Способ определения качества магнитных дефектоскопических порошков

(19) (11) 4(51) 0 01 Я 27/84 ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ;К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССРПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ(7 1) Научно-исследовательский институт интроскопии и Институт радиотехники и электроники АН СССР(56) 1, Авторское свидетельство СССРВ 518806, кл. С 01 Б 27/84, 1977.2. Авторское свидетельство СССРВ 879435, кл. С 01 Ч 27/84, 1981(54)(57) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КАЧЕСТВАМАГНИТНЫХ ДЕфЕКТОСКОПИЧЕСКИХ ПОРОШКОВ, заключающийся в том, что получают распределение частиц магнитного . порошка в виде штрихов, визуализируют полученное распределение порошка, сравнивают полученное изображение с эталонным и по результатам сравнения судят о качестве испытуемого порошка, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью упрощения способа и повышения его достоверности, для получения распределения частиц используют многослойный образец, выполненный в виде последовательно располо.женных на плоской подложке слоя термоплавкой смолы, слоя магнитного порошка и штриховой фотографической миры, размещают образец в одйородном постоянном магнитном поле, перпендикулярном его поверхности, и со стороны штриховой фотографической миры облучают импульсным световым потокомэнергии.Изобретение относится к неразрушающему контролю, а именно к магнитопорошковой дефектоскопии ферромагнитных деталей, и может быть использовано во всех областях машиностроения для проверки качества применяемых при дефектоскопии магнитныхпорошков.Известен способ проверки качества магнитных порошков, заключающийся в том, что образец, имеющийдефект .или его имитацию, намагничивают, на его поверхность наносятмагнитный порошок, под действиеммагнитного поля образуется рисунок 15осевшего порошка, визуалМируюткартину его распределения и сравнивают полученное изображение и общуюдлину дефектов испытуемого порошкас эталонным, а по результатам сравнения судят о качестве порошка 17.Недостатком этого способа является низкая достоверность контроля,обусловленная тем, что рисунок распределения порошка на дефектах наотдельных участках получается размытым, снижая точность и однозначностьизмерения длины выявленных дефектов.Наиболее близким к изобретениюпо технической сущности является З 0способ определения качества магнитных дефектоскопических порошков,заключающийся в том, что получаютраспределение частиц магнитного порошка в виде штрихов, визуализируют 35полученное распределение порошка,сравнивают полученное изображениес эталонным и по результатам сравнения судят о качестве испытуемогОпорошка. Визуализация распределения 40магнитного порошка на штрихах, имитирующих магнитные поля дефектов,производится путем фотографированияраспределения порошка на ленте и измерения оптической плотности почернения фотографического изображенй Сг 3,Недостатками этого способа являются сложность его осуществленияи низкая достоверность контроля качества порошков, обусловленная тем,что степень оценки зависит от качества записи имитаторов дефектов намагнитную ленту, кроме того, запись непозволяет определить предельную Яширину дефектов с помощью контролируемого порошка, а нанесение ее намагнитную ленту, фотографирование и обработка фотоматериалов включает.в себя трудоемкие операции,Целью изобретения является упрощение способа и повышение его достоверности.Цель достигается тем, что согласноспособу определения качества магнитных дефектоскопических порошков,заключающемуся в том, что получаютраспределение частиц магнитногопорошка в виде штрихов, визуализируют полученное распределение порошка, сравнивают полученное.изображение с эталонным и по результатамсравнения судят о качестве испытуемого порошка, для получения распределения частиц используют многослойный образец, выполненный в виде последовательно расположенных на плоской подложке слоя термоплавкойсмолы, слоя магнитного порошка иштриховой фотографической миры,размещают образец в однородномпостоянном магнитном поле, перпендикулярном его поверхности, и со стороны штриховой фотографической мирыоблучают импульсным световым потоком1 энергии,На фиг.приведена схема осуществления способа определения качества магнитных порошков; нафиг, 2 - схема получения изображения миры с помощью частиц магнитногопорошка, проникающих в расплавленныйпод действием импульсного облученияслой термоплавкой смолы; на фиг. 3 -схема получения изображения стандартной фотографической миры с помощьюиспытуемого порошка; на фиг. 4 -изображение штриховой фотографическоймиры, полученное в чувствительномслое с помощью частиц магнитного порошка.Образец для осуществления способасодержит контролируемый магнитныйпорошок 1, слой 2 термоплавкой смолы,на который он напыляется и состоящий, например,из канифоли (907) ипарафина (103), подложку 3, изготовленную из прозрачной или белой лавсановой пленки или оптической слюды,на которую наносится слой 2 термоплавкой смолы, штриховую фотографическую миру 4, накладываемую на поверхность термоплавкой смолы 2, покрытуюконтролируемым порошком 1, обеспечивая при этом плотный контакт мирыс порошком,Полученный многослойный образец помещают в поле сильного магнита 5 перпендикулярно его силовым линиям и со стороны миры облучают импульсным потоком энергии источника 6, в ка честве которого может быть использована, например, стандартная импульсная электронная фотографическая лампа.Способ осуществляется следующим образом.Многослойный образец помещают в магнитное поле сильного постоянного магнита 5 перпендикулярно его силовым линиям и со стороны миры облучают импульсной световой энергией, затем снимают миру с поверх-.ности чувствительного слоя и сравнивают полученное позитивное изображение миры на образце с эталонным, где использован высококачественный магнитный порошок,До облучения импульсным потоком энергии частицы магнитного порошка 1 25 образуют на поверхности твердой термоплавкой смолы 2 сплошной слой, которые не пропускает света. Во время облучения смола 2 расплавляется, в результате чего в нее проникают 30 . частицы магнитного порошка 1, выстраиваясь при этом в магнитныецепочки (столбики), направленные по силовым линиям магнитного поля постоянного магнита 5 (фиг. 2).На фиг. 3 приведена структура двух участков чувствительного слоя на подложке 3, находящихся под мирой в разных условиях. Участок ц затемнен рисунком миры, не пропускающим потока энергии, в результате чего частицы магнитного порошка 1 лежат на твердой смоле 2 сплошным слоем. Участокоблучается импульсным потоком энергии, под действием которого смола 2 расплавляется, а частицы магнитного порошка 1 проникают в смолу и выстраиваются в цепочки по силовым линиям магнитного поля постоянного магнита.50 Оценка качества магнитных порошков производится путем сравнения разрешающей способности или контраст" ности позитивных изображений штриховой миры, полученных с помощью частиц контролируемого и эталонного по" рошков на поверхности термоплавкой смолы, визуально или путем построения частотно-контрастных характеристик.Для визуальной оценки качества магнитных порошков определяют величины разрешающих способностей позитивных изображений штриховой миры, полученных с помощью частиц контролируемого и эталонного порошков. С помощью порошка, принятого за эталон по совокупности дефектоскопических свойств, для каждого типа магнитных порошков устанавливают условные "границы качества" (фиг. 4). Оценку качества порошков производят путем сравнения изображений миры, полученных с помощью частиц контролируемого и эталонного порошков либо по величине разрешающей способности, либо путем сопоставления положения "границ качества".Способ позволяет производить объективную оценку качества магнитных дефектоскопических порошков визуально или путем построения частотно-контрастных характеристик с помощью простых средств, так как при его осуществлении исключаются операции нанесения записи на магнитную ленту, фотографирования с использованием традиционных фотоматериалов и обработка этих фотоматериалов, требующие сложного комплекса аппаратуры. При этом эвачительно (в 1 О раз) сокращается время, затрачиваемое на осуществление всего процесса контроля качества порошков.Использование штриховой фотографической миры позволяет ввести метрологическое обеспечение методов и средств оценки качества магнитных дефектоскопических порошков и стандартизировать свойства. контролируемых магнитных порошков.1163247 , Иилудьсный пощок знергии 11 11 иг.Г Часщииы ,магнцаног порошкаПоддожкаак 4/ иал ППП "Патент", г.уагород, ул,Проектная 099/44 Тирам 89 ВНИИПИ Государс по делам 13035; Москва, Ж-ЗПодпиенного комобретенийРаушская итета С и откры наб д