Патенты с меткой «отражающих»

Номер патента: 1460598

Опубликовано: 23.02.1989

Авторы: Сойту, Трегуб

МПК: G01B 11/27, G01B 9/02

Метки: интерферометр, кривизны, отражающих, поверхностей, радиусов

...поверхности совпадал с центром кривизны высокоточной поверхности сравнения мениска 7. Отра зившись от контролируемого объекта 1 световой поток, не измеяя своего сферического волнового фронта (при качественном изготовлении контролируемого объекта), возвращается в строго обратном направлении и на высокоточной поверхности сравнения мениска 7 интерферирует с вторым световым потоком, образуя интерференционную картину, которая при помощи линз 6 и 4, светоделительной пластины 3 и окуляра 5 рассматривается в поле зрения окуляра 5.Микросмещени-. ем контролируемого объекта 11 в направлении, перпендикулярном оптической оси, добиваются наличия в цоле зрения окуляра 5 определенного (в зависимости от метода обработки интерференционной картины)...

Номер патента: 1504498

Опубликовано: 30.08.1989

Авторы: Бахтин, Глухов, Костюченко, Перк

МПК: G01B 11/16

Метки: вектора, диффузно, компонент, микрообъектов, отражающих, перемещения

...содержит источник 1 когерентного излучения, расположенный по ходу излучения светоделитель 2, расположенную по ходу одного иэ разделенных пучков систему 3 формирования опорного пучка с коллиматоромрасположенную по ходу другого иэ разделенных пучков систему 5 формирования объектного пучка, расположенный в направлении распространения объектного пучка держатель 6объекта, фокусирующий объектив 7, диафрагму 8 с щелевой апертурой, выполненную с воэможностью изменения ширины щели 9 и установленную параллельно плоскости объектива 7 в контакте с ним с возможностью вращения вокруг оптической оси объектива 7, голограмму 1 О, установленную н плоскости изображения объектива 7, фоторегистратор 11, установленный по ходу опорного пучка за голограммой...

Номер патента: 1516776

Опубликовано: 23.10.1989

Авторы: Бахтин, Глухов, Костюченко, Перк

МПК: G01B 11/16

Метки: деформации, диффузно, объектов, отражающих, очага

...характере деформированного состояния, а также эа счет исследования очага деформации малых размеров.3В частном случае деформированного состояния, при котором полосы локализованы на объекте ( Л = 0) и,тем самым, может быть использован известный способ, в области очага деформации система полос, обусловленная смещением восстанавливающего пучка, теряет свою регулярность, что позволяет легко установить размерыочага деформации.П р и м е р. Определяли размер микроочага деформации, возникающего при вдавливании стального цилиндра диаметром 2 мм в металлическую пластину. Объект освещали коллимнрованным пучком когерентного излучения от лазера ЛГи получали увеличенное изображение с помощью объектива с фокусным расстоянием Е 20 мм и апертурой а...

Номер патента: 1627949

Опубликовано: 15.02.1991

Авторы: Докучаев, Зиновьев, Коршунов, Шихов

МПК: G01N 25/18

Метки: зеркально, коэффициента, отражающих, температуропроводности

...с итывающего лазера не влияет на результаты измерения. Все перечисленное дает возможность свести величину погрешности в определении температуропроводности к величине погрешности в определении модулирующей частоты в и запаздывания по фазе Ьр,На чертеже показана схема устройства, с помощью которого реализуют способ.Устройство состоит из источника 1 теплового излучения, модулятора 2, опорного генератора 3, Не-Ие лазера 4, дифракционной решетки 5, линзы 6, оптического клина 7,линзы 8, фотоэлектрического приемника 9, амплитудно-фазового измерителя 10, ЭВМ 11, частотомера 12.С помощью устройства способ осуществляют следующим образом.Лазерный луч иэ источника 1, модулированный по гармоническому закону модулятором 2 и опорным генератором 3,...

Номер патента: 1631492

Опубликовано: 28.02.1991

Авторы: Гончарский, Мананков, Окорков, Якунин

МПК: G02B 5/18

Метки: дифракционных, оптических, отражающих, элементов

...предварительно оптически отполированную подложку 1 наносят тонкие конструкционные слои 2 и 3 из двух различных материалов с количеством слоев, равным числу ступеней поверхностного рельефа. Материалы пленок должны удовлетворять следующим требованиям: селективностью по отношению к травителям; близкими коэффициентами термического расширения между собой и подложкой; напряжения в слоях 2 и 3 должны быть противоположного знака; слои должны иметь хорошую адгезию между собой и подложкой 1; Далее в соответствии с топологическим рисунком на фотошаблоне на подложке формируют первую фоторезистивную маску 4 и вытравливают соответствующие ей участки конструкционных слоев, Затем процесс повторяют и раз, где и-количество фотошаблонов для одного...

Номер патента: 1693377

Опубликовано: 23.11.1991

Автор: Нетреба

МПК: G01B 11/30

Метки: отражающих, поверхностей, радиусных, частоты

...дефектов типа: риски, раковины выбоины, выступы,С помощью предлагаемого способа можно производить на экране аизуальное сравнение количества и размеров наблюдаемых дефектов с фотошаблоном, определяющим допустимые размеры и количество дефектов в поле зре п я. Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано длябесконтактного визуального контроля чистоты отражающих радиусных поверхностей,преимущественно шариков и дорожек качения подшипниковых колец,Цель изобретения - повь,шение качества контроля и расширение области использования способа эа счет возможностиобнаружения единичного и групповых дефектов с размерами порядка среднегоразмера шероховатостей исследуемой поверхности, а также за счет обеспеченияконтроля...

Номер патента: 1744452

Опубликовано: 30.06.1992

Авторы: Котляр, Сойфер, Храмов

МПК: G01B 11/24

Метки: интерферометр, отражающих, плоскостности, поверхностей

...интерферограммы без ее видоизменения, что повышает надежность и достоверность измерений величины отклонения исследуемой поверхности от плоскости. Делительный элемент расположен в сходящемся (или расходящемся) световом пучке в области вблизи фокуса первого объектива и поэтому имеет малые размеры, не зависящие от размеров контролируемой поверхности. Предлагаемая оптическая схема с делительным элементом (дифракционной решеткой) является примером поперечно-сдвигового интерферометра, в котором величина изгибов интерференционных полос на интерферограмме пропорциональна не величине отклонения контролируемой поверхности от плоскости (как в интерферометре Физо), а пропорциональна первой производной функции отклонения от плоскости, так как...

Номер патента: 1758421

Опубликовано: 30.08.1992

Автор: Хопов

МПК: G01B 11/24

Метки: диффузно, объектов, отражающих, поверхности, профиля

...образом,Положение уголкового отражателя измеряется относительно начального значения, которое фиксируется при помощи второй измерительной системы, Эта система представляет собой интерферометр, который функционирует аналогично устройству измерения размеров обьекта, В опорном плече интерферометра находится зеркало 15, а в обьектном - зеркало 16, относительно которого и фиксируется начальное положение уголкового отражателя б. В момент времени при изменении положения уголкового отражателя, когда на входном окне фотоприемника 17 появляются контрастные интерференционные полосы, блок 18 выдает импульс на счетчик 14 и обнуляет его вь 1 ходы. Первая измерительфокальная плоскость совмещена г плоско 3. Устройство по и. 2, о т л и ч а ю щее с я...

Номер патента: 1760312

Опубликовано: 07.09.1992

Авторы: Котляр, Сойфер, Храмов

МПК: G01B 11/24

Метки: интерферометр, отражающих, плоскостности, поверхностей

...двумя исследуемыми волновыми фронтами, смещенными и наклоненными по отношению друг к другу. Поэтому малые случайные смещения и наклоны любых оптических элементов схемы приводят только к малым смещениям интерферограммы и не искажают ее, а это в свою очередь означает повышение надежности и достоверности результатов измерения отклонения поверхности от плоскости, Во-вторых, вместо двух дифракционных решеток в прототипе в поперечносдвиговом интерферометре использована только одна решетка, которая помещена после второго объектива в сходящемся пучке в области фокуса, и поэтому имеет небольшие размеры, независящие от размеров контролируемой поверхности. В-третьих, предложенная оптическая схема с одним делительным элементом позволяет при...

Номер патента: 1840420

Опубликовано: 20.03.2007

Авторы: Дробот, Егоров, Жаркова, Земсков, Игуменов, Ямпольский

МПК: C23C 14/00

Метки: отражающих, покрытий

Способ получения отражающих покрытий, преимущественно для оптических элементов лазеров, из метильных производных -дикетонатов золота или платины, заключающийся в массопереносе исходного вещества, термическом газообразном разложении его на металл и органические продукты разложения, осаждении металла на нагретой подложке, отличающийся тем, что, с целью повышения коэффициента отражения покрытия, адгезии, чистоты и стойкости к механическим воздействиям, массоперенос осуществляют потоком инертного газа, перед термическим газофазным разложением осуществляют смешение потока инертного газа с потоком водорода у рабочей поверхности подложки, термическое газофазное разложение...