниковых, приборов, стабилитронов

...стабилизации выше 50 В.Поставленная цель достигается тем, что р- - и переход предварительно нагревают ло температуры, обеспечивающей возрастание обратного тока р - и - перехода выше 0,5 А, а напряжение тока основного нагрева выбирают меньше напряжения стабилизации полу роволни кового кристалла стабилитрон а.Предварительный нагрев может бьть осуществлен током, протекаюпгим в прямом направлении относительно р- - и перехода.В этом случае обратный ток основного нагрева пропускают с задержкой после окончания тока предварительного нагрева. по величине равной или большей времени тепловой диффузии в кристалле. Технологический цикл по описываемому способу следующий. Полупроводниковый кристалл стабилцтроца укладывают между залужеццыми...

Устройство для контроля стабилитронов

Загрузка...

Номер патента: 932431

Опубликовано: 30.05.1982

Авторы: Кисляков, Обадин

МПК: G01R 31/26

Метки: стабилитронов

...8 объектов контроля контролируемого стабилитрона блок управления ( не показан) открывает на короткое время первый клюц ч, Синусоидальное напряжение с генератора 1 синусоидального45 напряжения поступает на суммирующий блок 5, где суммируется с сигналом постоянной составляющей блока 2 задания режима и переменной составляющей синусоидального напряжения, поступающей с генератора 1 синусоидального напряжения через управляемый делитель 3 напряжения и второй ключ 11. Суммарное напряжение поступает на вход преобразователя 6 напряжение-ток, где 55 преобразуется в переменный ток с постоянной составляющей. Этот ток,проходя через выводы стабилитрона, вызыаает эффект фриттинга, повышающийкачество контактирования стабилитрона с коммутатором 8...

Способ определения температурного коэффициента напряжения стабилизации полупроводниковых стабилитронов

Загрузка...

Номер патента: 1100587

Опубликовано: 30.06.1984

Авторы: Бумарин, Егоренков, Покровский

МПК: G01R 31/26

Метки: коэффициента, полупроводниковых, стабилизации, стабилитронов, температурного

...достигается тем,что согласно способу определениятемпературного коэфФициента напряжения стабилизации полупроводниковЫх 50стабилитронов, включающему измерениенапряжения стабилизации при нормальной температуре, дополнительно измеряют при нормальной температуре емкость запертого р-и-перехода стабилитрона в предпробойной области и определяют температурный коэффициент .напряжения стабилизации стабилитрона по модели связи с напряжениемстабилизации и емкоСтью запертого 60 р-и-перехода при нормальной температуре.Способ осуществляется следующим образом.Предварительно в достаточно большой группе (объемом 100-200 штук) однотипных стабилитронов (статистически значимой выборке) у каждого стабилитрона измеряют три характеристики:Х, - напряжение...

Способ разбраковки по электрическим параметрам структур стабилитронов на пластине

Загрузка...

Номер патента: 1820425

Опубликовано: 07.06.1993

Авторы: Козлов, Кузьминык, Уразов

МПК: H01L 21/66

Метки: параметрам, пластине, разбраковки, стабилитронов, структур, электрическим

...микроскопа совмещают над неподвижным зондом 3 , Вертикали на одной оси подвижный зонд :.;:. Г 1 омеща 1 от в зазор между зондами пластину 6 и ориентируют пЬд зонд 5 контактный выступ 8 Верхней плоскости пластины, нижний контактныЙ выступ 7 пластины автоматически совмещается с неподвижным зондом Э устройства. Пластина фиксируется на поверхности приспособления с помощью Вакуумного присоса.Предметный солик 1 зондовой установки Ориентируется по осям Х, У, С включением зондовой установки в режиме "Автомат" подвижный зонд поочередно коГ тактирует с каждым контактным выступом пластины и согласно заданной программе От источника измерителя подается ток или прикладывается напряжение В зависимости От измеряемого Гараметра.Разбраковыва"...