Патенты с меткой «неоднородностью»

Номер патента: 746264

Опубликовано: 05.07.1980

Авторы: Козма, Маслов, Михайлов, Палатник, Фукс

МПК: G01N 23/207

Метки: кристаллов, неоднородностью, периодической, структуры

...Вгю) +аз + Рзсателлиты2- (8 з - 8 з) (Вз 1+В 1 з+Ви Аг 1) (Ви Вгг - Аи А 1 г)+(А 1 г Ви+Аи В 1 г) (Аз - Аэ 1+Аи Ви)14 Третьи Л;(а ) Зо (ак) З;Ог ) оф е8 и 8 - интенсивность 1-тых сателлитов, распоЛоженных со стороны меньших и большихуглов относительно основного рефлекса,Здесь а Ь, и ак, Р, коэффициенты Фурьеразложения периода решетки и структурной амплитуды соответственно, а 1; иЭо - фукнцииБесселя 1-го и нулевого порядка,Из решения системы уравнений находят коэффициенты Фурье-разложения структурной амплитуды а, 1 Зи периода решетки о Ь и,зная концентрационную зависимость структурной50амплитуды и периода решетки, независимо определяют профиль изменения концентрации какпо коэффициентам а, ф, так и по коэффициентам Ь.При упругой...

Номер патента: 1239642

Опубликовано: 23.06.1986

Авторы: Бабарика, Коробкин

МПК: G01R 29/08

Метки: возбуждаемых, волн, волноводе, неоднородностью, произвольной, регулярном, типов

...2, установленных с возможностью измерения расстояния междуними, неоднородность в виде штыря 3,Способ определения типов волн, нозбуждаемьх в регулярном нолноводе произвольной неоднородностью, реализуется следующим образом. Вкладыш вводят в регулярный волнонод 1прямоугольный, с неоднородностью штырем 3 смещают его оси регулярного волнонода 1 к штырю 3 и наблюдают амплитудно-частотную характеристику АЧХ, например, с помощьюавтоматического измерителя затуханийтипа Р 2,При достаточно больших расстоянияхмежду штырем 3 и вкладышем (порядкадвух поперечных размерон регулярногонолнонода 1) АЧХ такой системы представляет монотонную кривую, При некотором расстоянии между штырем 3 и нкладьддем амплитуды затухающих, запредельных типов волн,...

Номер патента: 1548709

Опубликовано: 07.03.1990

Авторы: Добровинская, Литвинов, Пищик

МПК: G01N 13/00

Метки: диффузионных, констант, кристаллических, неоднородностью, примесной, телах

...такой, чтобы оптическая плотность в максимуме и минимуме примеснойполосы соответствовала прямолинейному участ 5 ку характеристической кривой 1 = Й(8) где 1 - интенсивность излучения; Я - почернение.По данным фотометриоования пленки определяют отношение 1 я 1/1 являющееся функцией концентрации Сгде 1 - интенсивность света, прошедшего через фотопленку, снятую с исследуемого образца; 1 - интенсивность света, прошедшего через фотопленку от образца, не содержащего примеси, Иа фиг.2 показано распределение 1 р, 1/1 в отдельных областях т,е. дана картина распределения концентрации диффундирующвй примеси в различных точках исходного образца. Затем образец помещали в высокочастотную печь типа "Кристалл". тепловая зона которой характеризовалась...