Стенд для эталонирования светодальномера
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 1700361
Авторы: Овсюченко, Рубинштейн
Текст
союз советскихСОЦИАЛИСТИЧЕСКРЕСПУБЛИК 17003 СЗО 505 ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМПРИ ГКНТ СССР СКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВ(54) СТЕНД ДЛЯ ЭТАЛОНИРОВАНИЯ СВЕТОДАЛЬНОМЕРА(57) Изобретение относится к геодезическому приборостроению и может быть использовано для исследований лазерных дальномеров при их метрологической аттестации. Целью изобретения является расширение диапазона, Стенд содержит узел для установки эталонируемого дальномера, а также расположенные на оптической оси световозвращатель, установленный неподвижно, и узел для задания эталонного расстояния, выполненный в виде двух объектов, между которыми попарно размещены первый 8 и второй 9, третий 1 О и четвертый 11 сферические отражатели, оптически сопряженные между собой, и первый 12 и второй 13 плоские отражатели, расположенные в двух взаимно ортогональных плоскостях, параллельных оптической оси, причем расстояние между парами сферических отражателей 8,9 и 10,11 равно радиусу их кривизны, фокусы первого и третьего сферических отражателей 8 и 10 совмещены с первым плоским отражателем 12, фокусы второго и четвертого сферических отражателей 9 и 11 совмещены с вторым плоским отражателем 13, при этом первый плоский отражатель 12 установлен с возможностью поворота вокруг оси, па- З раллельной оптической оси, а второй плоский отражатель 13 установлен с возможностью поворота вокруг оси, параллельной его плоскости и ортогональной оптической оси. 2 ил,Изобретение относится к геодезическому приборостроению и может быть использовано для исследований лазерных дальномеров при их метрологической аттестации.Целью изобретения является расширение диапазона,На фиг.1 представлена структурная схема стенда для эталонирования дальномера; на фиг,2 - вариант расположения отражателей, образующих оптическую линию задержки.Стенд содержит компаратор 1 с установленным на нем световоэвращателем 2, оптически связанным с исследуемым дальномером 3, два длиннофокуснцх объектива 4 и оптическую линию 5 задержки, причем вход оптической линии 5 задержки оптически связан через первый длиннофокусный объектив 4 с выходом эталонируемого дальномера 3, а ее выход через второй длинно- фокусный объектив 4 связан со световоэвращателем 2.Оптическая линия 5 задержки включает входное 6 и выходное 7 отверстия. В плоскости входного отверстия расположена пара сферических отражателей, состоящая из первого 8 и второго 9 сферических отражателей разных радиусов кривизны. Напротив пары сферических отражателей 8 и 9 на расстоянии их радиуса кривизны расположена пара сферических отражателей, состоящая иэ третьего 10 и четвертого 11 сферических отражателей одинаковой кривизны. Между парами сферических отражателей 8,9 и 10,11 на расстоянии их фокусного расстояния находятся первый 12 и второй 13 плоские отражатели, расположенные во взаимно перпендикулярных плоскостях. Все отражатели имеют независимые юстировочные элементы.Эталонирование дальномера на стенде происходит следующим образом.Вначале на компаратор устанавливается образцовый дальномер и происходит уточнение плиты оптической линии задержки. Затем на то же место устанавливается исследуемый дальномер и им измеряется та же длина. Разность величин, полученных от образцового и исследуемого дальномера дает искомую величину погрешности.Оптический сигнал от лазерного дальномера 3, пройдя первый длиннофокусный объектив 4, попадает во входное отверстие 6 оптической линии задержки. Затем излучение распространяется параллельно главной оптической оси и попадает на третий сферический отражатель 10, в его нижний левый угол. Отраженный луч попадает на первый плоский отражатель 12, который на 20 30 телях 8 и 10 в шахматном порядке будет до 40 45 но главной оптической оси на третий 50 55 5 10 15 ходится в фокусе сферического отражателя 10, и переотраженный луч попадает на первый сферический отражатель 8, но в крайний противоположный угол по отношению к третьему сферическому отражателю 10. Первый плоский отражатель 12 за счет выбора угла поворота вокруг оси, перпендикулярной линиям столбцов, задает сдвиг строки в столбцах матрицы, а также симметрично отображает матрицы, образованные на отражателях 8,9 и 10,11. После образования первого изображения на отражателе 8 излучение направлено параллельно главной оптической оси системы на отражатель 10, где начинается заполнение второй строки, но теперь уже в крайнем правом ряде. После этого отраженный сигнал снова попадает на первый плоский отражатель 12, а оттуда на первый сферический отражатель 8, где происходит симметричное отображение образующейся матрицы на третьем сферическом отражателе 10, т.е. на отражателе 8 появляется изображение в следующей вышестоящей строке (так как заполнение матриц изображения на отражателях 8 и 10 происходит сразу вверх по строкам), но теперь уже в крайнем противоположном ряде, слева по отношению к первому изображениюна отражателе 8. Такое последовательное заполнение матриц на сферических отражатех пор, пока изображение не появится на сферическом отражателе 11, откуда луч поступает на второй плоский отражатель 13, находящийся в фокусе четвертого сферического отражателя 11, и отражаясь от второго плоского отражателя 13, попадает на второй сферический отражатель 9, где образуется ,новый столбец в нижней строке, справа от входного отверстия 6. Таким образом, второй плоский отражатель 13 задает сдвиг столбцов в строке, а величину этого сдвига определяет угол его поворота вокруг оси, перпендикулярной линиям строк. Отраженный луч от отражателя 9 следует параллельсферический отражатель 10, где образуется новый столбец в нижней строке, В дальнейшем заполнение матрицы происходит по описанной выше "шахматной" очередности с соблюдением симметрии в отображении изображений матриц отражателей 8 и 10 до тех пор, пока луч от последнего изображения в матрице, образованной на отражателе 8, не попадает в выходное отверстие 7. Цифры, помещенные в кружки на парах сферических зеркал, показывают механизм образования матриц.После выхода из оптической линии 5 задержки луч через второй длиннофокусный+ А +(1 о/2 +(б 1-дул 1) (у - 1)+ Составитель В.СоловьевРедактор Г.Гербер Техред М,Моргентал Корректор О.Кундри каэ 4458 Тираж Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открыт 113035, Москва, Ж, Раушская наб 4/5 и ГКНТ СССР роизводственно-издательский комбинат "Патент", г, Ужгород, ул,Гагарина, 10 объектив 4 попадает на световозвращатель 2 и, переотразившись, попадает в приемный блок дальномера 3, где анализируется пришедший сигнал и одним из известных методов определяется длина оптического пути.Результирующая длина . оптической линии задержки может быть определена по формуле4-"2 С СА +(Зо/2 +(б 1-(л 1 - 1)ду (у)+ в которойА 1 = - (2 пз - 1); пз е 1,2,х/2;дА 2 = ду (у - 2); п 1 е 1,2,3 у: пг е 1,2(х- -1); упз+1; хпз; пз е 1,2 огде 1 о - радиус кривизны сферических отражателей;у - количество строк матрицы изображений;х - количество столбцов матрицы изображений;д - шаг по столбцам;д - шаг по строкам;б 1 - нормаль между лучом, образующим первое изображение матрицы, и плоскостью отражателя 12.б 2- нормаль между лучом, образующим первое изобретение матрицы, и плоскостью отражателя 13,Таким образом, изобретение позволяетосуществлять эталонирование дальномеровв лабораторных условиях практически в любом диапазоне поверяемых длин.Формула изобретения5 Стенд для эталонирования светодальномера. содержащий узел для установкиприбора, узел для задания эталонного расстояния и световозвращатель, установленные наоптическойоси,отличающийся10 тем, что, с целью расширения диапазона.световозвращатель жестко связан с узломдля установки прибора, а узел для заданияэталонного расстояния выполнен в видедвух объективов, между которыми попарно15 расположены первый и второй, третий и четвертый сферические отражатели, оптическисопряженные между собой, и первый и второй плоские отражатели, расположенные вдвух взаимно ортогональных плоскостях,20 параллельных оптической оси, причем расстояние между парами сферических отражателей равно радиусу их кривизны, фокусыпервого и третьего сферических отражателей совмещены с первым плоским отража 25 телем, который установлен с возможностьюповорота вокруг оси, параллельной оптической оси, а фокусы второго и четвертогосферических отражателей совмещены с вторым плоским отражателем, который уста 30 новлен с возможностью поворота вокругоси, параллельной его плоскости и ортогональной оптической оси,
СмотретьЗаявка
4696178, 25.05.1989
ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ В-2539
ОВСЮЧЕНКО ЮРИЙ ВИКТОРОВИЧ, РУБИНШТЕЙН БОРИС ИЗРАИЛЕВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01C 3/00
Метки: светодальномера, стенд, эталонирования
Опубликовано: 23.12.1991
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-1700361-stend-dlya-ehtalonirovaniya-svetodalnomera.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Стенд для эталонирования светодальномера</a>
Предыдущий патент: Устройство для контроля взаимного углового положения двух объектов
Следующий патент: Устройство для дозирования сыпучих материалов в тару в потоке
Случайный патент: Способ умягчения воды