Кокора

Номер патента: 194130

Опубликовано: 07.01.1985

Авторы: Жуков, Кокора, Чельный, Шалашов

МПК: C21D 1/09

Метки: поверхностного, упрочнения

...с целью поверхностного труднодоступубины упрочненизводят лучом о генератора.194130 Корректор Н.Король Техред С. Легеза Редактор О.Юркова Тираж 552ВНИИПИ Государственного комитета СССРпо делам изобретений и открытий113035, Иосква ЖРаущская наб., д, 4/5 Заказ 1/ Подписное Филиал ППП "Патент", г. Ужгород, ул, Проектная, 4 Известны различные способы поверхностного упрочнения деталей, включаю щие, например, нагрев электронным пучком и последующее быстрое охлаждение за счет отвода тепла в основную массу детали в вакуумных установках.Для получения локального поверх" ностиого упрочнения металла в труднодоступных местах с малой глубиной 1 О закаленного слоя, а именно в несколько десятков микрон, путем регулирования плотности энергии и...

Номер патента: 635492

Опубликовано: 30.11.1978

Авторы: Болденков, Дьячко, Жильцов, Кокора, Куусик, Кучин, Сасковец, Слышев, Смирнов

МПК: G06F 17/00

Метки: корректировки, плавки, расчета, сплавов, шихты

...2 прямого преобразования, ЭВМ 3 (прямого пре образования), пульт 4 оператора, телетайп б, устройство б обратного преобразован"я и квантометр 7.Устройство, показанное,на фиг. 2, включает дешифратор 8, узел 9 опроса, регистр 4 о 10 символа, счетчик 11, генератор 1 посылок, элемент НЕ 13. В состав узла 9 входят элементы 14 - 33 опроса,и элементы ИЛИ 34, Л, Счетчик 11,выполнен с применением трипперов 36 - 38 и элементов И 45 39 - 44.Устройство работает следующим ооразом.Результат анализа,на квантометре для концентрац(ии каждого входящего в,пробу 50 элемента в;виде числа, характеризуощего интенсивность, излучения, соответствующую конценпрации элемента в,пробе по линии связи, поступает на устрсйство 1 сапряжения квантомепра с электронной...

Номер патента: 197040

Опубликовано: 01.01.1967

Авторы: Жуков, Жукова, Кокора

МПК: G01N 1/02

Метки: микропробы, поверхностного

...изобретения10 Способ получения микропробы поверхностного слоя материала, отличающийся тем, что, с целью повышения локальности и точности измерения содержания компонентов, выбирают подлежащий анализу участок на шлифе 15 под микроскопом, покрывают этот участокпрозрачной для излучения оптического квантового генератора (ОКГ) пленкой или пластиной, фиксируют излучение ОКГ на выбранный участок поверхности исследуемого мате риала и напыляют микропробу на пленку илппластину путем испарения исследуемого материала лучом ОКГ. Известен способ получения микропробы поверхностного слоя материала с помощью оптического квантового генератора (ОКГ), излучение которого используется для возбуждения в микрообъемах эмиссионного спектра исследуемых...