Патенты с меткой «констант»

Номер патента: 1388718

Опубликовано: 15.04.1988

Авторы: Антонов, Янышев

МПК: G01B 17/04

Метки: констант, конструкционных, металлических, физических

...наб д, 4/5Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4 Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения инвариантныкхарактеристик материалов, значениякоторых не поддаются точному опреде 5лению из-за вариации дефектов микроструктуры в реальном конструкционномматериале,Цель изобретения - повышение достоверности получаемых количественньжоценок эа счет снижения случайногоразброса результатов измерения чтодостигается соответствующей обработкой поверхности образца на режиме, 15создающем взаимно компенсирующие дефекты структуры и стабилизирующимотжигом этого образца перед определением физических констант.Способ осуществляют следующим образом.Образцы материала простейшей...

Номер патента: 1474741

Опубликовано: 23.04.1989

Авторы: Герго, Иваськив, Черная

МПК: G11C 17/00

Метки: констант, формирования

...второй счетчик 1 О. На вы О ходах первого счетчика появляются необходимые для формирования соответствующей части константы наборы двоично-кодированных сигналов, представляющих собой значения переменных, ко торые подаются на информационные входы модуля 3, Число выходов первого счетчика определяется числом разрядов формируемой части константы. Переключение в процессе работы устройства 3 О первого счетчика в нулевое исходное состояние означает, что процесс формирования соответствующей части константы завершен. Каждый раз, когда счетчик обнуляется, содержимое второго счетчика уменьшается на 1. Далее осуществляется выработка сигналов, необходимых для формирования следующей константы. Зтот процесс продолжается до тех пор, пока содержимое 4 О...

Номер патента: 1493450

Опубликовано: 15.07.1989

Авторы: Гутманис, Кронберг, Цыганков

МПК: B25B 3/00

Метки: зажимное, констант

...момент торможения кулачка 25 и улучшает надежность работы устройства, Угол поворота кулачка 25 и рычагов 2 и 3 устройства зависит от диаметра изделия 43.Далее поворачивается рукоятка 13 и, соответственно, перемещается толкатель 14 в прорези 32, который вхо" дит во взаимодействие с выступом 21 пластины 19, и, поворачивая послед" нюю, выпрямляет наклонные пальцы 22 и выдвигает подпятник 7 из полости 29, В результате осуществляется окончательный силовой зажим издедия 43 и рукоятка 13 Фиксируется в конечном положении фиксатором 15.Освобождение иэделия 43 происходит в обратной последовательности. При повороте рукоятки 13 в противоположном направлении под действием пружины 27 происходит возвращение пластины 19 в положение предварительного...

Номер патента: 1500924

Опубликовано: 15.08.1989

Авторы: Абызгильдин, Малышев, Мухамедзянов, Теляшев

МПК: G01N 25/12

Метки: автоматизированный, комплекс, констант, равновесия, углеводородных, узких, фазового, фракций

...с атмосферой открыт, а вентиль28 на линии 25 закрыт, Поршень 18 вэто время находится в крайнем левомположении, излишки пробы по линии 24перетекают в дренажную емкость. Посигналу от термодатчика 44 УВМ 16подает команды на закрытие вентилей26 и 27 и на открытие вентиля 28(после достижения заданной температуры отбора очередной узкой фракции),Работой задатчика 15 соотношения объемов паровой и жидкой фаз управляетУВМ 16, Обратная связь с УВИ осуществляется посредством блока 21 эксцентриков, в котором эксцентрики поочередно замыкают контакты микропереключателей ИК-МК, сигнализируя одостижении поршнем 18 очередного контрольного положения. Дозированиеисследуемой Фракции в измерительный модуль 5 осуществляетсяследующим образом, По команде УВМ...

Номер патента: 1548709

Опубликовано: 07.03.1990

Авторы: Добровинская, Литвинов, Пищик

МПК: G01N 13/00

Метки: диффузионных, констант, кристаллических, неоднородностью, примесной, телах

...такой, чтобы оптическая плотность в максимуме и минимуме примеснойполосы соответствовала прямолинейному участ 5 ку характеристической кривой 1 = Й(8) где 1 - интенсивность излучения; Я - почернение.По данным фотометриоования пленки определяют отношение 1 я 1/1 являющееся функцией концентрации Сгде 1 - интенсивность света, прошедшего через фотопленку, снятую с исследуемого образца; 1 - интенсивность света, прошедшего через фотопленку от образца, не содержащего примеси, Иа фиг.2 показано распределение 1 р, 1/1 в отдельных областях т,е. дана картина распределения концентрации диффундирующвй примеси в различных точках исходного образца. Затем образец помещали в высокочастотную печь типа "Кристалл". тепловая зона которой характеризовалась...

Номер патента: 1644001

Опубликовано: 23.04.1991

Автор: Степин

МПК: G01N 21/41

Метки: дифференциальный, жидкости, констант, оптических

...сосуд 1 наклоняют так, чтобы поверхность его дна 2, контактирующая с гранью призмы 3, образовала с плоскостью горизонта угол р, равный преломляющему углу сс эталонной призмы, Контроль за этой операцией ведут с помощью автоколлиматора (не показан) по совмещению бликов от поверхностей жидкости и призмы.При совмещении бликов преломляющий угол я" жидкостной призмы равен углу сь.Через дно 2 сосуда 1 параллельный пучок лучей, выходящих из коллиматора 5, направляют перпендикулярно грани призмы 3, конСоставитель Редактор А. Мотыль Техред А. Кравчу Заказ 1235 Тираж 412 ВНИИПИ Государственного комитета по изобрете 1 3035, Москва, Ж - 35, Рауш Производственно.издательский комбинат Патенректор А. Обручарписноетиям при ГКНТ СССРд. 4/5од, ул....

Номер патента: 1755220

Опубликовано: 15.08.1992

Авторы: Калиникос, Ковалева, Ковшиков, Кожусь, Панчурин, Север

МПК: G01R 33/05

Метки: анизотропии, констант, намагниченности, насыщения, неразрушающего, пленок, ферромагнитных

...значениям частот с помощью дисперсионных соотношений,2 ил.расстоянии. Измерительную секцию помещают в магнитную систему, создающую постоянное магнитное поле напряженностью Но, направленное вдоль оси антенн спиновых волн. При этом реализуется режим возбуждения поверхностной спиновой волны. С помощью СВЧ-генератора измеряют частотные зависимости отраженной мощности СВЧ-сигнала РО 2 р = фо) при двух различных направлениях магнитйого поля Но относительно кристаллографических осей пленки, что реализуется поворотом пленки относительно поля Но Как видно иэ фиг.2, зависимость Ротр, - 1 (в) имеет осциллирующий характер, а значения волновых чисел в точках минимумов зависимостей РО 2 р = 1 (в) определяются при Л р 2 = 0 иэ простого...

Номер патента: 1586417

Опубликовано: 10.08.1999

Авторы: Горчаков, Куцаенко, Потапов

МПК: G02F 1/03

Метки: констант, электрооптических

Способ измерения электрооптических констант, заключающийся в возбуждении кристалла монохроматическим поляризованным светом и расчете электрооптической константы по измеренному значению сигнала фотоприемника на частоте управляющего напряжения, отличающийся тем, что, с целью расширения области измеряемых характеристик и повышения точности измерений, возбуждают кристалл циркулярно поляризованным светом, прикладывают к кристаллу переменное управляющее напряжение, выделяют плоскость поляризации, соответствующую максимуму сигнала фотоприемника на частоте управляющего напряжения, определяют коэффициент модуляции m(Т1) при температуре Т1, рассчитывают электрооптический модуль...