Способ измерения электрооптических констант

Номер патента: 1586417

Авторы: Горчаков, Куцаенко, Потапов

Описание

Способ измерения электрооптических констант, заключающийся в возбуждении кристалла монохроматическим поляризованным светом и расчете электрооптической константы по измеренному значению сигнала фотоприемника на частоте управляющего напряжения, отличающийся тем, что, с целью расширения области измеряемых характеристик и повышения точности измерений, возбуждают кристалл циркулярно поляризованным светом, прикладывают к кристаллу переменное управляющее напряжение, выделяют плоскость поляризации, соответствующую максимуму сигнала фотоприемника на частоте управляющего напряжения, определяют коэффициент модуляции m(Т1) при температуре Т1, рассчитывают электрооптический модуль при температуре Т1 из соотношения

l - длина кристалла, м;
nо - коэффициент преломления света;
r(T) - электрооптический коэффициент при температуре Т, м/В;
- длина волны света, м;
- удельная гиротропия м-1;
d - расстояние между обкладками кристалла, м;
m(Т1) - коэффициент модуляции при температуре Т1;
U - управляющее напряжение, В,
выделяют плоскость поляризации под углом , соответствующую нулю сигнала фотоприемника на частоте управляющего напряжения при температуре Т1, нагревают кристалл до температуры Т2, выделяют плоскость поляризации, соответствующую максимуму сигнала фотоприемника на частоте управляющего напряжения при температуре Т2, рассчитывают электрооптический модуль при Т2, определяют коэффициент модуляции m(Т2) при температуре Т2 из соотношения

выделяют плоскость поляризации под углом 2, соответствующую нулю сигнала фотоприемника на частоте управляющего напряжения при температуре Т2, определяют гиротропию при температуре Т2 из соотношения
l(T2) = l(T1)+2( 2- 1),
а затем рассчитывают электрооптический температурный коэффициент из соотношения

и гиротропный температурный коэффициент из соотношения

Заявка

4381587/25, 24.02.1988

Институт радиотехники и электроники АН СССР

Горчаков В. К, Куцаенко В. В, Потапов В. Т

МПК / Метки

МПК: G02F 1/03

Метки: констант, электрооптических

Опубликовано: 10.08.1999

Код ссылки

<a href="https://patents.su/0-1586417-sposob-izmereniya-ehlektroopticheskikh-konstant.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения электрооптических констант</a>

Похожие патенты