Способ измерения электрооптических констант
Описание | Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Описание

l - длина кристалла, м;
nо - коэффициент преломления света;
r(T) - электрооптический коэффициент при температуре Т, м/В;


d - расстояние между обкладками кристалла, м;
m(Т1) - коэффициент модуляции при температуре Т1;
U - управляющее напряжение, В,
выделяют плоскость поляризации под углом


выделяют плоскость поляризации под углом





а затем рассчитывают электрооптический температурный коэффициент из соотношения

и гиротропный температурный коэффициент из соотношения

Заявка
4381587/25, 24.02.1988
Институт радиотехники и электроники АН СССР
Горчаков В. К, Куцаенко В. В, Потапов В. Т
МПК / Метки
МПК: G02F 1/03
Метки: констант, электрооптических
Опубликовано: 10.08.1999
Код ссылки
<a href="https://patents.su/0-1586417-sposob-izmereniya-ehlektroopticheskikh-konstant.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения электрооптических констант</a>
Предыдущий патент: Способ переработки свинцовых и свинцово-цинковых материалов
Следующий патент: Способ получения -(пентабромфенокси)этанола
Случайный патент: Устройство для измерения влажности почво-грунтов