Патенты с меткой «микроскопических»

Номер патента: 1434465

Опубликовано: 30.10.1988

Авторы: Дарченко, Иванов, Тупикин, Шуб

МПК: G06M 11/02

Метки: микроскопических, объектов, счета

...пачка равна одному кадру телевизионной развертки, На эле 55менте И 5 эталонные импульсы дополнительно стробируются видеосигналоми, таким образом, количество импульсов на выходе элемента И 5 и соответственно на счетном входе первого счетчика 6 пропорционально суммарной площади всех объектов, видимых в поле зрения телевизионного датчика 1. Счетчик б выдает информацию о ко" личестве импульсов на шину данных и сбрасывается передним фронтом импульса с входа Пуск" устройства.При первом измерении тумблер "Калибровка-измерение" находится в положении "Калибровка", а в поле зренияввводится участок с пробой неагрегированных объектов (бактерий). При этом указанным способом определяется число, пропорциональное суммарной площади объектов,...

Номер патента: 1465739

Опубликовано: 15.03.1989

Авторы: Головчанский, Марченко

МПК: G01N 1/28, G01N 23/225

Метки: исследований, кремниевой, микроскопических, нанесенных, образцов, пленок, поверхность, подложки, приготовления, электронно

...комбинат "Патент", г.ужгород, ул, Гагарина,101 3 14657 к мнатной температуре является насыщ иным),При температуре раствора менее Зф С увеличивается продолжительностьо процесса, а использование раствора с температурой более 80 С приводит к растворению,самой отделяемой пленки.В таблице приведены результаты р ализации способа приготовления о разцов при различных параметрах п оведения процесса.П р и м е р. Проводят отделенир пренки ниобия (%) толщиной 1000 А,апыленной на кремниевую подложку (100) в 453-ном растворе КОН при 65 С. Время отделения пленки составет около 5 мин при скорости растрения самой пленки .60-70 А/мин. осле отделения с помощью специальой сетки кусочки пленки помещают в стиллированную воду. Свертыванияки не...

Номер патента: 1493849

Опубликовано: 15.07.1989

Авторы: Анисимов, Вайсман, Ткаченко

МПК: F25D 3/10, G02B 21/28

Метки: исследований, микроскопических, объектов

...с предметным стеклом 20. На второй вход компаратора 22 подается опорный сигнал Н,я, определяющий температуру Т теплообле ника 2, при которой начинается процесс программного охлаждения, На первый вход компаратора 22 поступает сигнал от датчика 29 температуры, На вход системы 12 подачи хладагента и второй вход схемы И 26 поступает сигнал, вз(лючазощий систему подачи хладагецта и разрешающий прохождение сигнала от коипаратора 22 через схему И 26, Однако до тех пор, пока сигнал от датчика 29 температуры больше Н , с выхода коипаратора 22 через схему И 26 на привод 9 поступает сигналВыключено, при этом теплообмецник 2 не касается предметцого стекла 20, Одновременно через систему 12 подачи хладагецта поступает максимальное количество хлад 5 14...

Номер патента: 1509799

Опубликовано: 23.09.1989

Авторы: Андреев, Кудрявцева, Куликов, Никифорова

МПК: G02B 21/00, G02B 21/02, G02B 21/33 ...

Метки: исследования, микроскопических, объектов, оптическими, различными, свойствами

...Сцелью повышения удобства при исследованиях с различными иммерсионнымижидкостями используют различные плосковыпуклые фронтальные линзы, установленные с возможностью последовательного введения в объектив, конрасстояние 1 от первой поверхностифронтальной линзы 2 до исследуемогообъекта и сам микрообъектив 3 (без фронтальнои линзы) .Предлагаемый способ микроскопических объек ными оптическими свойс быть реализован с пектива ОХ100 х10 г(п+1)пм ии 315097 вляют фокусировку и наблюдение, Для того, чтобы обеспечить удобство при .наблюдении, необходимо иметь достаточное рабочее расстояние 1, которое связано с конструктивными параметрами плосковыпуклой линзы г , с 1, и соотношением Далее исследуемый объект А помещают в другую иммерсионную...

Номер патента: 1672308

Опубликовано: 23.08.1991

Авторы: Войналович, Жаворонков, Маслов, Свирцов

МПК: G01N 21/01

Метки: дефектов, микроскопических, пластин, поверхности, полупроводниковых

...1 излучения, оптическую систему 2 для формирования и направления падающего пучка излучения, с помощью ко 1 орой повеохность полупроводниковой пластины освещается коллимированным пучком света, предметный столик 3, снабженный приводами вращения 4 и возвратно-поступательного перемещения 5 последний включает шаговый электродвигатель б и кинемэтическую передачу 7, обеспечивающую перемещение предметного столика 3 на шаг, равный диаметру пятна пучка излучения, оптическую систему 8 для сбора рассеянного излучения, фотоприемник 9, на который поступает рассеянное излучение с выхода оптической системы 8 для сбора рассеянного излучения, счетчик 10 электрических импульсое, соединенный с фотоприемником 9, систему регистрации углового положения...

Номер патента: 1804612

Опубликовано: 23.03.1993

Автор: Глотов

МПК: G01N 21/85

Метки: глубины, залегания, микроскопических, препаратах, структур

...микроскопа, то вТ, так как в противном случае при перефокусировке микроскопа часть пространства препарата не будет попадать в пространство глубины резкости микроскопа.Продолжая эти рассуждения, можно предположить, что общая формула нахождения глубины залегания структур в препарате по отношению к верхней поверхности препарата, справедливая для любого шага перефокусировки и, будет иметь вид (1). Справедливость этого предположения доказывается методом математической индукции (Виленкин Н,Я, Индукция,расстояние от точечного источника света до передней границы глубины резкости микроскопа; а - светоконтрастная точка на струк//туре внутри препарата, а и а - центральные проекции этой точки из з 1 и зг на Р 1; Ь; -глубина залегания точки по...

Номер патента: 2002469

Опубликовано: 15.11.1993

Авторы: Асельдеров, Галкин

МПК: A61N 1/28

Метки: желчи, исследований, микроскопических, проб, хранения

...что в исследуемую пробу нативной желчи последовательно вводят при перемешивании 1%-ный40 раствор метиленовой сини в соотношении(1;4 - 2:8) с последующим добавлением через 10-20 мин безводного глицерина в соотношении 1:4 - 1:8 и далее содержат при4 - 8 С,45 Отличие предложенного способа отпрототипа заключается в том, что в исследуемую пробу нативной желчи последовательно вводят при перемешивании 1%-ныйраствор метиленовой сини в соотношении2002469 40 таблицаРезультаты микроскопического исследования пробы пузырной желчи больной П. Количество клеточных злементов в поле зрения че ез в емя,ч3.5 З5.10 0.15 г-з 1-2 3.5 23 1.2 1.2 35 1.2 3-5 3-5 5-10 10.15 10-15 П р и м е ч а н и е номера проб желчи 11-наивнев; 2-обработанная по прототипу; 3...

Номер патента: 1356706

Опубликовано: 27.02.1996

Автор: Яблонский

МПК: G01N 21/64

Метки: кристаллов, микроскопических, травления, фигур, характеристик

СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ХАРАКТЕРИСТИК МИКРОСКОПИЧЕСКИХ ФИГУР ТРАВЛЕНИЯ КРИСТАЛЛОВ, основанный на воздействии излучением на кристалл, измерении структуры и угловых размеров световых фигур, отличающийся тем, что, с целью повышения экспрессности и расширения возможностей способа, на входную поверхность кристалла воздействуют излучением, возбуждающим люминесцентное или рассеянное излучение точечного источника, дополнительно измеряют коэффициент дифракционного уширения элементов световых фигур, образованных на выходной поверхности кристалла люминесцентным или рассеянным излучением, находят форму, углы наклона граней, размеры и плотность упаковки фигур травления, по которым судят о характеристиках микроскопических фигур травления.